Questões de Concurso Sobre eletrônica
Foram encontradas 2.104 questões
Ano: 2024
Banca:
IV - UFG
Órgão:
IF-SE
Prova:
IV - UFG - 2024 - IF-SE - Professor EBTT - Eletrônica |
Q2573774
Eletrônica
Observe o circuito da Figura 1 a seguir.
O circuito da figura 1 é alimentado por uma fonte de tensão senoidal vi(t) de 30V de pico, em 60Hz e contém um resistor de 5 kohms e dois diodos zener, D1 e D2, cujas tensões zener são, respectivamente, VZD1=10V e VZD2=20V. Admita que, quando polarizados diretamente, ambos Zener apresentem uma queda de tensão igual a VK=0,7V.
Agora observe a Figura 2 a seguir.
Com base nas informações acima, qual a letra contida na
Figura 2 que mostra a forma de onda da tensão de saída
vo(t) correta?
Ano: 2024
Banca:
IV - UFG
Órgão:
IF-SE
Prova:
IV - UFG - 2024 - IF-SE - Professor EBTT - Eletrônica |
Q2573773
Eletrônica
Observe o circuito da figura a seguir.
Elaborado pelo(a) autor(a).
Considere o circuito da figura onde são dados Hfe = 100;
Vcc = 18 V; RC = 2,2 kohms e RE = 1,1 kohms. Qual é o
valor do resistor RB que faz com que o transistor opere no
meio da reta de carga?
Ano: 2024
Banca:
IV - UFG
Órgão:
IF-SE
Prova:
IV - UFG - 2024 - IF-SE - Professor EBTT - Eletrônica |
Q2573772
Eletrônica
Observe o circuito da figura a seguir.
Elaborado pelo(a) autor(a).
Qual é o valor da corrente i?
Ano: 2024
Banca:
IV - UFG
Órgão:
IF-SE
Prova:
IV - UFG - 2024 - IF-SE - Professor EBTT - Eletrônica |
Q2573771
Eletrônica
Observe o circuito da figura a seguir.
Elaborado pelo(a) autor(a).
Considerando o circuito apresentado na figura em regime
permanente, a tensão no capacitor vC e a corrente no indutor
iL em corrente contínua são, respectivamente,
Ano: 2024
Banca:
IV - UFG
Órgão:
IF-SE
Prova:
IV - UFG - 2024 - IF-SE - Professor EBTT - Eletrônica |
Q2573770
Eletrônica
Observe o circuito da figura a seguir.
Elaborado pelo(a) autor(a).
Qual a resistência equivalente vista entre os terminais A e B?
Ano: 2024
Banca:
IV - UFG
Órgão:
IF-SE
Prova:
IV - UFG - 2024 - IF-SE - Professor EBTT - Eletrônica |
Q2573769
Eletrônica
Um capacitor de 200 nF ligado em série com um capacitor
de 300 nF resulta em uma capacitância equivalente igual a
Ano: 2024
Banca:
IV - UFG
Órgão:
IF-SE
Prova:
IV - UFG - 2024 - IF-SE - Professor EBTT - Eletrotécnica |
Q2573755
Eletrônica
Considere um conversor digital/analógico (D/A) de 6 bits,
com tensão de referência de 5 volts. Qual é o valor
aproximado da tensão de saída para uma entrada digital
100110?
Ano: 2024
Banca:
FUNDATEC
Órgão:
Prefeitura de Passo Fundo - RS
Prova:
FUNDATEC - 2024 - Prefeitura de Passo Fundo - RS - Eletrotécnico |
Q2538201
Eletrônica
É correto afirmar que, na região ativa, o transistor:
Ano: 2024
Banca:
FGV
Órgão:
INPE
Prova:
FGV - 2024 - INPE - Tecnologista Júnior I - Engenharia de Sistemas de Satélites - Radares de Abertura Sintética |
Q2523777
Eletrônica
Um dos maiores problemas da imagem SAR é a ocorrência do efeito
Speckle, o qual, normalmente, dificulta a interpretação visual e
requer técnicas para o processamento digital.
A respeito do Speckle e sua natureza, assinale a afirmativa correta.
