Questões de Concurso Sobre eletrônica
Foram encontradas 2.182 questões
Ano: 2024
Banca:
IV - UFG
Órgão:
IF-SE
Prova:
IV - UFG - 2024 - IF-SE - Professor EBTT - Eletrônica |
Q2573776
Eletrônica
Observe a figura a seguir.
Elaborado pelo(a) autor(a).
Qual é a letra que representa a forma de onda de saída V0
do circuito da figura apresentada?
Ano: 2024
Banca:
IV - UFG
Órgão:
IF-SE
Prova:
IV - UFG - 2024 - IF-SE - Professor EBTT - Eletrônica |
Q2573775
Eletrônica
Observe o circuito da figura a seguir.
Elaborado pelo(a) autor(a).
Esse circuito é um filtro ativo do tipo
Ano: 2024
Banca:
IV - UFG
Órgão:
IF-SE
Prova:
IV - UFG - 2024 - IF-SE - Professor EBTT - Eletrônica |
Q2573774
Eletrônica
Observe o circuito da Figura 1 a seguir.
O circuito da figura 1 é alimentado por uma fonte de tensão senoidal vi(t) de 30V de pico, em 60Hz e contém um resistor de 5 kohms e dois diodos zener, D1 e D2, cujas tensões zener são, respectivamente, VZD1=10V e VZD2=20V. Admita que, quando polarizados diretamente, ambos Zener apresentem uma queda de tensão igual a VK=0,7V.
Agora observe a Figura 2 a seguir.
Com base nas informações acima, qual a letra contida na
Figura 2 que mostra a forma de onda da tensão de saída
vo(t) correta?
Ano: 2024
Banca:
IV - UFG
Órgão:
IF-SE
Prova:
IV - UFG - 2024 - IF-SE - Professor EBTT - Eletrônica |
Q2573773
Eletrônica
Observe o circuito da figura a seguir.
Elaborado pelo(a) autor(a).
Considere o circuito da figura onde são dados Hfe = 100;
Vcc = 18 V; RC = 2,2 kohms e RE = 1,1 kohms. Qual é o
valor do resistor RB que faz com que o transistor opere no
meio da reta de carga?
Ano: 2024
Banca:
IV - UFG
Órgão:
IF-SE
Prova:
IV - UFG - 2024 - IF-SE - Professor EBTT - Eletrônica |
Q2573772
Eletrônica
Observe o circuito da figura a seguir.
Elaborado pelo(a) autor(a).
Qual é o valor da corrente i?
Ano: 2024
Banca:
IV - UFG
Órgão:
IF-SE
Prova:
IV - UFG - 2024 - IF-SE - Professor EBTT - Eletrônica |
Q2573771
Eletrônica
Observe o circuito da figura a seguir.
Elaborado pelo(a) autor(a).
Considerando o circuito apresentado na figura em regime
permanente, a tensão no capacitor vC e a corrente no indutor
iL em corrente contínua são, respectivamente,
Ano: 2024
Banca:
IV - UFG
Órgão:
IF-SE
Prova:
IV - UFG - 2024 - IF-SE - Professor EBTT - Eletrônica |
Q2573770
Eletrônica
Observe o circuito da figura a seguir.
Elaborado pelo(a) autor(a).
Qual a resistência equivalente vista entre os terminais A e B?
Ano: 2024
Banca:
IV - UFG
Órgão:
IF-SE
Prova:
IV - UFG - 2024 - IF-SE - Professor EBTT - Eletrônica |
Q2573769
Eletrônica
Um capacitor de 200 nF ligado em série com um capacitor
de 300 nF resulta em uma capacitância equivalente igual a
Ano: 2024
Banca:
IV - UFG
Órgão:
IF-SE
Prova:
IV - UFG - 2024 - IF-SE - Professor EBTT - Eletrotécnica |
Q2573755
Eletrônica
Considere um conversor digital/analógico (D/A) de 6 bits,
com tensão de referência de 5 volts. Qual é o valor
aproximado da tensão de saída para uma entrada digital
100110?
