Questões de Concurso para FGV

Q3760984

Ano: 2025 Banca: FGV Órgão: CPRM Prova: FGV - 2025 - CPRM - Analista em Geociências - Engenharia Eletrônica |

Q3760984 Engenharia Eletrônica

Em um laboratório de espectrometria de massa (ICP-MS), os procedimentos de controle de EMC/EMI tem como objetivo reduzir emissões (o que seus equipamentos irradiam) e aumentar a imunidade (o quanto eles resistem a perturbações).
Uma destas práticas consiste em

A

ajustar o circuito de casamento para garantir que o gerador de RF esteja descasado (alta potência refletida) da bobina do gerador de plasma.

B

instalar bancadas e tapetes dissipativos de borracha ESD.

C

utilizar transformador de isolamento para isolar bombas, chillers dos demais equipamentos e módulos.

D

realizar ensaios HBM (Human Body Model) de contato em carcaças metálicas e outras partes condutivas dos equipamentos.

E

manter cabos de dados bem organizados e com folgas enroladas em loops de raios de 30 cm localizados próximos aos conectores.

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Q3760983

Ano: 2025 Banca: FGV Órgão: CPRM Prova: FGV - 2025 - CPRM - Analista em Geociências - Engenharia Eletrônica |

Q3760983 Engenharia Eletrônica

Você precisa obter imagem topográfica de um polímero isolante, sem metalização, preservando detalhes finos e evitando carregamento, ou seja, o acúmulo de carga elétrica na amostra.
O conjunto de condições mais apropriado nesse contexto é

A

alto vácuo, EHT (Electron High Tension) a 20 kV, corrente de sonda alta, WD longo (entre 15 e 25mm), detector ET (Everhart–Thornley) regulado a +10 kV.

B

BSE (Backscattered Electrons) com tensão nominal de 20 kV em alto vácuo.

C

modo VP/LV (pressão variável/baixo vácuo), baixa tensão de aceleração (1–3 kV), corrente de sonda baixa, WD curto (entre 2 e 8 mm), detector gaseado de SE, com integração por quadros para melhorar a relação S/N.

D

aumentar dwell por pixel sem alterar corrente de sonda nem vácuo; o tempo extra elimina artefatos de carregamento.

E

operar em alto vácuo com beam deceleration (aplicar bias negativo de –2 kV no estágio mantendo EHT de 15 kV), usando detecção SE in-lens e WD curto (entre 2 e 8 mm); esse bias mitiga o carregamento.

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Q3760982

Ano: 2025 Banca: FGV Órgão: CPRM Prova: FGV - 2025 - CPRM - Analista em Geociências - Engenharia Eletrônica |

Q3760982 Geologia

Um laboratório pretende medir variações sutis (≤0,05 ‰) em razões isotópicas de elementos metálicos (por exemplo., ¹⁴³Nd/¹⁴⁴Nd e ⁸⁷Sr/⁸⁶Sr) para estudos geocronológicos.
Assinale a opção que descreve corretamente a escolha do sistema.

A

ICP-MS (quadrupolo, com KED - Kinetic Energy Discrimination / DRC - Dynamic Reaction Cell e SEM – Secondary Electron multiplier), varrendo massas sequencialmente; como a célula remove interferências, a precisão sub-‰ é inerente e dispensa correção de viés de massa.

B

ICP-TOF-MS com aquisição simultânea em todo o espectro; por registrar tudo de uma vez, atinge melhor precisão de razões isotópicas do que sistemas multicoletor.

C

MC-ICP-MS com multicoletas em Faraday e contadores para isótopos raros, usando bracketing padrão-amostra e correção de viés de massa; preferir introdução desolvatada e separação química para minimizar interferências (por exemplo, ⁸⁷Rb em ⁸⁷Sr).

D

LC-MS/MS (ESI - Electrospray Ionization) com monitoramento por transições MRM (Multiple Reaction Monitoring); por ser muito sensível, é mais indicado para metrologia isotópica de elementos inorgânicos do que MC-ICP-MS.

E

ICP-MS (quadrupolo) com detector Faraday único; a presença do Faraday elimina a necessidade de correções e obtém-se melhor precisão quando comparado ao MC-ICP-MS.

