Questões UNESP 2025 para Assistente de Suporte Acadêmico III - Área de Atuação: Microscopia, Análise de Imagens e Caracterização de Materiais - Edital nº 177

Q3635132

Ano: 2025 Banca: VUNESP Órgão: UNESP Prova: VUNESP - 2025 - UNESP - Assistente de Suporte Acadêmico III - Área de Atuação: Microscopia, Análise de Imagens e Caracterização de Materiais - Edital nº 177 |

Q3635132 Ciência e Tecnologia

Sobre a manutenção preventiva em microscópios eletrônicos de varredura, assinale a alternativa correta.

A

O filamento deve ser substituído mensalmente, independentemente de seu estado.

B

A câmara dos componentes ópticos deve ser aberta com frequência para inspeções visuais.

C

A bomba de vácuo turbo molecular deve ser mantida ligada continuamente.

D

A limpeza dos detectores de elétrons deve ser feita com álcool isopropílico.

E

A troca do óleo da bomba rotativa deve ser feita apenas quando houver perda de vácuo.

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Q3635133

Ano: 2025 Banca: VUNESP Órgão: UNESP Prova: VUNESP - 2025 - UNESP - Assistente de Suporte Acadêmico III - Área de Atuação: Microscopia, Análise de Imagens e Caracterização de Materiais - Edital nº 177 |

Q3635133 Ciência e Tecnologia

Quando uma imagem permanece embaçada mesmo estando na distância focal ideal, indica que há um tipo de aberração gerado pelas lentes que compõem o sistema óptico.

Assinale a alternativa que apresenta dois tipos de aberrações axiais existentes e como minimizá-las.

A

Astigmatismo e coma. Uso de estigmatizadores dipolares na coluna de deixe de elétrons e obedecer a condição de Abbé Sine.

B

Esférica e cromática. Aumento da distância focal, f, e do semiângulo de convergência, α.

C

Astigmatismo e esférica. Uso de estigmatizadores dipolares na coluna de feixe de elétrons e aumento da distância focal, f.

D

Astigmatismo e cromática. Uso de estigmatizadores quadrupolares na coluna de feixe de elétrons e aumento do semiângulo de convergência, α.

E

Esférica e cromática. Diminuição da distância focal, f, e restrição do semiângulo de convergência, α.

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Q3635134

Ano: 2025 Banca: VUNESP Órgão: UNESP Prova: VUNESP - 2025 - UNESP - Assistente de Suporte Acadêmico III - Área de Atuação: Microscopia, Análise de Imagens e Caracterização de Materiais - Edital nº 177 |

Q3635134 Ciência e Tecnologia

Há diversas vantagens em utilizar lentes eletrostáticas em comparação às lentes magnéticas.

Assinale a alternativa que apresenta exclusivamente as vantagens inerentes às lentes eletrostáticas em comparação às lentes eletromagnéticas.

A

Melhoram a resolução das imagens; melhoram foco em altas vantagens; permitem rotação da imagem; aplicáveis a equipamentos espaciais.

B

Operam com tensões que mudam lentamente; aplicável em equipamentos espaciais; geram menos aberrações nas imagens; menor desvio do foco.

C

Geram menos aberrações nas imagens; não requerem isolamento de alta tensão; podem ser usadas como lente de imersão; sem rotação da imagem.

D

Sem rotação da imagem; são lentes leves; não requerem tensão altamente estável; permitem focalização mais fácil dos elétrons.

E

Não requerem isolamento de alta tensão; podem ser usadas como lentes de imersão; permitem o desenvolvimento de lentes mais finas.

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Q3635135

Ano: 2025 Banca: VUNESP Órgão: UNESP Prova: VUNESP - 2025 - UNESP - Assistente de Suporte Acadêmico III - Área de Atuação: Microscopia, Análise de Imagens e Caracterização de Materiais - Edital nº 177 |

Q3635135 Ciência e Tecnologia

A microscopia confocal apresenta diversas vantagens frente a um microscópio convencional. Ela usualmente é utilizada em microscópios de Raman e infravermelho, com o objetivo de obter informação espaciais em alta resolução, principalmente no eixo z, considerando que os eixos x e y formam o plano.