A respeito do Speckle e sua natureza, assinale a afirmativa correta.
Ano: 2024
Banca:
FGV
Órgão:
INPE
Prova:
FGV - 2024 - INPE - Tecnologista Júnior I - Engenharia de Sistemas de Satélites - Radares de Abertura Sintética |
Q2523776
Eletrônica
A melhora da resolução espacial na direção do deslocamento da
antena constitui uma das principais vantagens do SAR. Considere um
SAR sobrevoando uma região.
Sobre a resolução espacial ao procurar identificar alvos dessa região, assinale a afirmativa correta.
Sobre a resolução espacial ao procurar identificar alvos dessa região, assinale a afirmativa correta.
Ano: 2024
Banca:
FGV
Órgão:
INPE
Prova:
FGV - 2024 - INPE - Tecnologista Júnior I - Engenharia de Sistemas de Satélites - Radares de Abertura Sintética |
Q2523775
Eletrônica
Considere uma região totalmente plana que foi levantada por um
SAR para geração de uma imagem. A resolução desse sistema SAR na
direção do alcance inclinado (slant range) é de 2 m.
Após o processamento para transformar a geometria dessa imagem do alcance inclinado (slant range) para o alcance no terreno (ground range), o valor da resolução espacial no terreno, em metros, em um ponto em que o ângulo de incidência é 30º é
Caso necessário, considere √2 = 1,41 e √3 = 1,73.
Após o processamento para transformar a geometria dessa imagem do alcance inclinado (slant range) para o alcance no terreno (ground range), o valor da resolução espacial no terreno, em metros, em um ponto em que o ângulo de incidência é 30º é
Caso necessário, considere √2 = 1,41 e √3 = 1,73.
Ano: 2024
Banca:
FGV
Órgão:
INPE
Prova:
FGV - 2024 - INPE - Tecnologista Pleno I - Desenvolvimento de Instrumentação Científica para Projetos Espaciais |
Q2523565
Eletrônica
O circuito a seguir é composto por um buffer tri-state, um inversor com saída em coletor aberto e um resistor.
A combinação de sinais que gera conflito em S é
Ano: 2024
Banca:
FGV
Órgão:
INPE
Prova:
FGV - 2024 - INPE - Tecnologista Pleno I - Desenvolvimento de Instrumentação Científica para Projetos Espaciais |
Q2523533
Eletrônica
Ao utilizar um osciloscópio para visualizar um sinal de tensão triangular em seu circuito, um engenheiro configurou o equipamento da seguinte forma: acoplamento AC, modo automático, escala vertical de 1V/div, escala horizontal de 1ms/div e atenuação da ponta de prova 10x.
Ao realizar a medida, ele se deparou com um sinal que não ficava fixo na tela do osciloscópio, ou seja, a forma de onda apresentada na tela não estava sincronizada, pois formas de onda sucessivas eram disparadas em pontos distintos da forma de onda.
Para corrigir esse problema o engenheiro deve
Ao realizar a medida, ele se deparou com um sinal que não ficava fixo na tela do osciloscópio, ou seja, a forma de onda apresentada na tela não estava sincronizada, pois formas de onda sucessivas eram disparadas em pontos distintos da forma de onda.
Para corrigir esse problema o engenheiro deve
Ano: 2024
Banca:
FGV
Órgão:
INPE
Prova:
FGV - 2024 - INPE - Tecnologista Júnior I - Desenvolvimento de Sistemas Eletrônicos Digitais |
Q2516053
Eletrônica
Parte do código em VHDL a seguir deve ser completada para
descrever um flip-flop JK a partir de um componente de um flip-flop
D.
Assinale a opção que completa corretamente a linha assinalada.
Assinale a opção que completa corretamente a linha assinalada.
Ano: 2024
Banca:
FGV
Órgão:
INPE
Prova:
FGV - 2024 - INPE - Tecnologista Júnior I - Desenvolvimento de Sistemas Eletrônicos Digitais |
Q2516050
Eletrônica
O diagrama em blocos de uma placa FPGA está mostrado na figura a
seguir.
