A preparação e as medidas de amostras por microscopia de fo...

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Ano: 2025 Banca: VUNESP Órgão: UNESP Prova: VUNESP - 2025 - UNESP - Assistente de Suporte Acadêmico III - Área de Atuação: Microscopia, Análise de Imagens e Caracterização de Materiais - Edital nº 177 |

Q3635140 Ciência e Tecnologia

A preparação e as medidas de amostras por microscopia de força atômica (AFM) requerem uma atenção especial, porque

o ambiente de operação é altamente corrosivo, exigindo metalização prévia.

a amostra deve ser metálica para possibilitar a aquisição da imagem por AFM.

o modo de contraste exige superfícies com alta condutividade térmica.

irregularidades topográficas elevadas podem causar danos a ponta do cantiléver.

a medida AFM é conduzida em atmosfera inerte para prevenir reações superficiais na amostra.

Incorreta. Gabarito oficial da banca:

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