Dentro desse contexto, qual é o principal componente de um microscópio confocal que permite obter imagem no eixo z?

A

Objetivas de imersão.

B

Pinhole.

C

Lentes eletrônicas.

D

Detector.

E

Iluminação por transmissão.

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Q3635136

Ano: 2025 Banca: VUNESP Órgão: UNESP Prova: VUNESP - 2025 - UNESP - Assistente de Suporte Acadêmico III - Área de Atuação: Microscopia, Análise de Imagens e Caracterização de Materiais - Edital nº 177 |

Q3635136 Ciência e Tecnologia

Medidas realizadas em um microscópio eletrônico de varreduras são usualmente feitas em alto vácuo.

Considerando o processo de formação de imagens, selecione a razão pela qual as medidas são realizadas nessa condição.

A

Permitir que os elétrons atinjam a amostra sem serem dispersos.

B

Para que seja possível usar uma fonte de elétrons de menor potência.

C

Para aumentar a condutividade da amostra e melhorar a resolução da imagem.

D

Para aumentar a detecção de elétrons espalhados apenas inelasticamente.

E

Em equipamentos mais modernos, não é mais necessário o alto vácuo na parte óptica.

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Q3635137

Ano: 2025 Banca: VUNESP Órgão: UNESP Prova: VUNESP - 2025 - UNESP - Assistente de Suporte Acadêmico III - Área de Atuação: Microscopia, Análise de Imagens e Caracterização de Materiais - Edital nº 177 |

Q3635137 Ciência e Tecnologia

Algumas amostras que necessitam ser analisadas por microscopia eletrônica de varredura são sensíveis às condições usuais em que o equipamento opera.

Quais são as condições experimentais que são necessárias para esse tipo de medida?

A

Alta temperatura e detector Everhart-Thornley

B

Baixa temperatura e revestimento com camada condutora espessa.

C

Temperatura ambiente e objetiva com abertura ampla.

D

Baixa temperatura e detector anular in-lens (TTL).

E

Alta temperatura e detector de elétrons retrodifundidos.

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Q3635138

Ano: 2025 Banca: VUNESP Órgão: UNESP Prova: VUNESP - 2025 - UNESP - Assistente de Suporte Acadêmico III - Área de Atuação: Microscopia, Análise de Imagens e Caracterização de Materiais - Edital nº 177 |

Q3635138 Ciência e Tecnologia

A formação da imagem durante uma microscopia eletrônica de varredura (MEV) decorre da interação entre o feixe de elétrons acelerados e a amostra, promovendo processos de espalhamento elástico ou inelástico. Nesse contexto, cada tipo de elétrons gerado contribui com finalidades distintas para a construção da imagem.

Assinale a alternativa correta que apresenta os dois tipos usuais de elétrons que são utilizados na obtenção da imagem e suas respectivas definições.

A

Elétrons secundários e retroespalhados. Os do primeiro tipo são responsáveis por revelar a topografia da amostra, enquanto os do segundo tipo estão associados à variação da composição química da amostra.

B

Elétrons secundários e retroespalhados. Os do primeiro tipo estão associados à variação da composição química da amostra, enquanto os do segundo tipo são responsáveis por revelar a topografia da amostra.

C

Elétrons primários e secundários. O primeiro refere- -se às alterações na composição elementar fornecendo contraste, e o segundo é responsável pelo contraste relacionado à topografia da amostra.

D

Elétrons primários e secundários. O primeiro é responsável pelo contraste relacionado à topografia da amostra, e o segundo refere-se às alterações na composição elementar, fornecendo contraste.

E

Elétrons primários e secundários. O primeiro e o segundo referem-se às alterações na composição elementar do material, porém a questão do contraste topográfico é obtida com subtração da carga de cada tipo de elétron.

