Foram encontradas 4.411 questões

Resolva questões gratuitamente!

Junte-se a mais de 4 milhões de concurseiros!

Q2379737 Engenharia Eletrônica

        Considerem-se os cinco sinais de tempo discreto x1[n], x2[n], x3[n], x4[n] e x5[n].Considere-se, ainda, que esses sinais apresentem valores não nulos para 0 ≤ n < N e valores nulos para n < 0 ou n ≥ N. Considere-se, também, que a transformada de Fourier discreta de N pontos de cada um desses sinais seja, respectivamente: X1[k], X2[k], X[3]k, X4[k] e X5[k].


Com base nessas informações e sabendo que X3[k] = X1[k] ⋅ X2[k] e que X4[k] = Imagem associada para resolução da questão , em que Imagem associada para resolução da questão = , e, ainda, que x5[n] = 8x1[n]+ 9x2[n], julgue o item a seguir. 


x5[k] = 8x1[k] + 9x2[k]

Alternativas
Q2379736 Engenharia Eletrônica

        Considerem-se os cinco sinais de tempo discreto x1[n], x2[n], x3[n], x4[n] e x5[n].Considere-se, ainda, que esses sinais apresentem valores não nulos para 0 ≤ n < N e valores nulos para n < 0 ou n ≥ N. Considere-se, também, que a transformada de Fourier discreta de N pontos de cada um desses sinais seja, respectivamente: X1[k], X2[k], X[3]k, X4[k] e X5[k].


Com base nessas informações e sabendo que X3[k] = X1[k] ⋅ X2[k] e que X4[k] = Imagem associada para resolução da questão , em que Imagem associada para resolução da questão = , e, ainda, que x5[n] = 8x1[n]+ 9x2[n], julgue o item a seguir. 


Se x1[k] for calculado usando-se a transformada rápida de Fourier, então a complexidade computacional será reduzida pela metade se comparada à complexidade computacional do cálculo de x1[k] pela transformada de Fourier discreta tradicional. 

Alternativas
Q2379735 Engenharia Eletrônica

        Considerem-se os cinco sinais de tempo discreto x1[n], x2[n], x3[n], x4[n] e x5[n].Considere-se, ainda, que esses sinais apresentem valores não nulos para 0 ≤ n < N e valores nulos para n < 0 ou n ≥ N. Considere-se, também, que a transformada de Fourier discreta de N pontos de cada um desses sinais seja, respectivamente: X1[k], X2[k], X[3]k, X4[k] e X5[k].


Com base nessas informações e sabendo que X3[k] = X1[k] ⋅ X2[k] e que X4[k] = Imagem associada para resolução da questão, em que  = Imagem associada para resolução da questão , e, ainda, que x5[n] = 8x1[n]+ 9x2[n], julgue o item a seguir. 


x4[n] corresponde a um deslocamento no tempo do sinal x1[n], isto é, x4 [n] = x1[n - m].

Alternativas
Q2379734 Engenharia Eletrônica

        Considerem-se os cinco sinais de tempo discreto x1[n], x2[n], x3[n], x4[n] e x5[n].Considere-se, ainda, que esses sinais apresentem valores não nulos para 0 ≤ n < N e valores nulos para n < 0 ou n ≥ N. Considere-se, também, que a transformada de Fourier discreta de N pontos de cada um desses sinais seja, respectivamente: X1[k], X2[k], X[3]k, X4[k] e X5[k].


Com base nessas informações e sabendo que X3[k] = X1[k] ⋅ X2[k] e que Imagem associada para resolução da questão X4[k] = , em que Imagem associada para resolução da questão = , e, ainda, que x5[n] = 8x1[n]+ 9x2[n], julgue o item a seguir. 


x3[n] corresponde à convolução linear do sinal x1[n] com o sinal x2[n], isto é, x3[n] = Imagem associada para resolução da questão

Alternativas
Q2367060 Engenharia Eletrônica

        A figura a seguir ilustra o circuito simplificado de um diodo fotovoltaico, baseado em silício: o resultado do processo de fotoexcitação é representado pelo surgimento de uma tensão que, como consequência, gera a corrente i_gen; R_S representa a resistência da célula e R_SH, uma resistência interna shunt; i_d representa a corrente no diodo, i_sh, a corrente que flui pela resistência shunt e i_L, a corrente que flui pela carga resistiva.



Tendo como referência as informações precedentes, julgue o item que se segue. 


Idealmente a célula fotovoltaica deve ser construída com silício 100% puro, já que qualquer impureza pode introduzir níveis de energia indesejados nas bandas do sistema, atrapalhando o fluxo de corrente. 

Alternativas
Q2367058 Engenharia Eletrônica

        A figura a seguir ilustra o circuito simplificado de um diodo fotovoltaico, baseado em silício: o resultado do processo de fotoexcitação é representado pelo surgimento de uma tensão que, como consequência, gera a corrente i_gen; R_S representa a resistência da célula e R_SH, uma resistência interna shunt; i_d representa a corrente no diodo, i_sh, a corrente que flui pela resistência shunt e i_L, a corrente que flui pela carga resistiva.



Tendo como referência as informações precedentes, julgue o item que se segue. 


No circuito apresentado, a queda de tensão nos terminais da carga resistiva R_L pode ser expressa por 

Imagem associada para resolução da questão

em que i_0 é a corrente de saturação reversa, n é o fator de idealidade do diodo, k é a constante de Boltzmann, T é a temperatura e q é a carga do elétron. 

