Questões de Concurso para Assistente de Suporte Acadêmico

Q3635177

Ano: 2025 Banca: VUNESP Órgão: UNESP Prova: VUNESP - 2025 - UNESP - Assistente de Suporte Acadêmico II - Área de Atuação: Fenômenos de Transporte, Sistemas Térmicos, Mecânicos e Eletroeletrônicos - Edital nº 232 |

Q3635177 Engenharia Mecânica

Observe a figura a seguir:

Imagem associada para resolução da questão

(Arquivo pessoal; imagem usada com autorização)

Trata-se de uma válvula direcional de

A

3 vias e 2 posições.

B

3 vias e 3 posições.

C

2 vias e 2 posições.

D

6 vias e 2 posições.

E

2 vias e 6 posições.

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Q3635176

Ano: 2025 Banca: VUNESP Órgão: UNESP Prova: VUNESP - 2025 - UNESP - Assistente de Suporte Acadêmico II - Área de Atuação: Fenômenos de Transporte, Sistemas Térmicos, Mecânicos e Eletroeletrônicos - Edital nº 232 |

Q3635176 Engenharia Mecânica

O compressor de êmbolo para sistemas pneumáticos com movimento linear pode ser de

A

efeito composto e duplo efeito.

B

dinâmico simples e simples efeito.

C

modular e simples efeito.

D

efeito simples e duplo efeito.

E

reversão e dinâmico duplo.

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Q3635175

Ano: 2025 Banca: VUNESP Órgão: UNESP Prova: VUNESP - 2025 - UNESP - Assistente de Suporte Acadêmico II - Área de Atuação: Fenômenos de Transporte, Sistemas Térmicos, Mecânicos e Eletroeletrônicos - Edital nº 232 |

Q3635175 Engenharia Mecânica

Observe a imagem a seguir:

Imagem associada para resolução da questão

(Arquivo pessoal; imagem usada com autorização)

A imagem representa uma bomba hidráulica denominada de bomba de

A

trocoidal.

B

lóbulos.

C

gerotor.

D

engrenagens.

E

palhetas.

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Q3635174

Ano: 2025 Banca: VUNESP Órgão: UNESP Prova: VUNESP - 2025 - UNESP - Assistente de Suporte Acadêmico II - Área de Atuação: Fenômenos de Transporte, Sistemas Térmicos, Mecânicos e Eletroeletrônicos - Edital nº 232 |

Q3635174 Engenharia Mecânica

Observe a imagem a seguir:

Imagem associada para resolução da questão

(Arquivo pessoal; imagem usada com autorização)

A imagem demonstra o tipo de escoamento denominado de

A

turbulento.

B

laminar.

C

contínuo.

D

liso.

E

rugoso.

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Q3635173

Ano: 2025 Banca: VUNESP Órgão: UNESP Prova: VUNESP - 2025 - UNESP - Assistente de Suporte Acadêmico II - Área de Atuação: Fenômenos de Transporte, Sistemas Térmicos, Mecânicos e Eletroeletrônicos - Edital nº 232 |

Q3635173 Engenharia Mecânica

Observe a imagem a seguir:

Imagem associada para resolução da questão

A imagem demonstra o tipo de escoamento denominado de

A

turbulento.

B

contínuo.

C

liso.

D

rugoso.

E

laminar.

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Q3635172

Ano: 2025 Banca: VUNESP Órgão: UNESP Prova: VUNESP - 2025 - UNESP - Assistente de Suporte Acadêmico II - Área de Atuação: Fenômenos de Transporte, Sistemas Térmicos, Mecânicos e Eletroeletrônicos - Edital nº 232 |

Q3635172 Engenharia Mecânica

O cientista Osborne Reynolds publicou um estudo acerca do comportamento do escoamento dos fluidos e verificou que este comportamento depende da viscosidade e da velocidade do fluido, da rugosidade e do(a)

A

curso do pistão.

B

comprimento da tubulação.

C

diâmetro da tubulação.

D

pressão da bomba.

E

vazão da bomba.