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Q3635139

Ano: 2025 Banca: VUNESP Órgão: UNESP Prova: VUNESP - 2025 - UNESP - Assistente de Suporte Acadêmico III - Área de Atuação: Microscopia, Análise de Imagens e Caracterização de Materiais - Edital nº 177 |

Q3635139 Ciência e Tecnologia

A resolução de um microscópio eletrônico de varredura é usualmente entre 1 e 10 nm. Essa resolução só é possível de ser alcançada através de um conjunto de componentes.

Assinale a alternativa que apresenta todos os componentes que, em conjunto, tem como objetivo melhorar a resolução da imagem obtida.

A

Bomba mecânica, canhão de elétrons de tungstênio, lentes magnéticas.

B

Bomba turbo molecular, monocromador, pinhole, lentes magnéticas.

C

Bomba mecânica, canhão de elétrons de hexaboreto de lantânio, condensador.

D

Bomba difusora, canhão de elétrons de hexaboreto de lantânio, filtro de fase.

E

Bomba turbo molecular, canhão de elétrons de tungstênio, lentes magnéticas.

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Q3635140

Ano: 2025 Banca: VUNESP Órgão: UNESP Prova: VUNESP - 2025 - UNESP - Assistente de Suporte Acadêmico III - Área de Atuação: Microscopia, Análise de Imagens e Caracterização de Materiais - Edital nº 177 |

Q3635140 Ciência e Tecnologia

A preparação e as medidas de amostras por microscopia de força atômica (AFM) requerem uma atenção especial, porque

A

o ambiente de operação é altamente corrosivo, exigindo metalização prévia.

B

a amostra deve ser metálica para possibilitar a aquisição da imagem por AFM.

C

o modo de contraste exige superfícies com alta condutividade térmica.

D

irregularidades topográficas elevadas podem causar danos a ponta do cantiléver.

E

a medida AFM é conduzida em atmosfera inerte para prevenir reações superficiais na amostra.

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Q3635142

Ano: 2025 Banca: VUNESP Órgão: UNESP Prova: VUNESP - 2025 - UNESP - Assistente de Suporte Acadêmico III - Área de Atuação: Microscopia, Análise de Imagens e Caracterização de Materiais - Edital nº 177 |

Q3635142 Ciência e Tecnologia

Simulações computacionais, como o método de Monte Carlo, são amplamente utilizadas em diversas áreas da ciência, incluindo a microscopia, por sua capacidade de prever a trajetória e o comportamento dos elétrons ao interagirem com a amostra.

Com base na aplicação desse método, assinale a alternativa correta.

A

A simulação é útil apenas para determinar a trajetória de elétrons que possuem espalhamento elástico.

B

A simulação tem como objetivo estimar a profundidade de penetração e o volume de interação do elétron com o material.

C

A simulação é útil para determinar apenas a trajetória de elétrons que possuem espalhamento inelástico.

D

A simulação quando realizada durante a medida diminui o tempo necessário para obter uma imagem da amostra.

E

A simulação não pode ser utilizada para simular a trajetória do elétron quando se trata de um material de múltipla interface.

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Q3635143

Ano: 2025 Banca: VUNESP Órgão: UNESP Prova: VUNESP - 2025 - UNESP - Assistente de Suporte Acadêmico III - Área de Atuação: Microscopia, Análise de Imagens e Caracterização de Materiais - Edital nº 177 |

Q3635143 Ciência e Tecnologia

Durante a preparação de uma amostra sólida para ser analisada por microscopia eletrônica de varredura, certas etapas são necessárias para garantir a qualidade da imagem e evitar artefatos e ainda possíveis danos às amostras.

Nesse contexto, assinale a alternativa correta.

A

Em caso de uma amostra condutora, deve-se fixá-la ao porta-amostra com uma fita isolante.

B

Em caso de uma amostra biológica, nenhum tratamento precisa ser realizado previamente à análise.

