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Q3290643 Mecânica

Acerca de conceitos, instrumentos e práticas envolvidos na metrologia, julgue o item a seguir.


Um instrumento de medição de referência metrológica padrão de fábrica deve produzir resultados com menor incerteza de medição para que seja utilizado na calibração de instrumentos de trabalho tidos como chão de fábrica.  

Alternativas

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Alternativa correta: C – Certo

1. Tema central da questão

O tema abordado é a hierarquia dos instrumentos de medição na metrologia, especialmente a diferença entre padrões de referência (ou padrões primários/secundários) e instrumentos de trabalho utilizados no chão de fábrica.

2. Resumo teórico

Na metrologia, existe uma cadeia de rastreabilidade, onde instrumentos mais precisos e confiáveis (padrões) são usados para calibrar outros instrumentos de menor grau de precisão. Um padrão de fábrica precisa ter menor incerteza de medição do que os instrumentos que irá calibrar, garantindo assim a confiabilidade dos resultados ao longo da cadeia metrológica.

Essa lógica está alinhada com a ABNT NBR ISO/IEC 17025 e com conceitos fundamentais do INMETRO, que preconizam que apenas instrumentos com menor incerteza podem servir como referência para outros equipamentos.

3. Justificativa da alternativa correta (C)

Afirmar que um instrumento padrão deve apresentar menor incerteza do que o instrumento de trabalho é absolutamente correto. Se o padrão de referência tivesse igual ou maior incerteza, não garantiria a qualidade da calibração. Isso preserva a confiabilidade das medições no ambiente industrial e assegura a rastreabilidade metrológica dos resultados.

4. Estratégias de interpretação

Fique atento à palavra-chave “menor incerteza de medição”. Sempre que a questão tratar de calibração ou referência, lembre-se: o instrumento de referência deve ter incerteza inferior ao instrumento calibrado. Questões desse tipo costumam cobrar a ordem hierárquica dos padrões na metrologia.

5. Conclusão

Portanto, a assertiva está correta. É um conceito fundamental para quem deseja atuar em áreas técnicas, especialmente no ambiente industrial, onde a rastreabilidade das medições é crítica.

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