Alternativas
Q2367039 Engenharia Eletrônica

Em relação a diodos emissores de luz (LED), julgue o item que se segue.  


Um LED precisa ser construído a partir de um semicondutor inorgânico, pois o gap existente nesse material é necessário para a criação da região de depleção.

Alternativas
Q2367038 Engenharia Eletrônica

Em relação a diodos emissores de luz (LED), julgue o item que se segue.  


Antes do processo de recombinação, a diferença entre as energias do elétron e do buraco em um LED azul é maior do que a diferença entre as energias do elétron e do buraco em um LED vermelho. 

Alternativas
Q2367037 Engenharia Eletrônica

Em relação a diodos emissores de luz (LED), julgue o item que se segue.  


A cor da luz emitida por um LED depende fundamentalmente da frequência de luz incidente, razão pela qual o encapsulamento desses dispositivos tende a ser transparente ou translúcido. 

Alternativas
Q2367036 Engenharia Eletrônica

Em relação a diodos emissores de luz (LED), julgue o item que se segue.  


Em geral, ao se conectar o anodo de um LED ao terminal negativo e o catodo ao terminal positivo de uma fonte de corrente contínua, o dispositivo tende a não emitir luz. 

Alternativas
Q2364441 Engenharia Eletrônica
Certo dispositivo eletrônico fabricado com estanho (Sn) puro possui espessura igual a 10 mm. A resistividade do estanho a 20 °C é igual a 10−6 Ωm, a mobilidade dos elétrons desse dispositivo é igual a 0,0005 m2 /(Vs) e o coeficiente de temperatura da resistividade do silício é igual a 0,001 °C−1.
Com base nas informações precedentes, julgue o próximo item.


A tensão Hall no dispositivo é igual a 10 μV para uma corrente de 25 A, com um campo magnético de 4 teslas imposto a uma direção perpendicular à corrente.
Alternativas
Q2364440 Engenharia Eletrônica
Certo dispositivo eletrônico fabricado com estanho (Sn) puro possui espessura igual a 10 mm. A resistividade do estanho a 20 °C é igual a 10−6 Ωm, a mobilidade dos elétrons desse dispositivo é igual a 0,0005 m2 /(Vs) e o coeficiente de temperatura da resistividade do silício é igual a 0,001 °C−1.
Com base nas informações precedentes, julgue o próximo item.


A velocidade de arraste no dispositivo, considerando-se a aplicação de um campo elétrico de 30 V/m, é igual a 15 mm/s. 
Alternativas
Q2364435 Engenharia Eletrônica

Julgue o item a seguir, relativo a fundamentos de montagem de circuitos integrados.  


O processo de montagem de circuitos integrados permite conectar eletricamente os pads de ligação do circuito integrado e os pads de ligação do receptáculo.

Alternativas
Q2364434 Engenharia Eletrônica

Com relação à tecnologia de empacotamento em módulos de multi-chip (MCM), julgue o item seguinte.



Um MCM é um empacotamento eletrônico que consiste em vários circuitos integrados montados em um único dispositivo.  

Alternativas
Q2364433 Engenharia Eletrônica

Com relação à tecnologia de empacotamento em módulos de multi-chip (MCM), julgue o item seguinte.



Em um MCM, vários componentes são montados em substratos diferentes e conectados por meio de ligação de fita ou por ligação tipo flip-chip.

Alternativas
Q2364432 Engenharia Eletrônica

Com relação à tecnologia de empacotamento em módulos de multi-chip (MCM), julgue o item seguinte.



Apesar de oferecerem melhoras no desempenho, MCM não são capazes de reduzir o tamanho de um dispositivo.

Alternativas
Q2364430 Engenharia Eletrônica
Julgue o item subsecutivo, a respeito da tecnologia de filme espesso e do processo de soldagem por refusão em circuitos com componentes SMD (surface mounting devices).

O objetivo do processo de soldagem por refusão empregado em componentes SMD é fundir as partículas de solda, “molhar” as superfícies a serem unidas e solidificar a solda em uma junta, metalurgicamente, forte.
Alternativas
Q2364429 Engenharia Eletrônica
Julgue o item subsecutivo, a respeito da tecnologia de filme espesso e do processo de soldagem por refusão em circuitos com componentes SMD (surface mounting devices).

A tecnologia de filme espesso é uma forma de interligar componentes eletrônicos por meio da aplicação de pastas condutivas, resistivas e dielétricas, sobre um substrato cerâmico isolante por um processo serigráfico sequencial e seletivo.  
Alternativas
Q2364428 Engenharia Eletrônica

A respeito de empacotamento de circuitos integrados, julgue o seguinte item.



Wire bonding envolve uma pressão localizada precisamente entre o fio e uma região metalizada do circuito ou do terminal do empacotamento a ser soldado, sem aquecer excessivamente toda a estrutura.  

Alternativas
Q2364426 Engenharia Eletrônica

A respeito de empacotamento de circuitos integrados, julgue o seguinte item.



Ball bonding é uma forma de ligação conhecida como termosônica, em que se combina compressão ultrassônica e termocompressão. 

Alternativas
Respostas
641: C
642: E
643: E
644: E
645: E
646: C
647: E
648: C
649: E
650: C
651: C
652: C
653: C
654: C
655: E
656: E
657: C
658: C
659: C
660: C