Questões de Concurso Sobre eletrônica
Foram encontradas 2.093 questões
Ano: 2024
Banca:
FGV
Órgão:
INPE
Prova:
FGV - 2024 - INPE - Tecnologista Pleno I - Desenvolvimento de Sistemas de Suprimento de Energia para Satélites |
Q2523602
Eletrônica
A lógica da saída Y do multiplexador do circuito acima é
Ano: 2024
Banca:
FGV
Órgão:
INPE
Prova:
FGV - 2024 - INPE - Tecnologista Pleno I - Desenvolvimento de Instrumentação Científica para Projetos Espaciais |
Q2523565
Eletrônica
O circuito a seguir é composto por um buffer tri-state, um inversor com saída em coletor aberto e um resistor.
A combinação de sinais que gera conflito em S é
Ano: 2024
Banca:
FGV
Órgão:
INPE
Prova:
FGV - 2024 - INPE - Tecnologista Pleno I - Desenvolvimento de Instrumentação Científica para Projetos Espaciais |
Q2523563
Eletrônica
A lógica da saída Y do multiplexador do circuito acima é
Ano: 2024
Banca:
FGV
Órgão:
INPE
Prova:
FGV - 2024 - INPE - Tecnologista Pleno I - Desenvolvimento de Instrumentação Científica para Projetos Espaciais |
Q2523560
Eletrônica
Dois flip-flops D devem implementar a sequência de estados QBQA do diagrama da figura a seguir.
A lógica de menor soma de produtos a ser usada para acionar DB é
Ano: 2024
Banca:
FGV
Órgão:
INPE
Prova:
FGV - 2024 - INPE - Tecnologista Pleno I - Desenvolvimento de Instrumentação Científica para Projetos Espaciais |
Q2523558
Eletrônica
Assinale a opção que indica o produto de somas que minimiza o mapa acima.
Ano: 2024
Banca:
FGV
Órgão:
INPE
Prova:
FGV - 2024 - INPE - Tecnologista Pleno I - Desenvolvimento de Instrumentação Científica para Projetos Espaciais |
Q2523556
Eletrônica
As lógicas das saídas A<B e A=B do comparador unsigned do circuito acima são, respectivamente,
Ano: 2024
Banca:
FGV
Órgão:
INPE
Prova:
FGV - 2024 - INPE - Tecnologista Pleno I - Desenvolvimento de Instrumentação Científica para Projetos Espaciais |
Q2523533
Eletrônica
Ao utilizar um osciloscópio para visualizar um sinal de tensão triangular em seu circuito, um engenheiro configurou o equipamento da seguinte forma: acoplamento AC, modo automático, escala vertical de 1V/div, escala horizontal de 1ms/div e atenuação da ponta de prova 10x.
Ao realizar a medida, ele se deparou com um sinal que não ficava fixo na tela do osciloscópio, ou seja, a forma de onda apresentada na tela não estava sincronizada, pois formas de onda sucessivas eram disparadas em pontos distintos da forma de onda.
Para corrigir esse problema o engenheiro deve
Ao realizar a medida, ele se deparou com um sinal que não ficava fixo na tela do osciloscópio, ou seja, a forma de onda apresentada na tela não estava sincronizada, pois formas de onda sucessivas eram disparadas em pontos distintos da forma de onda.
Para corrigir esse problema o engenheiro deve
Ano: 2024
Banca:
FGV
Órgão:
INPE
Prova:
FGV - 2024 - INPE - Tecnologista Júnior I - Desenvolvimento de Sistemas Eletrônicos Digitais |
Q2516053
Eletrônica
Parte do código em VHDL a seguir deve ser completada para
descrever um flip-flop JK a partir de um componente de um flip-flop
D.
Assinale a opção que completa corretamente a linha assinalada.
Assinale a opção que completa corretamente a linha assinalada.
Ano: 2024
Banca:
FGV
Órgão:
INPE
Prova:
FGV - 2024 - INPE - Tecnologista Júnior I - Desenvolvimento de Sistemas Eletrônicos Digitais |
Q2516050
Eletrônica
O diagrama em blocos de uma placa FPGA está mostrado na figura a
seguir.
Fonte: kit SP601 - Xilinx
Como pode nele ser observado, o recurso que não está garantidamente presente na placa é que ela
Fonte: kit SP601 - Xilinx
Como pode nele ser observado, o recurso que não está garantidamente presente na placa é que ela
Ano: 2024
Banca:
FGV
Órgão:
INPE
Prova:
FGV - 2024 - INPE - Tecnologista Júnior I - Desenvolvimento de Sistemas Eletrônicos Digitais |
Q2516040
Eletrônica
O circuito a seguir é composto por um buffer tri-state, um inversor
com saída em coletor aberto e um resistor.