Fonte: kit SP601 - Xilinx
Como pode nele ser observado, o recurso que não está garantidamente presente na placa é que ela
Fonte: kit SP601 - Xilinx
Como pode nele ser observado, o recurso que não está garantidamente presente na placa é que ela
Ano: 2024
Banca:
FGV
Órgão:
INPE
Prova:
FGV - 2024 - INPE - Tecnologista Júnior I - Desenvolvimento de Sistemas Eletrônicos Digitais |
Q2516049
Eletrônica
Uma determinada indústria resolveu adicionar a sua planta um
processo que realiza o tratamento térmico de peças metálicas, para
que estas obtenham propriedades mecânicas desejadas. Esse
processo consiste na inserção de uma peça dentro de um forno
elétrico, cuja temperatura é controlada por um controlador do tipo
PI, de função de transferência dada por
Após instalação do sistema, foi executado a função “autoajuste” presente no controlador PI, que estabeleceu um par de valores iniciais para as constantes Kp e Ti do respectivo controlador.
Em seguida, o sistema passou por um teste de validação, que consistiu na execução de um degrau na referência, com intuito de verificar como o sistema seguia a temperatura pré-determinada.
Ao analisar a resposta do sistema, verificou-se que a temperatura do forno possuía tempo de subida adequado, mas com tempo excessivo para eliminação de erro de estado estacionário.
Neste caso, para melhorar a resposta transitória desse sistema, se faz necessário
Após instalação do sistema, foi executado a função “autoajuste” presente no controlador PI, que estabeleceu um par de valores iniciais para as constantes Kp e Ti do respectivo controlador.
Em seguida, o sistema passou por um teste de validação, que consistiu na execução de um degrau na referência, com intuito de verificar como o sistema seguia a temperatura pré-determinada.
Ao analisar a resposta do sistema, verificou-se que a temperatura do forno possuía tempo de subida adequado, mas com tempo excessivo para eliminação de erro de estado estacionário.
Neste caso, para melhorar a resposta transitória desse sistema, se faz necessário
Ano: 2024
Banca:
FGV
Órgão:
INPE
Prova:
FGV - 2024 - INPE - Tecnologista Júnior I - Desenvolvimento de Sistemas Eletrônicos Digitais |
Q2516038
Eletrônica
A lógica da saída Y do multiplexador do circuito acima é
Ano: 2024
Banca:
FGV
Órgão:
INPE
Prova:
FGV - 2024 - INPE - Tecnologista Júnior I - Desenvolvimento de Sistemas Eletrônicos Digitais |
Q2516026
Eletrônica
Quatro módulos de uma mesma placa eletrônica foram testados e
os resultados estão listados a seguir.
a. Modulo 01; quantidade de falhas: 3; horas de teste: 2500.
b. Modulo 02; quantidade de falhas: 7; horas de teste: 2500.
c. Modulo 03; quantidade de falhas: 5; horas de teste: 2000.
d. Modulo 04; quantidade de falhas: 4; horas de teste: 1000.
Considere que cada placa é composta por um módulo de cada tipo, que as falhas de cada módulo são estatisticamente independentes e que os módulos da placa eletrônica podem ser representados como um sistema em série.
Com base nessas informações, estima-se que o MTTF (Tempo Médio até a Falha) e o MTBF (Média de Tempo Entre Falhas) da placa eletrônica sejam, respectivamente,
a. Modulo 01; quantidade de falhas: 3; horas de teste: 2500.
b. Modulo 02; quantidade de falhas: 7; horas de teste: 2500.
c. Modulo 03; quantidade de falhas: 5; horas de teste: 2000.
d. Modulo 04; quantidade de falhas: 4; horas de teste: 1000.
Considere que cada placa é composta por um módulo de cada tipo, que as falhas de cada módulo são estatisticamente independentes e que os módulos da placa eletrônica podem ser representados como um sistema em série.