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Q3635151

Ano: 2025 Banca: VUNESP Órgão: UNESP Prova: VUNESP - 2025 - UNESP - Assistente de Suporte Acadêmico III - Área de Atuação: Microscopia, Análise de Imagens e Caracterização de Materiais - Edital nº 177 |

Q3635151 Ciência e Tecnologia

Na Microscopia de Força Atômica (AFM), diferentes modos de operação são utilizados conforme o tipo de amostra e o tipo de informação que se deseja obter.

Sobre os modos de análise que são classificados em contato, dinâmico e fase, é correto afirmar que

A

no modo de contato, a ponta oscila próximo à frequência de ressonância para minimizar interação com a amostra.

B

o modo dinâmico é mais adequado para amostras rígidas e irregulares, pois exerce maior força sobre a superfície.

C

o modo de fase fornece informações sobre as propriedades da amostra, operando sem contato direto da ponta com a superfície.

D

o modo de contato obtém imagens de altíssima resolução e é o mais rápido entre os modos topográficos.

E

o modo de contato é o mais indicado para amostras macias e facilmente deformáveis.

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Q3635150

Ano: 2025 Banca: VUNESP Órgão: UNESP Prova: VUNESP - 2025 - UNESP - Assistente de Suporte Acadêmico III - Área de Atuação: Microscopia, Análise de Imagens e Caracterização de Materiais - Edital nº 177 |

Q3635150 Ciência e Tecnologia

De modo semelhante à microscopia de luz transmitida, a microscopia eletrônica de transmissão (MET), baseia- -se nas interações entre um feixe incidente e a amostra para formar imagem. Na MET, variações na intensidade do feixe transmitido ocorrem devido a fenômenos como absorção, espalhamento e difração. A partir dessas interações e utilizando diferentes modos de operação, é possível gerar tipos distintos de imagem, que fornecem informações complementares às micrografias de campo claro, usualmente empregadas.

Sobre os diferentes modos de formação de imagens em MET, assinale a alternativa correta.

A

As imagens obtidas no modo de campo escuro apresentam melhor resolução que as imagens obtidas em campo claro sem a necessidade do uso de um sistema de deflexão.

B

No modo de contraste de fase, diferenças na orientação cristalina tornam-se visíveis, pois os elétrons que atravessam colunas atômicas sofrem um atraso de fase em relação aos que passam entre elas.

C

Na microscopia eletrônica de transmissão, imagens de contraste de fase são obtidas por meio do processamento de imagens de alta resolução adquiridas em modo de campo claro.

D

O modo de campo claro destaca principalmente as regiões que espalham fortemente os elétrons, aparecendo mais brilhante que as regiões que espalham menos os elétrons.

E

No modo de campo escuro, a imagem é formada apenas pelos elétrons não espalhados que atravessam a amostra, criando um contraste por absorção diferencial.

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Q3635149

Ano: 2025 Banca: VUNESP Órgão: UNESP Prova: VUNESP - 2025 - UNESP - Assistente de Suporte Acadêmico III - Área de Atuação: Microscopia, Análise de Imagens e Caracterização de Materiais - Edital nº 177 |

Q3635149 Ciência e Tecnologia

No contexto do processamento e da análise de imagens digitais em microscopia, devem ser considerados aspectos relacionados à aquisição de imagens, aos tipos de câmera digitais e aos formatos de arquivos.

Em relação às características mencionadas, assinale a alternativa correta.

A

Os formatos de arquivo, como o TIFF, comprimem os dados, o que pode resultar na perda de informações relevantes para a análise quantitativa.

B

A aquisição de imagens digitais não depende da calibração do sistema, pois qualquer erro pode ser corrigido posteriormente no tratamento da imagem.

C

Câmeras CCD e CMOS constituem os tipos mais comuns em microscopia, oferecendo uma boa sensibilidade e velocidade de captura de imagens.

D

O formato de arquivo JPEG mostra-se ideal para o arquivamento de dados, pois sua compressão é eficiente e não gera perda de dados.

E

A qualidade da imagem digital é determinada apenas pela qualidade e magnificação da lente do microscópio, sendo independente da câmera utilizada.

