Home Concursos Públicos Questões Q3760969 Quando o feixe de elétrons em um microscópio eletrônico não ... Próximas questões Com base no mesmo assunto Q3760969 Engenharia Eletrônica Eletrônica Analógica na Engenharia Eletrônica , Ano: 2025 Banca: FGV Órgão: CPRM Prova: FGV - 2025 - CPRM - Analista em Geociências - Engenharia Eletrônica | Q3760969 Engenharia Eletrônica Quando o feixe de elétrons em um microscópio eletrônico não possui uma seção reta elíptica ao atingir a amostra, observa-se que a nitidez muda ao girar a amostra/imagem. Para corrigir esta distorção da imagem deve-se Alternativas A alterar a abertura do diafragma da objetiva. B ajustar o estigmador nos eixos X e Y. C ajustar o foco da lente objetiva. D ajustar o foco da lente condensadora. E substituir a fonte de elétrons. Responder Incorreta. Gabarito oficial da banca: Esse erro também aparece no seu Resumão. Veja o que melhorar teste Parabéns! Você acertou! Esse acerto está no seu Resumão. Ver Resumão da semana teste Ficou com dúvidas? Gabarito Comentado Aulas Comentários Estatísticas Cadernos Criar anotações Notificar Erro Salvar novo filtro Nome do novo filtro