Ano: 2024
Banca:
FUNDATEC
Órgão:
Prefeitura de Passo Fundo - RS
Prova:
FUNDATEC - 2024 - Prefeitura de Passo Fundo - RS - Eletrotécnico |
Q2538201
Eletrônica
É correto afirmar que, na região ativa, o transistor:
Ano: 2024
Banca:
FGV
Órgão:
INPE
Prova:
FGV - 2024 - INPE - Tecnologista Júnior I - Engenharia de Sistemas de Satélites - Radares de Abertura Sintética |
Q2523777
Eletrônica
Um dos maiores problemas da imagem SAR é a ocorrência do efeito
Speckle, o qual, normalmente, dificulta a interpretação visual e
requer técnicas para o processamento digital.
A respeito do Speckle e sua natureza, assinale a afirmativa correta.
A respeito do Speckle e sua natureza, assinale a afirmativa correta.
Ano: 2024
Banca:
FGV
Órgão:
INPE
Prova:
FGV - 2024 - INPE - Tecnologista Júnior I - Engenharia de Sistemas de Satélites - Radares de Abertura Sintética |
Q2523776
Eletrônica
A melhora da resolução espacial na direção do deslocamento da
antena constitui uma das principais vantagens do SAR. Considere um
SAR sobrevoando uma região.
Sobre a resolução espacial ao procurar identificar alvos dessa região, assinale a afirmativa correta.
Sobre a resolução espacial ao procurar identificar alvos dessa região, assinale a afirmativa correta.
Ano: 2024
Banca:
FGV
Órgão:
INPE
Prova:
FGV - 2024 - INPE - Tecnologista Júnior I - Engenharia de Sistemas de Satélites - Radares de Abertura Sintética |
Q2523775
Eletrônica
Considere uma região totalmente plana que foi levantada por um
SAR para geração de uma imagem. A resolução desse sistema SAR na
direção do alcance inclinado (slant range) é de 2 m.
Após o processamento para transformar a geometria dessa imagem do alcance inclinado (slant range) para o alcance no terreno (ground range), o valor da resolução espacial no terreno, em metros, em um ponto em que o ângulo de incidência é 30º é
Caso necessário, considere √2 = 1,41 e √3 = 1,73.
Após o processamento para transformar a geometria dessa imagem do alcance inclinado (slant range) para o alcance no terreno (ground range), o valor da resolução espacial no terreno, em metros, em um ponto em que o ângulo de incidência é 30º é
Caso necessário, considere √2 = 1,41 e √3 = 1,73.
Ano: 2024
Banca:
FGV
Órgão:
INPE
Prova:
FGV - 2024 - INPE - Tecnologista Pleno I - Desenvolvimento de Instrumentação Científica para Projetos Espaciais |
Q2523565
Eletrônica
O circuito a seguir é composto por um buffer tri-state, um inversor com saída em coletor aberto e um resistor.
A combinação de sinais que gera conflito em S é
Ano: 2024
Banca:
FGV
Órgão:
INPE
Prova:
FGV - 2024 - INPE - Tecnologista Pleno I - Desenvolvimento de Instrumentação Científica para Projetos Espaciais |
Q2523533
Eletrônica
Ao utilizar um osciloscópio para visualizar um sinal de tensão triangular em seu circuito, um engenheiro configurou o equipamento da seguinte forma: acoplamento AC, modo automático, escala vertical de 1V/div, escala horizontal de 1ms/div e atenuação da ponta de prova 10x.
Ao realizar a medida, ele se deparou com um sinal que não ficava fixo na tela do osciloscópio, ou seja, a forma de onda apresentada na tela não estava sincronizada, pois formas de onda sucessivas eram disparadas em pontos distintos da forma de onda.
Para corrigir esse problema o engenheiro deve
Ao realizar a medida, ele se deparou com um sinal que não ficava fixo na tela do osciloscópio, ou seja, a forma de onda apresentada na tela não estava sincronizada, pois formas de onda sucessivas eram disparadas em pontos distintos da forma de onda.
Para corrigir esse problema o engenheiro deve
Ano: 2024
Banca:
FGV
Órgão:
INPE
Prova:
FGV - 2024 - INPE - Tecnologista Júnior I - Desenvolvimento de Sistemas Eletrônicos Digitais |
Q2516053
Eletrônica
Parte do código em VHDL a seguir deve ser completada para
descrever um flip-flop JK a partir de um componente de um flip-flop
D.
Assinale a opção que completa corretamente a linha assinalada.
Assinale a opção que completa corretamente a linha assinalada.