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Q3760981

Ano: 2025 Banca: FGV Órgão: CPRM Prova: FGV - 2025 - CPRM - Analista em Geociências - Engenharia Eletrônica |

Q3760981 Engenharia Eletrônica

Após uma limpeza interna no rack de equipamentos do MEV, os mapas EDS (Energy Dispersive X-ray Spectroscopy) passaram a ficar deslocados em relação à imagem SE (Secondary electron) e, às vezes, cintilam durante a varredura. A imagem SE está estável, WD (working distance) está no padrão e o EDS exibe dead time (DT) dentro dos padrões. Ajustes de foco e astigmatismo não resolvem.
O procedimento que corrige este problema de integração é

A

reduzir a corrente de sonda para abaixar a taxa de contagem do EDS.

B

desabilitar o janelamento por pixel e adquirir o EDS em modo livre.

C

aumentar o dwell por pixel até o deslocamento “sumir”.

D

verificar a conexão do cabeamento de sincronismo entre gerador de varredura e o EDS.

E

recalibrar a energia do EDS entre as posições zero e ganho e repetir o mapeamento.

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Q3760980

Ano: 2025 Banca: FGV Órgão: CPRM Prova: FGV - 2025 - CPRM - Analista em Geociências - Engenharia Eletrônica |

Q3760980 Engenharia Eletrônica

Durante uma aquisição quando a tensão de aceleração dos elétrons (EHT – Electron High Tension) é igual a 10 kV, o MEV emite o alarme “ET HV ARC” e você percebe no ambiente odor de ozônio e de queimado. O vácuo da coluna está normal e não há fumaça visível.
De acordo com o manual do equipamento, o alarme “ET HV arc” está relacionado a evento de arco de alta tensão (HV) no detector Everhart–Thornley (ET) do MEV. Ou seja, houve uma descarga elétrica no circuito de HV do ET suficiente para o sistema detectar e exibir o alarme.

O procedimento a ser adotado, conforme as boas práticas de segurança nesse contexto é

A

desabilitar a EHT e a HV do ET, manter as bombas de vácuo ligadas, aguardar bleed-down das fontes de tensão e registrar logs/alarmes.

B

reduzir o ganho do tubo fotomultiplicador (PMT) do ET, seguir a aquisição, registrar logs/alarmes e agendar manutenção.

C

ventilar a câmara principal e abrir a porta da coluna do MEV para verificar se a origem da pane é interna ou em outros módulos externos e registrar logs/alarmes.

D

desligar a turbobomba para evitar danos, mantendo EHT ligado para desionizar a coluna do MEV.

E

resetar o alarme e alternar a EHT do modo ligado e desligado para verificar se o alarme é exibido novamente.

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Q3760979

Ano: 2025 Banca: FGV Órgão: CPRM Prova: FGV - 2025 - CPRM - Analista em Geociências - Engenharia Eletrônica |

Q3760979 Engenharia Eletrônica

Deseja-se integrar um manômetro digital a um sistema de aquisição e controle. O manômetro digital relaciona a pressão medida a um nível de tensão que é digitalizado e enviado para o sistema de aquisição. A conexão entre o sensor e o computador é feito por RS-485.
Sabendo-se que o conversor analógico digital possui uma resolução de 8 bits para digitalizar a tensão, quando a taxa de transmissão máxima é igual a 153600 bps, o número de medidas enviadas por segundo é

A

38400.

B

19200.

C

9600.

D

4800.

E

2400.

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Q3760978

Ano: 2025 Banca: FGV Órgão: CPRM Prova: FGV - 2025 - CPRM - Analista em Geociências - Engenharia Eletrônica |

Q3760978 Engenharia Eletrônica

Calibração garante rastreabilidade, repetibilidade e incerteza conhecida. Em laboratório, pequenos desvios em eletrônica, temperatura ou ótica propagam-se para resultados e podem mascarar a deriva de instrumentos, ruído ou alinhamento. Em plataformas espectrométricas, por exemplo, só uma pequena parcela (de 1 a 2%) do aerossol realmente alcança a região analítica, o que torna qualquer erro a montante ainda mais crítico.