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Q3635148

Ano: 2025 Banca: VUNESP Órgão: UNESP Prova: VUNESP - 2025 - UNESP - Assistente de Suporte Acadêmico III - Área de Atuação: Microscopia, Análise de Imagens e Caracterização de Materiais - Edital nº 177 |

Q3635148 Ciência e Tecnologia

A espectroscopia de raios X por dispersão de energia (EDS) é uma técnica analítica para a análise elementar ou caracterização química de uma amostra.

Sobre o EDS, assinale a alternativa correta.

A

A composição é determinada pela análise das emissões de raios X, com correção do fundo contínuo e aplicação de fatores como o ZAF (número atômico, absorção e fluorescência).

B

A técnica EDS fornece proporções relativas dos elementos presentes na amostra, permitindo uma análise qualitativa precisa da composição.

C

Distingue diretamente os elementos da amostra, através dos seus detectores, obtendo valores relativos à composição total real.

D

Permite quantificar com precisão concentrações inferiores a 200 ppm, inclusive de elementos de baixo número atômico.

E

As medidas são extremamente lentas, uma vez que escaneia um comprimento de onda por vez.

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Q3635147

Ano: 2025 Banca: VUNESP Órgão: UNESP Prova: VUNESP - 2025 - UNESP - Assistente de Suporte Acadêmico III - Área de Atuação: Microscopia, Análise de Imagens e Caracterização de Materiais - Edital nº 177 |

Q3635147 Engenharia Biomédica

O microscópio óptico é amplamente utilizado em diversas áreas, especialmente na biologia, para observação de objetos muito pequenos. Esse resultado é obtido por meio da utilização de um conjunto de lentes que ampliam a imagem.

Com base nos princípios que regem seu funcionamento, assinale a alternativa correta.

A

A ampliação total de um microscópio é determinada apenas pela lente objetiva.

B

A profundidade de campo aumenta proporcionalmente com a abertura numérica da objetiva.

C

A resolução de um microscópio óptico depende do comprimento de onda da luz e da abertura numérica da lente.

D

Fontes halógenas não são adequadas à microscopia óptica devido ao seu amplo espectro de emissão.

E

O contraste das imagens ópticas depende exclusivamente da coloração da amostra.

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Q3635146

Ano: 2025 Banca: VUNESP Órgão: UNESP Prova: VUNESP - 2025 - UNESP - Assistente de Suporte Acadêmico III - Área de Atuação: Microscopia, Análise de Imagens e Caracterização de Materiais - Edital nº 177 |

Q3635146 Estatística

No âmbito da análise de imagens obtidas por microscopia eletrônica de varredura, é essencial aplicar procedimentos que assegurem a representatividade estatística dos dados, especialmente em publicações científicas.

Considerando a obtenção de dados quantitativos sobre a morfologia e o tamanho de nanopartículas com formas irregulares, qual abordagem é mais adequada para garantir uma análise estatística rigorosa?

A

Obter uma imagem de alta resolução de maneira pontual, limitar o perímetro da partícula, análise de média simples sem segmentação.

B

Aplicar filtros de contraste para destacar as partículas, normalizar as medidas de intensidade pela média, extrair a intensidade média individual e aplicar testes t.

C

Obter imagens com diferentes ampliações e condições de contraste, aplicar operadores morfológicos para realce de bordas e aplicar testes ANOVA.

D

Capturar imagens de alta resolução apenas em regiões visualmente informativas, processar a imagem e utilizar o modelo de análise multivariada.

E

Obter imagens de alta resolução, processamento com o teorema de Nyquist-Shannon, segmentação da imagem e aplicar testes ANOVA.

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Q3635145

Ano: 2025 Banca: VUNESP Órgão: UNESP Prova: VUNESP - 2025 - UNESP - Assistente de Suporte Acadêmico III - Área de Atuação: Microscopia, Análise de Imagens e Caracterização de Materiais - Edital nº 177 |

Q3635145 Ciência e Tecnologia

Sobre a parte óptica de um microscópio eletrônico de transmissão (MET), é correto afirmar que

A

um estigmatizador é utilizado para corrigir aberrações cromáticas das lentes e não alterar a resolução da imagem.

B

as lentes do MET contribuem igualmente para a magnificação e são responsáveis por garantir melhor resolução da imagem.

C

no MET, a ampliação da imagem é diretamente proporcional à energia do elétron acelerado.

