Durante uma análise por microscopia eletrônica de varredura,...
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Ano: 2025
Banca:
VUNESP
Órgão:
UNESP
Prova:
VUNESP - 2025 - UNESP - Assistente de Suporte Acadêmico III - Área de Atuação: Microscopia, Análise de Imagens e Caracterização de Materiais - Edital nº 177 |
Q3635141
Física
Durante uma análise por microscopia eletrônica de varredura, um feixe de elétrons é direcionado sobre uma
amostra sólida, em que sua interação com a superfície
espalha os elétrons elasticamente e inelasticamente.
om base nos princípios físicos envolvidos nesse processo, assinale a alternativa correta em relação ao espalhamento dos elétrons e a profundidade de penetração no material.
om base nos princípios físicos envolvidos nesse processo, assinale a alternativa correta em relação ao espalhamento dos elétrons e a profundidade de penetração no material.