Deseja-se realizar um ensaio em uma fonte de alimentação DC com o objetivo de quantificar a variação da tensão de saída em função de variações da tensão de entrada (rede ou DC de alimentação).

Este ensaio é conhecido como

A

resposta transitória a degrau de carga.

B

ondulação e ruído (Ripple and Noise).

C

regulação de carga.

D

regulação de linha.

E

regulação de fase.

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Q3760977

Ano: 2025 Banca: FGV Órgão: CPRM Prova: FGV - 2025 - CPRM - Analista em Geociências - Engenharia Eletrônica |

Q3760977 Engenharia Eletrônica

Em ICP-MS, o sistema de automação e controle é o conjunto integrado de sensores, atuadores, fontes (RF/HV), lógicas de intertravamento, malhas de controle e software (HMI/SCADA/LIMS) que garante segurança, ignição e estabilidade do plasma, condições de vácuo, transporte de amostra, sintonias, aquisição sincronizada e rastreabilidade metrológica.
Entre estes sistemas, está o sistema de casamento automático do gerador de RF à bobina de plasma.
O sistema de controle RF por potência refletida utiliza o Módulo 1 para amostrar, em tempo real, uma fração da potência do sinal direto (, medida pelo Sensor 2) e uma fração da potência do sinal refletido (_, Sensor 1) na linha entre o gerador e a rede de casamento. Então, calcula-se o coeficiente de reflexão e VSWR e um algoritmo aciona os atuadores do circuito de casamento (capacitores a vácuo/indutor variável) para minimizar e manter a carga efetiva próxima de 50 . Assim, maximiza-se a transferência de potência e estabiliza-se o plasma.
q_62.png (232×294)

O módulo 1 é um

A

girador.

B

acoplador direcional.

C

circulador.

D

misturador.

E

atenuador.

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Q3760976

Ano: 2025 Banca: FGV Órgão: CPRM Prova: FGV - 2025 - CPRM - Analista em Geociências - Engenharia Eletrônica |

Q3760976 Física

Um SEM (Scanning electron microscopy) necessita de diferentes tipos de alimentação.
Um dos componentes que são alimentados por fontes de alta corrente é o

A

WDS - Wavelength Dispersive X-ray Spectrometry.

B

Estágio de aceleração do feixe de elétrons.

C

Bomba de íons (UHV – ultra high vacuum).

D

Lente objetiva eletromagnética.

E

FEG – Field emission gun.

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Q3760975

Ano: 2025 Banca: FGV Órgão: CPRM Prova: FGV - 2025 - CPRM - Analista em Geociências - Engenharia Eletrônica |

Q3760975 Engenharia Eletrônica

Um ICP-MS necessita de diferentes tipos de alimentação.

Um dos componentes alimentados por fontes de alta tensão é

A

Detector do tipo SEM – secondary electron multiplier.

B

Skimmer.

C

FT-ICR (Fourier Transform Ion Cyclotron Resonance).

D

circuito de casamento do gerador de RF.

E

nebulizador.

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Q3760974

Ano: 2025 Banca: FGV Órgão: CPRM Prova: FGV - 2025 - CPRM - Analista em Geociências - Engenharia Eletrônica |

Q3760974 Engenharia Eletrônica

No contexto de comunicação entre o computador e equipamentos como ICP-MS e SEM, a interface que oferece a maior taxa de dados bruta nominal é

A

Fast Ethernet.

B

RS-232.

C

USB 3.2.

D

GPIB (IEEE-488).

E

RS-485.

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Q3760973

Ano: 2025 Banca: FGV Órgão: CPRM Prova: FGV - 2025 - CPRM - Analista em Geociências - Engenharia Eletrônica |

Q3760973 Engenharia Eletrônica

Um laboratório precisa minimizar o MTTR do seu SEM (microscópio eletrônico de varredura). Deseja-se manter em estoque apenas itens de pronta reposição (line-replaceable, troca menor do que 2 horas).
Assinale a opção que apresenta a escolha adequada de componentes, nesse contexto.