D

é necessário, no mínimo, um conjunto de duas lentes que, juntas, produzem uma imagem ampliada e um estigmatizador.

E

o efeito Schottky aumenta a altura da barreira de potencial que mantém os elétrons dentro do cátodo, regulando a densidade de corrente de emissão.

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Q3635144

Ano: 2025 Banca: VUNESP Órgão: UNESP Prova: VUNESP - 2025 - UNESP - Assistente de Suporte Acadêmico III - Área de Atuação: Microscopia, Análise de Imagens e Caracterização de Materiais - Edital nº 177 |

Q3635144 Ciência e Tecnologia

Durante a caracterização de uma amostra de compósito polimérico com inclusões nanométricas, verificou-se que o microscópio eletrônico de varredura (MEV) não fornecia as informações desejadas. Diante dessa limitação, foi considerada a utilização do microscópio eletrônico de transmissão (MET).

Com base nas capacidades e limitações de cada técnica, qual é a principal limitação do MEV que justifica a escolha pelo MET?

A

Capacidade de obter uma estrutura 3D.

B

Capacidade de revelar estruturas internas.

C

Capacidade de analisar topografia.

D

Capacidade de identificar elementos químicos.

E

Capacidade de análise em condições ambientais.

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Q3635143

Ano: 2025 Banca: VUNESP Órgão: UNESP Prova: VUNESP - 2025 - UNESP - Assistente de Suporte Acadêmico III - Área de Atuação: Microscopia, Análise de Imagens e Caracterização de Materiais - Edital nº 177 |

Q3635143 Ciência e Tecnologia

Durante a preparação de uma amostra sólida para ser analisada por microscopia eletrônica de varredura, certas etapas são necessárias para garantir a qualidade da imagem e evitar artefatos e ainda possíveis danos às amostras.

Nesse contexto, assinale a alternativa correta.

A

Em caso de uma amostra condutora, deve-se fixá-la ao porta-amostra com uma fita isolante.

B

Em caso de uma amostra biológica, nenhum tratamento precisa ser realizado previamente à análise.

C

Em caso de amostra não condutora, deve-se revestir a amostra com uma fina camada metálica condutora.

D

Em caso de amostra em pó e não condutora, deve-se aderir o material com o uso de solvente.

E

Em caso de materiais geológicos, como rochas, a limpeza com o uso de solvente é necessária.

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Q3635142

Ano: 2025 Banca: VUNESP Órgão: UNESP Prova: VUNESP - 2025 - UNESP - Assistente de Suporte Acadêmico III - Área de Atuação: Microscopia, Análise de Imagens e Caracterização de Materiais - Edital nº 177 |

Q3635142 Ciência e Tecnologia

Simulações computacionais, como o método de Monte Carlo, são amplamente utilizadas em diversas áreas da ciência, incluindo a microscopia, por sua capacidade de prever a trajetória e o comportamento dos elétrons ao interagirem com a amostra.

Com base na aplicação desse método, assinale a alternativa correta.

A

A simulação é útil apenas para determinar a trajetória de elétrons que possuem espalhamento elástico.

B

A simulação tem como objetivo estimar a profundidade de penetração e o volume de interação do elétron com o material.

C

A simulação é útil para determinar apenas a trajetória de elétrons que possuem espalhamento inelástico.

D

A simulação quando realizada durante a medida diminui o tempo necessário para obter uma imagem da amostra.

E

A simulação não pode ser utilizada para simular a trajetória do elétron quando se trata de um material de múltipla interface.

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Q3635141

Ano: 2025 Banca: VUNESP Órgão: UNESP Prova: VUNESP - 2025 - UNESP - Assistente de Suporte Acadêmico III - Área de Atuação: Microscopia, Análise de Imagens e Caracterização de Materiais - Edital nº 177 |

Q3635141 Física

Durante uma análise por microscopia eletrônica de varredura, um feixe de elétrons é direcionado sobre uma amostra sólida, em que sua interação com a superfície espalha os elétrons elasticamente e inelasticamente.

om base nos princípios físicos envolvidos nesse processo, assinale a alternativa correta em relação ao espalhamento dos elétrons e a profundidade de penetração no material.