Ano: 2024
Banca:
FGV
Órgão:
INPE
Prova:
FGV - 2024 - INPE - Tecnologista Júnior I - Desenvolvimento de Sistemas Eletrônicos Digitais |
Q2516050
Eletrônica
O diagrama em blocos de uma placa FPGA está mostrado na figura a
seguir.
Fonte: kit SP601 - Xilinx
Como pode nele ser observado, o recurso que não está garantidamente presente na placa é que ela
Fonte: kit SP601 - Xilinx
Como pode nele ser observado, o recurso que não está garantidamente presente na placa é que ela
Ano: 2024
Banca:
FGV
Órgão:
INPE
Prova:
FGV - 2024 - INPE - Tecnologista Júnior I - Desenvolvimento de Sistemas Eletrônicos Digitais |
Q2516049
Eletrônica
Uma determinada indústria resolveu adicionar a sua planta um
processo que realiza o tratamento térmico de peças metálicas, para
que estas obtenham propriedades mecânicas desejadas. Esse
processo consiste na inserção de uma peça dentro de um forno
elétrico, cuja temperatura é controlada por um controlador do tipo
PI, de função de transferência dada por
Após instalação do sistema, foi executado a função “autoajuste” presente no controlador PI, que estabeleceu um par de valores iniciais para as constantes Kp e Ti do respectivo controlador.
Em seguida, o sistema passou por um teste de validação, que consistiu na execução de um degrau na referência, com intuito de verificar como o sistema seguia a temperatura pré-determinada.
Ao analisar a resposta do sistema, verificou-se que a temperatura do forno possuía tempo de subida adequado, mas com tempo excessivo para eliminação de erro de estado estacionário.
Neste caso, para melhorar a resposta transitória desse sistema, se faz necessário
Após instalação do sistema, foi executado a função “autoajuste” presente no controlador PI, que estabeleceu um par de valores iniciais para as constantes Kp e Ti do respectivo controlador.
Em seguida, o sistema passou por um teste de validação, que consistiu na execução de um degrau na referência, com intuito de verificar como o sistema seguia a temperatura pré-determinada.
Ao analisar a resposta do sistema, verificou-se que a temperatura do forno possuía tempo de subida adequado, mas com tempo excessivo para eliminação de erro de estado estacionário.
Neste caso, para melhorar a resposta transitória desse sistema, se faz necessário
Ano: 2024
Banca:
FGV
Órgão:
INPE
Prova:
FGV - 2024 - INPE - Tecnologista Júnior I - Desenvolvimento de Sistemas Eletrônicos Digitais |
Q2516038
Eletrônica
A lógica da saída Y do multiplexador do circuito acima é
Ano: 2024
Banca:
FGV
Órgão:
INPE
Prova:
FGV - 2024 - INPE - Tecnologista Júnior I - Desenvolvimento de Sistemas Eletrônicos Digitais |
Q2516026
Eletrônica
Quatro módulos de uma mesma placa eletrônica foram testados e
os resultados estão listados a seguir.
a. Modulo 01; quantidade de falhas: 3; horas de teste: 2500.
b. Modulo 02; quantidade de falhas: 7; horas de teste: 2500.
c. Modulo 03; quantidade de falhas: 5; horas de teste: 2000.
d. Modulo 04; quantidade de falhas: 4; horas de teste: 1000.
Considere que cada placa é composta por um módulo de cada tipo, que as falhas de cada módulo são estatisticamente independentes e que os módulos da placa eletrônica podem ser representados como um sistema em série.
Com base nessas informações, estima-se que o MTTF (Tempo Médio até a Falha) e o MTBF (Média de Tempo Entre Falhas) da placa eletrônica sejam, respectivamente,
a. Modulo 01; quantidade de falhas: 3; horas de teste: 2500.
b. Modulo 02; quantidade de falhas: 7; horas de teste: 2500.
c. Modulo 03; quantidade de falhas: 5; horas de teste: 2000.
d. Modulo 04; quantidade de falhas: 4; horas de teste: 1000.
Considere que cada placa é composta por um módulo de cada tipo, que as falhas de cada módulo são estatisticamente independentes e que os módulos da placa eletrônica podem ser representados como um sistema em série.
Com base nessas informações, estima-se que o MTTF (Tempo Médio até a Falha) e o MTBF (Média de Tempo Entre Falhas) da placa eletrônica sejam, respectivamente,
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