Com base nessas informações, estima-se que o MTTF (Tempo Médio até a Falha) e o MTBF (Média de Tempo Entre Falhas) da placa eletrônica sejam, respectivamente,
Ano: 2024
Banca:
FGV
Órgão:
INPE
Prova:
FGV - 2024 - INPE - Tecnologista Júnior I - Desenvolvimento de Sistemas Eletrônicos Digitais |
Q2516025
Eletrônica
Para atender às normas de um projeto eletrônico, estão disponíveis
os seguintes resistores para compor o circuito:
a. Resistor 100Ω, tolerância 1%, 200ppm / ºC, encapsulamento 0603, potência: 200 mW, P/N: ERJ-P03F1000V;
b. Resistor 100Ω, tolerância 5%, 250ppm / ºC, encapsulamento 0201, potência: 50mW, P/N: CR0201-JW-101GLF.
Considerando as normas que orientam as boas práticas em confiabilidade de circuitos eletrônicos, analise as afirmativas a seguir.
I. Para garantir o correto funcionamento do circuito, a variação de resistência em condições usuais de temperatura (25ºC) não pode ultrapassar o valor de 10Ω em relação ao valor nominal; portanto, ambos os componentes são adequados para o projeto.
II. Ambos os componentes são adequados para operar com correntes de até 20mA.
III. Após o ajuste do circuito, o resistor não pode apresentar um aumento superior a 2Ω, para uma temperatura de 75ºC; portanto, ambos os componentes são adequados para o projeto.
Está correto o que se afirma em
a. Resistor 100Ω, tolerância 1%, 200ppm / ºC, encapsulamento 0603, potência: 200 mW, P/N: ERJ-P03F1000V;
b. Resistor 100Ω, tolerância 5%, 250ppm / ºC, encapsulamento 0201, potência: 50mW, P/N: CR0201-JW-101GLF.
Considerando as normas que orientam as boas práticas em confiabilidade de circuitos eletrônicos, analise as afirmativas a seguir.
I. Para garantir o correto funcionamento do circuito, a variação de resistência em condições usuais de temperatura (25ºC) não pode ultrapassar o valor de 10Ω em relação ao valor nominal; portanto, ambos os componentes são adequados para o projeto.
II. Ambos os componentes são adequados para operar com correntes de até 20mA.
III. Após o ajuste do circuito, o resistor não pode apresentar um aumento superior a 2Ω, para uma temperatura de 75ºC; portanto, ambos os componentes são adequados para o projeto.
Está correto o que se afirma em
Ano: 2024
Banca:
FGV
Órgão:
INPE
Prova:
FGV - 2024 - INPE - Tecnologista Júnior I - Desenvolvimento de Sistemas Eletrônicos Digitais |
Q2516024
Eletrônica
A aplicação de metodologias, como a análise de confiabilidade de
circuitos eletrônicos, desempenha um papel fundamental ao ajudar
os engenheiros a detectarem e a reduzir possíveis pontos de falha
em equipamentos e dispositivos.
Em relação ao tema, analise as afirmativas a seguir.
I. Um circuito é classificado como tendo baixa confiabilidade quando existe uma alta probabilidade de falhas ocorrerem dentro de um intervalo de tempo específico.
II. Uma medida de confiabilidade da produção de circuitos eletrônicos consiste na análise de um lote específico, submetendo uma amostra a testes de uso ao longo de um período determinado, e calculando a taxa de falhas por unidade de tempo.
III. MTBF (Média de Tempo Entre Falhas) é uma métrica de confiabilidade que mede o tempo exato que leva para um sistema falhar, fornecendo uma previsão precisa de quando as falhas ocorrerão durante sua vida útil operacional.
Está correto o que se afirma em
Em relação ao tema, analise as afirmativas a seguir.
I. Um circuito é classificado como tendo baixa confiabilidade quando existe uma alta probabilidade de falhas ocorrerem dentro de um intervalo de tempo específico.
II. Uma medida de confiabilidade da produção de circuitos eletrônicos consiste na análise de um lote específico, submetendo uma amostra a testes de uso ao longo de um período determinado, e calculando a taxa de falhas por unidade de tempo.
III. MTBF (Média de Tempo Entre Falhas) é uma métrica de confiabilidade que mede o tempo exato que leva para um sistema falhar, fornecendo uma previsão precisa de quando as falhas ocorrerão durante sua vida útil operacional.
Está correto o que se afirma em
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