A combinação de sinais que gera conflito em S é
A combinação de sinais que gera conflito em S é
Ano: 2024
Banca:
FGV
Órgão:
INPE
Prova:
FGV - 2024 - INPE - Tecnologista Júnior I - Desenvolvimento de Sistemas Eletrônicos Digitais |
Q2516038
Eletrônica
A lógica da saída Y do multiplexador do circuito acima é
Ano: 2024
Banca:
FGV
Órgão:
INPE
Prova:
FGV - 2024 - INPE - Tecnologista Júnior I - Desenvolvimento de Sistemas Eletrônicos Digitais |
Q2516036
Eletrônica
Um engenheiro encontrou o esquemático abaixo, indicativo de uma
realimentação de um contador BCD crescente e decrescente, com
LOAD síncrono e RIPPLE (RCO).
Assinale a opção que indica o número de estados da sequência permanente do contador.
Assinale a opção que indica o número de estados da sequência permanente do contador.
Ano: 2024
Banca:
FGV
Órgão:
INPE
Prova:
FGV - 2024 - INPE - Tecnologista Júnior I - Desenvolvimento de Sistemas Eletrônicos Digitais |
Q2516035
Eletrônica
Dois flip-flops D devem implementar a sequência de estados QBQA
do diagrama da figura a seguir.
A lógica de menor soma de produtos a ser usada para acionar DB é
A lógica de menor soma de produtos a ser usada para acionar DB é
Ano: 2024
Banca:
FGV
Órgão:
INPE
Prova:
FGV - 2024 - INPE - Tecnologista Júnior I - Desenvolvimento de Sistemas Eletrônicos Digitais |
Q2516033
Eletrônica
Assinale a opção que indica o produto de somas que minimiza o mapa acima.
Ano: 2024
Banca:
FGV
Órgão:
INPE
Prova:
FGV - 2024 - INPE - Tecnologista Júnior I - Desenvolvimento de Sistemas Eletrônicos Digitais |
Q2516032
Eletrônica
Sejam P, Q e R os números de 4 bits indicados no circuito da figura a
seguir, em que se encontram um somador convencional de 4 bits,
com entrada de um bit de transporte (Cin) e dois bancos de
inversores INV1 e IVN2.
É correto afirmar que
É correto afirmar que
Ano: 2024
Banca:
FGV
Órgão:
INPE
Prova:
FGV - 2024 - INPE - Tecnologista Júnior I - Desenvolvimento de Sistemas Eletrônicos Digitais |
Q2516031
Eletrônica
As lógicas das saídas A<B e A=B do comparador unsigned do circuito acima são, respectivamente,
Ano: 2024
Banca:
FGV
Órgão:
INPE
Prova:
FGV - 2024 - INPE - Tecnologista Júnior I - Desenvolvimento de Sistemas Eletrônicos Digitais |
Q2516026
Eletrônica
Quatro módulos de uma mesma placa eletrônica foram testados e
os resultados estão listados a seguir.
a. Modulo 01; quantidade de falhas: 3; horas de teste: 2500.
b. Modulo 02; quantidade de falhas: 7; horas de teste: 2500.
c. Modulo 03; quantidade de falhas: 5; horas de teste: 2000.
d. Modulo 04; quantidade de falhas: 4; horas de teste: 1000.
Considere que cada placa é composta por um módulo de cada tipo, que as falhas de cada módulo são estatisticamente independentes e que os módulos da placa eletrônica podem ser representados como um sistema em série.
Com base nessas informações, estima-se que o MTTF (Tempo Médio até a Falha) e o MTBF (Média de Tempo Entre Falhas) da placa eletrônica sejam, respectivamente,
a. Modulo 01; quantidade de falhas: 3; horas de teste: 2500.
b. Modulo 02; quantidade de falhas: 7; horas de teste: 2500.
c. Modulo 03; quantidade de falhas: 5; horas de teste: 2000.
d. Modulo 04; quantidade de falhas: 4; horas de teste: 1000.
Considere que cada placa é composta por um módulo de cada tipo, que as falhas de cada módulo são estatisticamente independentes e que os módulos da placa eletrônica podem ser representados como um sistema em série.
