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Q3510723 Odontologia

O microscópio com seu alto potencial, e iluminação e magnificação do campo operatório, permite a realização de procedimentos odontológicos com mais precisão e detalhes.



Com relação à microscopia eletrônica de varredura, é correto afirmar que

Alternativas

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Tema central: Microscopia Eletrônica de Varredura (MEV/SEM) em Odontologia Pré-Clínica. A MEV utiliza um feixe de elétrons que varre a superfície da amostra, gerando sinais (principalmente elétrons secundários e retroespalhados) para formar imagens com grande profundidade de foco e alta resolução, úteis para análise de esmalte, dentina, cimento e materiais dentários.

Alternativa correta: EPrincípio de formação da imagem na MEV: um feixe de elétrons focalizado varre ponto a ponto a superfície; os elétrons interagem com a matéria produzindo elétrons secundários (contraste topográfico) e retroespalhados (contraste composicional). Detectores captam esses sinais e o sistema reconstrói a imagem. Essa descrição corresponde fielmente ao funcionamento da MEV (Goldstein JI et al., Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis; Anusavice, Phillips’ Science of Dental Materials).

Por que as demais estão incorretas?

A) “Preparado, corado e montado em lâmina” descreve microscopia óptica, não MEV. Na MEV usualmente se faz fixação, desidratação, secagem crítica, montagem em stub e metalização (ouro/paládio ou carbono). Não há coloração em lâmina.

B) Dentes e tecidos mineralizados são isolantes, não “bons condutores de elétrons”. Em MEV convencional de alto vácuo é necessário recobrimento condutor para evitar charging. Exceção: MEV de baixo vácuo/ambiental pode reduzir ou dispensar a metalização, mas isso não valida a assertiva (pegadinha clássica).

C) “Lentes de vidro e luz visível” é definição de microscopia óptica. A MEV usa lentes eletromagnéticas e feixe de elétrons em vácuo.

D) “Amostra extremamente fina para passagem de elétrons” é requisito da microscopia eletrônica de transmissão (MET/TEM). Na MEV, a amostra pode ser maciça; avalia-se superfície, não a transmissão.

Estratégia para provas: Identifique palavras-chave. “Luz visível”, “lentes de vidro”, “lâmina” e “corte ultrafino” apontam para óptica ou MET, não MEV. Em MEV procure por: feixe de elétrons, varredura, interação com a superfície, elétrons secundários/retroespalhados, vácuo e necessidade de condutividade/metalização. Lembre: MEV = superfície; MET = interior/ultrafinos.

Aplicação prática em Odontologia: Avaliação de morfologia do esmalte/dentina, interface adesiva, porosidade e falhas em materiais restauradores e cimentos resinosos, com impacto na compreensão de adesão e falhas clínicas (Anusavice; Craig’s Restorative Dental Materials).

Referências essenciais:
- Goldstein JI et al. Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis.
- Anusavice KJ. Phillips’ Science of Dental Materials.
- Craig RG, Powers JM. Restorative Dental Materials.

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