“No fundo, como propõe Thomas McCarthy (1991), a teoria crítica (a) desafia as noções de razão pura, demonstrando a sua mutação dependendo da cultura, da história e das dinâmicas de poder em que se encontra inserida, (b) rejeita a figura cartesiana de sujeito racional autônomo capaz de controlar o mundo, (c) não cai na tentação de criar fossos entre prática e teoria, (d) entende que o conhecimento não se encontra defasado do teste da existência. A teorização crítica desafia a tecnologia educativa a perceber-se nas intricadas dinâmicas iníquas de poder e hegemonia da sociedade capitalista” (PARASKEVA; OLIVEIRA, 2008, p. 9-10).

O texto acima apresenta pressupostos que orientam reflexões e práticas acerca da relação entre a teoria crítica e as tecnologias educativas. Nesse sentido, verifica-se que  

Os processos de preparação das amostras para a técnica de caracterização por Fluorescência de Raios X (FRX) são, normalmente, considerados como sendo relativamente fáceis porque a amostra pode ser submetida à análise em estado físico sólido como partícula única, na forma de pó ou na forma líquida. No entanto, é necessário realizar a preparação da amostra com muito cuidado, pois existem diferentes fatores ou condições que podem exercer influência sobre o resultado da análise. Dentro deste contexto de preparação de amostras para a técnica de caracterização de materiais por FRX, assinale a alternativa correta.

É correto afirmar que os principais componentes dos espectrômetros de raios x, são:

A luz visível (energia eletromagnética) emitida por uma fonte como o Sol ou uma lâmpada vibra em todas as direções, conforme ilustrado na figura abaixo. Quando a luz é tratada como uma onda oscilante de energia eletromagnética, a direção de propagação descreve a direção na qual a frente de onda está se movendo no espaço. A direção da vibração descreve como a onda está oscilando (aqui, para cima e para baixo no plano do papel). Quando a luz não é polarizada, a direção de propagação é constante, mas apenas um plano de vibração é detectado. Neste contexto, dentre as sentenças apresentadas a seguir, assinale a única alternativa correta.

Se um pesquisador precisa caracterizar suas amostras de estudo, constituídas de material metálico com retículo cristalino CFC, tipo aço inoxidável austenítico, a fim de investigar a possibilidade da presença de defeitos de empilhamento; qual deve ser a recomendação do técnico do laboratório de caracterização de materiais acerca da técnica que satisfará, de forma assertiva, a necessidade deste pesquisador?

São consideradas limitações da técnica de caracterização por microscopia eletrônica de varredura:

Foi realizado um ensaio de caracterização por difração de raios X em uma amostra constituída por óxido de cério puro, na execução da qual foi empregada radiação monocromática com comprimento de onda igual a 0,1542 nanômetros. Como parte dos resultados obtidos neste ensaio, foram identificados os picos de difração que constam no padrão (difratograma) apresentado a seguir. Dentre as alternativas a seguir, sinalize a que apresenta, corretamente, os valores das distâncias interplanares relacionadas, respectivamente, aos planos cujos índices de Miller estão marcados na figura.

Para planos paralelos em um mesmo retículo cristalino, as condições necessárias para que ocorra a difração de raios X vão depender da diferença de caminho percorrida pelos raios X e do comprimento de onda da radiação incidente. Tal condição é relacionada, matematicamente, na(o):

A figura exibida a seguir é a representação gráfica do resultado de um ensaio de difração de raios X realizado em uma amostra de um material desconhecido. Com base na análise deste perfil gráfico representativo de padrão de difração, é possível afirmar que o material em questão pode ser classificado como:

A fim de atender a uma aplicação industrial especíica, um determinado trabalho de pesquisaprecisa caracterizar uma amostra de Pedra Cariri para ideniicar e quaniicar a(s) fase(s)responsável(s) pela consituição da coniguração estrutural deste material rochoso, bem comoideniicar o sistema cristalino ao qual a(s) fase(s) pertence(em). Neste caso, deve-se recomendarqual técnica de caracterização aos responsáveis por este trabalho de pesquisa?

Foi solicitada a caracterização estrutural completa de duas amostras, inicialmente apontadas como sendo constituídas por alumina de alta pureza. Ao término da execução das caracterizações, os resultados obtidos não se mostraram condizentes com as informações inicialmente fornecidas. Os perfis gráficos obtidos como resultado das caracterizações em questão estão exibidos a seguir.

É incorreto afirmar, como conclusão, da interpretação destes resultados que:

Considere o processo de produção de raios X e assinale a alternativa correta.

Os raios X com energias que variam de cerca de 100 eV a 10 × 10⁶ eV são classificados como ondas eletromagnéticas, que diferem das ondas de rádio, luz e raios gama apenas em comprimento de onda e energia. De acordo com a teoria quântica, a energia eletromagnética das ondas de raios X pode ser tratada como partículas chamadas de:

É sabido que a técnica de caracterização por microscopia eletrônica de varredura (MEV) trata-se de uma técnica de análise da superfície da amostra, também conhecida como análise topográfica. A imagem ilustrada a seguir representa uma fotomicrografia que foi obtida como resultado de uma análise de MEV realizada em uma amostra de α-Al₂O₃, na forma de pó, com dimensão média de tamanho de partícula abaixo de 100 nm. Neste contexto, assinale a alternativa que apresenta a técnica recomendada, de acordo com a literatura, para a preparação de uma amostra desta natureza.

Na ilustração a seguir está exibido um esquema básico representativo de um equipamento empregado na execução de uma importante técnica de caracterização de materiais. Nem todos os itens e/ou dispositivos que fazem parte da arquitetura física do equipamento em questão estão descritos nesta ilustração. De acordo com a ilustração apresentada, como este equipamento deve ser classificado?

Considere uma técnica de caracterização de materiais, na qual a amostra sob investigação precisa ser excitada por partículas como elétrons, prótons ou íons produzidos em aceleradores de partículas ou ondas eletromagnéticas; o processo mais utilizado para essa finalidade é o tubo de raios X. Para facilitar a identificação da técnica é informado, ainda, que o princípio da mesma se baseia na medição das intensidades dos raios X característicos emitidos pelos elementos que constituem a amostra em análise. Estas informações fazem referência à qual técnica de caracterização?

Moléculas diatômicas homonucleares, como O₂, N₂ e Cl₂, não absorvem no infravermelho porque:

Para saber mais informações sobre a estabilidade do ácido ascórbico, um analista estudou aestrutura desse composto na região espectral do infravermelho próximo. Nesse caso, qual ointervalo de número de onda mais provável onde os picos foram observados?

O espectro de infravermelho do n-hexanal revelou um pico de absorção intenso relacionado à vibração de estiramento da carbonila. Considerando a constante de força da ligação C=O como sendo 1,13 × 10³ N m⁻¹, e conhecendo as massas atômicas do carbono (12 × 10⁻³ kg mol⁻¹) e oxigênio (16 × 10⁻³ kg mol⁻¹), qual o número de onda aproximado onde se observa o pico do estiramento mencionado? Dado: √1,03 × 10²⁹ = 3,21 × 10¹⁴.

Um composto orgânico de fórmula molecular C₅H₁₀O foi analisado por espectroscopia de infravermelho e o resultado obtido está ilustrado a seguir:

Qual das seguintes moléculas apresenta uma melhor correlação com o espectro apresentado?