A

O espalhamento de elétrons é independente das características do material que está sendo analisado.

B

A profundidade de penetração é proporcional a densidade e ao número atômico do elemento analisado.

C

A profundidade de penetração na amostra pelo feixe não apresenta interferência com o espalhamento elástico dos elétrons.

D

A profundidade de penetração é proporcionalmente dependente da energia incidente do feixe de elétrons.

E

A penetração dos elétrons na amostra ocorre apenas quando o feixe incide com ângulo de 90° em relação à superfície.

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Q3635140

Ano: 2025 Banca: VUNESP Órgão: UNESP Prova: VUNESP - 2025 - UNESP - Assistente de Suporte Acadêmico III - Área de Atuação: Microscopia, Análise de Imagens e Caracterização de Materiais - Edital nº 177 |

Q3635140 Ciência e Tecnologia

A preparação e as medidas de amostras por microscopia de força atômica (AFM) requerem uma atenção especial, porque

A

o ambiente de operação é altamente corrosivo, exigindo metalização prévia.

B

a amostra deve ser metálica para possibilitar a aquisição da imagem por AFM.

C

o modo de contraste exige superfícies com alta condutividade térmica.

D

irregularidades topográficas elevadas podem causar danos a ponta do cantiléver.

E

a medida AFM é conduzida em atmosfera inerte para prevenir reações superficiais na amostra.

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Q3635139

Ano: 2025 Banca: VUNESP Órgão: UNESP Prova: VUNESP - 2025 - UNESP - Assistente de Suporte Acadêmico III - Área de Atuação: Microscopia, Análise de Imagens e Caracterização de Materiais - Edital nº 177 |

Q3635139 Ciência e Tecnologia

A resolução de um microscópio eletrônico de varredura é usualmente entre 1 e 10 nm. Essa resolução só é possível de ser alcançada através de um conjunto de componentes.

Assinale a alternativa que apresenta todos os componentes que, em conjunto, tem como objetivo melhorar a resolução da imagem obtida.

A

Bomba mecânica, canhão de elétrons de tungstênio, lentes magnéticas.

B

Bomba turbo molecular, monocromador, pinhole, lentes magnéticas.

C

Bomba mecânica, canhão de elétrons de hexaboreto de lantânio, condensador.

D

Bomba difusora, canhão de elétrons de hexaboreto de lantânio, filtro de fase.

E

Bomba turbo molecular, canhão de elétrons de tungstênio, lentes magnéticas.

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Q3635138

Ano: 2025 Banca: VUNESP Órgão: UNESP Prova: VUNESP - 2025 - UNESP - Assistente de Suporte Acadêmico III - Área de Atuação: Microscopia, Análise de Imagens e Caracterização de Materiais - Edital nº 177 |

Q3635138 Ciência e Tecnologia

A formação da imagem durante uma microscopia eletrônica de varredura (MEV) decorre da interação entre o feixe de elétrons acelerados e a amostra, promovendo processos de espalhamento elástico ou inelástico. Nesse contexto, cada tipo de elétrons gerado contribui com finalidades distintas para a construção da imagem.

Assinale a alternativa correta que apresenta os dois tipos usuais de elétrons que são utilizados na obtenção da imagem e suas respectivas definições.

A

Elétrons secundários e retroespalhados. Os do primeiro tipo são responsáveis por revelar a topografia da amostra, enquanto os do segundo tipo estão associados à variação da composição química da amostra.

B

Elétrons secundários e retroespalhados. Os do primeiro tipo estão associados à variação da composição química da amostra, enquanto os do segundo tipo são responsáveis por revelar a topografia da amostra.

C

Elétrons primários e secundários. O primeiro refere- -se às alterações na composição elementar fornecendo contraste, e o segundo é responsável pelo contraste relacionado à topografia da amostra.

D

Elétrons primários e secundários. O primeiro é responsável pelo contraste relacionado à topografia da amostra, e o segundo refere-se às alterações na composição elementar, fornecendo contraste.

E

Elétrons primários e secundários. O primeiro e o segundo referem-se às alterações na composição elementar do material, porém a questão do contraste topográfico é obtida com subtração da carga de cada tipo de elétron.

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