A

Emissor compatível com o gun do SEM (filamento W/LaB₆); Jogo de aperturas (condensadora/objetiva) com parafusos/assentos; Conjunto do detector SE (Everhart– Thornley): cintilador + light guide sobressalentes; Kit da foreline: óleo ( bomba rotativa) e filtro de névoa; Vedantes/Orings (porta, load-lock) e graxa UHV.

B

Bobinas/lentes (objetiva/condensadoras); Turbobomba do alto vácuo; controlador de turbo; Emissor compatível com o gun do SEM (filamento W/LaB₆); Módulo SDD (EDS), préamplificador; EBSD (câmera/estágio).

C

Módulo SDD (EDS), pré-amplificador; EBSD (câmera/estágio); Conjunto do detector SE (Everhart–Thornley): cintilador + light guide sobressalentes; Vedantes/O-rings (porta, load-lock) e graxa UHV.

D

Turbobomba do alto vácuo; controlador de turbo; Conjunto do detector SE (Everhart–Thornley): cintilador + light guide sobressalentes; Jogo de aperturas (condensadora/objetiva) com parafusos/assentos.

E

Fontes DC internas; Kit da foreline: óleo ( bomba rotativa) e filtro de névoa; Vedantes/O-rings (porta, load-lock) e graxa UHV; Jogo de aperturas (condensadora/objetiva) com parafusos/assentos.

Q3760972

Ano: 2025 Banca: FGV Órgão: CPRM Prova: FGV - 2025 - CPRM - Analista em Geociências - Engenharia Eletrônica |

Q3760972 Engenharia Eletrônica

Um laboratório precisa minimizar o MTTR dos seus ICP-MS (quadrupolo) e LC-MS/MS. Deseja-se manter em estoque apenas itens de pronta reposição (line-replaceable, troca menor do que 2 horas).
Assinale a opção que apresenta a escolha adequada de componentes, nesse contexto.

A

Quadrupolo (conjunto de barras, pré-filtro); Tocha de quartzo e injetor; Nebulizador e tubos da bomba peristáltica; Kit de tip seals (óleo + filtro de névoa) da bomba scroll/rotativa; Nebulizador e tubos da bomba peristáltica.

B

Conjunto SEM (Secondary electron multiplier)/detector de Faraday; gerador de RF; Kit de tip seals (óleo + filtro de névoa) da bomba scroll/rotativa; Nebulizador e tubos da bomba peristáltica.

C

Padrões multi-elementares e padrão interno; gerador de RF; Quadrupolo (conjunto de barras, pré-filtro); Tocha de quartzo e injetor; Kit de tip seals (óleo + filtro de névoa) da bomba scroll/rotativa.

D

Bombas turbomoleculares; Conjunto de cones (sampler + skimmer) com gaxetas; gerador de RF; Padrões multielementares e padrão interno; Nebulizador e tubos da bomba peristáltica.

E

Conjunto de cones (sampler + skimmer) com gaxetas; Kit de tip seals (óleo + filtro de névoa) da bomba scroll/rotativa; Tocha de quartzo e injetor; Nebulizador e tubos da bomba peristáltica.

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Q3760971

Ano: 2025 Banca: FGV Órgão: CPRM Prova: FGV - 2025 - CPRM - Analista em Geociências - Engenharia Eletrônica |

Q3760971 Engenharia Eletrônica

Um espectrômetro de massas utiliza diversos tipos de sensores de pressão, que monitoram linhas de vácuo, válvulas e pressão, com faixas de uso e aplicações típicas.
O sensor de pressão mais indicado para a região de interface, pois opera entre 10-6 e 103 mbar e não depende do tipo de gás, é o

A

manômetro de capacitância (Baratron).

B

Pirani.

C

Catodo frio (Penning / Inverted magnetron).

D

Spinning Rotor Gauge (SRG).

E

Catodo quente (Bayard–Alpert / IGA).

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Q3760970

Ano: 2025 Banca: FGV Órgão: CPRM Prova: FGV - 2025 - CPRM - Analista em Geociências - Engenharia Eletrônica |

Q3760970 Engenharia Eletrônica

A qualidade da imagem obtida por um microscópio eletrônico está diretamente relacionada à relação sinal ruído (S/N). Quanto maior a S/N, melhor a nitidez da imagem.
Alguns procedimentos aumentam a relação S/N, entre eles

A

aumentar a taxa de varredura (scan rate) do feixe de elétrons na amostra.