Com base nessas informações, estima-se que o MTTF (Tempo Médio até a Falha) e o MTBF (Média de Tempo Entre Falhas) da placa eletrônica sejam, respectivamente,
Ano: 2024
Banca:
FGV
Órgão:
INPE
Prova:
FGV - 2024 - INPE - Tecnologista Júnior I - Desenvolvimento de Sistemas Eletrônicos Digitais |
Q2516025
Eletrônica
Para atender às normas de um projeto eletrônico, estão disponíveis
os seguintes resistores para compor o circuito:
a. Resistor 100Ω, tolerância 1%, 200ppm / ºC, encapsulamento 0603, potência: 200 mW, P/N: ERJ-P03F1000V;
b. Resistor 100Ω, tolerância 5%, 250ppm / ºC, encapsulamento 0201, potência: 50mW, P/N: CR0201-JW-101GLF.
Considerando as normas que orientam as boas práticas em confiabilidade de circuitos eletrônicos, analise as afirmativas a seguir.
I. Para garantir o correto funcionamento do circuito, a variação de resistência em condições usuais de temperatura (25ºC) não pode ultrapassar o valor de 10Ω em relação ao valor nominal; portanto, ambos os componentes são adequados para o projeto.
II. Ambos os componentes são adequados para operar com correntes de até 20mA.
III. Após o ajuste do circuito, o resistor não pode apresentar um aumento superior a 2Ω, para uma temperatura de 75ºC; portanto, ambos os componentes são adequados para o projeto.
Está correto o que se afirma em
a. Resistor 100Ω, tolerância 1%, 200ppm / ºC, encapsulamento 0603, potência: 200 mW, P/N: ERJ-P03F1000V;
b. Resistor 100Ω, tolerância 5%, 250ppm / ºC, encapsulamento 0201, potência: 50mW, P/N: CR0201-JW-101GLF.
Considerando as normas que orientam as boas práticas em confiabilidade de circuitos eletrônicos, analise as afirmativas a seguir.
I. Para garantir o correto funcionamento do circuito, a variação de resistência em condições usuais de temperatura (25ºC) não pode ultrapassar o valor de 10Ω em relação ao valor nominal; portanto, ambos os componentes são adequados para o projeto.
II. Ambos os componentes são adequados para operar com correntes de até 20mA.
III. Após o ajuste do circuito, o resistor não pode apresentar um aumento superior a 2Ω, para uma temperatura de 75ºC; portanto, ambos os componentes são adequados para o projeto.
Está correto o que se afirma em
Ano: 2024
Banca:
FGV
Órgão:
INPE
Prova:
FGV - 2024 - INPE - Tecnologista Júnior I - Desenvolvimento de Sistemas Eletrônicos Digitais |
Q2516024
Eletrônica
A aplicação de metodologias, como a análise de confiabilidade de
circuitos eletrônicos, desempenha um papel fundamental ao ajudar
os engenheiros a detectarem e a reduzir possíveis pontos de falha
em equipamentos e dispositivos.
Em relação ao tema, analise as afirmativas a seguir.
I. Um circuito é classificado como tendo baixa confiabilidade quando existe uma alta probabilidade de falhas ocorrerem dentro de um intervalo de tempo específico.
II. Uma medida de confiabilidade da produção de circuitos eletrônicos consiste na análise de um lote específico, submetendo uma amostra a testes de uso ao longo de um período determinado, e calculando a taxa de falhas por unidade de tempo.
III. MTBF (Média de Tempo Entre Falhas) é uma métrica de confiabilidade que mede o tempo exato que leva para um sistema falhar, fornecendo uma previsão precisa de quando as falhas ocorrerão durante sua vida útil operacional.
Está correto o que se afirma em
Em relação ao tema, analise as afirmativas a seguir.
I. Um circuito é classificado como tendo baixa confiabilidade quando existe uma alta probabilidade de falhas ocorrerem dentro de um intervalo de tempo específico.
II. Uma medida de confiabilidade da produção de circuitos eletrônicos consiste na análise de um lote específico, submetendo uma amostra a testes de uso ao longo de um período determinado, e calculando a taxa de falhas por unidade de tempo.
III. MTBF (Média de Tempo Entre Falhas) é uma métrica de confiabilidade que mede o tempo exato que leva para um sistema falhar, fornecendo uma previsão precisa de quando as falhas ocorrerão durante sua vida útil operacional.
Está correto o que se afirma em
Ano: 2024
Banca:
FGV
Órgão:
INPE
Prova:
FGV - 2024 - INPE - Tecnologista Júnior I - Desenvolvimento de Sistemas Eletrônicos Digitais |
Q2516023
Eletrônica
Um diagrama de Nyquist mostra, no plano complexo, as informações
de ganho e fase de uma função de transferência em função da
frequência. Nesse contexto, e sabendo ainda que determinado
circuito com um amplificador operacional realimentado
positivamente comporta-se como um oscilador, o critério de
Barkhausen para a oscilação será satisfeito se o módulo do ganho de
malha direta for
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