B

aumentar a distância de trabalho (WD - Working distance), aumentando assim a largura do spot.

C

substituir a fonte de elétrons de tungstênio (W) por uma FEG (Field Emission Gun).

D

ajustar o ganho eletrônico do detector no máximo.

E

não utilizar frame averaging.

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Q3760969

Ano: 2025 Banca: FGV Órgão: CPRM Prova: FGV - 2025 - CPRM - Analista em Geociências - Engenharia Eletrônica |

Q3760969 Engenharia Eletrônica

Quando o feixe de elétrons em um microscópio eletrônico não possui uma seção reta elíptica ao atingir a amostra, observa-se que a nitidez muda ao girar a amostra/imagem.
Para corrigir esta distorção da imagem deve-se

A

alterar a abertura do diafragma da objetiva.

B

ajustar o estigmador nos eixos X e Y.

C

ajustar o foco da lente objetiva.

D

ajustar o foco da lente condensadora.

E

substituir a fonte de elétrons.

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Q3760968

Ano: 2025 Banca: FGV Órgão: CPRM Prova: FGV - 2025 - CPRM - Analista em Geociências - Engenharia Eletrônica |

Q3760968 Engenharia Eletrônica

Deseja-se realizar a análise de microtexturas em grãos de feldspato para interpretar história de transporte e diagênese. Para isso, deseja-se obter uma imagem com o microscópio eletrônico.
O detector mais indicado para esta aplicação é

A

SE — Secondary Electrons.

B

BSE — Backscattered Electrons.

C

EDS — Energy Dispersive X-ray Spectrometry.

D

WDS — Wavelength Dispersive X-ray Spectrometry.

E

CL – Cathodoluminescence.

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Q3760967

Ano: 2025 Banca: FGV Órgão: CPRM Prova: FGV - 2025 - CPRM - Analista em Geociências - Engenharia Eletrônica |

Q3760967 Física

Em um microscópio eletrônico, o feixe de elétrons percorre diversos componentes antes de se chocar com a amostra.
Esta sequência corresponde a

A

lente objetiva → Diafragma da objetiva →lente de condensação.

B

lente objetiva → lente de condensação → diafragma da objetiva.

C

lente de condensação → lente objetiva → diafragma da objetiva.

D

lente de condensação → diafragma da objetiva → lente objetiva.

E

diafragma da objetiva → lente objetiva → lente de condensação.

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Q3760966

Ano: 2025 Banca: FGV Órgão: CPRM Prova: FGV - 2025 - CPRM - Analista em Geociências - Engenharia Eletrônica |

Q3760966 Engenharia Eletrônica

A curva característica de um detector não-paralisável, quando é q_51 1.png (31×24)

A

B

C

D

E

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Q3760965

Ano: 2025 Banca: FGV Órgão: CPRM Prova: FGV - 2025 - CPRM - Analista em Geociências - Engenharia Eletrônica |

Q3760965 Engenharia Eletrônica

Texto associado

Utilize as informações a seguir para responder às próximas 3 (três) questões.

Em um multiplicador de dínodos discretos (Secondary Electron Multiplier), o íon se choca em um dínodo de conversão e libera elétrons secundários que são amplificados em vários estágios de dínodos até gerar um pulso detectável na saída do detector.

Este tipo de detector é utilizado em ICP-MS com analisador de massas por quadrupolo e realizam medidas chamadas de contagem de pulsos.

Durante a realização destas medidas, após o detector registrar um pulso durante a detecção de um evento, ocorre um curto intervalo de recuperação conhecido por tempo morto (dead time, ), sendo o reflexo do limite de velocidade do circuito de detecção. Durante este intervalo de tempo, o sistema fica temporariamente indisponível e qualquer evento não será contado ou irá distorcer a medida.

Considere o modelo não-paralisável para descrever a taxa de eventos observados R (contagens por segundo - cps) em função da taxa real de eventos r (cps) e o dead time (s):