C

Em caso de amostra não condutora, deve-se revestir a amostra com uma fina camada metálica condutora.

D

Em caso de amostra em pó e não condutora, deve-se aderir o material com o uso de solvente.

E

Em caso de materiais geológicos, como rochas, a limpeza com o uso de solvente é necessária.

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Q3635144

Ano: 2025 Banca: VUNESP Órgão: UNESP Prova: VUNESP - 2025 - UNESP - Assistente de Suporte Acadêmico III - Área de Atuação: Microscopia, Análise de Imagens e Caracterização de Materiais - Edital nº 177 |

Q3635144 Ciência e Tecnologia

Durante a caracterização de uma amostra de compósito polimérico com inclusões nanométricas, verificou-se que o microscópio eletrônico de varredura (MEV) não fornecia as informações desejadas. Diante dessa limitação, foi considerada a utilização do microscópio eletrônico de transmissão (MET).

Com base nas capacidades e limitações de cada técnica, qual é a principal limitação do MEV que justifica a escolha pelo MET?

A

Capacidade de obter uma estrutura 3D.

B

Capacidade de revelar estruturas internas.

C

Capacidade de analisar topografia.

D

Capacidade de identificar elementos químicos.

E

Capacidade de análise em condições ambientais.

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Q3635145

Ano: 2025 Banca: VUNESP Órgão: UNESP Prova: VUNESP - 2025 - UNESP - Assistente de Suporte Acadêmico III - Área de Atuação: Microscopia, Análise de Imagens e Caracterização de Materiais - Edital nº 177 |

Q3635145 Ciência e Tecnologia

Sobre a parte óptica de um microscópio eletrônico de transmissão (MET), é correto afirmar que

A

um estigmatizador é utilizado para corrigir aberrações cromáticas das lentes e não alterar a resolução da imagem.

B

as lentes do MET contribuem igualmente para a magnificação e são responsáveis por garantir melhor resolução da imagem.

C

no MET, a ampliação da imagem é diretamente proporcional à energia do elétron acelerado.

D

é necessário, no mínimo, um conjunto de duas lentes que, juntas, produzem uma imagem ampliada e um estigmatizador.

E

o efeito Schottky aumenta a altura da barreira de potencial que mantém os elétrons dentro do cátodo, regulando a densidade de corrente de emissão.

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Q3635148

Ano: 2025 Banca: VUNESP Órgão: UNESP Prova: VUNESP - 2025 - UNESP - Assistente de Suporte Acadêmico III - Área de Atuação: Microscopia, Análise de Imagens e Caracterização de Materiais - Edital nº 177 |

Q3635148 Ciência e Tecnologia

A espectroscopia de raios X por dispersão de energia (EDS) é uma técnica analítica para a análise elementar ou caracterização química de uma amostra.

Sobre o EDS, assinale a alternativa correta.

A

A composição é determinada pela análise das emissões de raios X, com correção do fundo contínuo e aplicação de fatores como o ZAF (número atômico, absorção e fluorescência).

B

A técnica EDS fornece proporções relativas dos elementos presentes na amostra, permitindo uma análise qualitativa precisa da composição.

C

Distingue diretamente os elementos da amostra, através dos seus detectores, obtendo valores relativos à composição total real.

D

Permite quantificar com precisão concentrações inferiores a 200 ppm, inclusive de elementos de baixo número atômico.

E

As medidas são extremamente lentas, uma vez que escaneia um comprimento de onda por vez.

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Q3635149

Ano: 2025 Banca: VUNESP Órgão: UNESP Prova: VUNESP - 2025 - UNESP - Assistente de Suporte Acadêmico III - Área de Atuação: Microscopia, Análise de Imagens e Caracterização de Materiais - Edital nº 177 |

Q3635149 Ciência e Tecnologia

No contexto do processamento e da análise de imagens digitais em microscopia, devem ser considerados aspectos relacionados à aquisição de imagens, aos tipos de câmera digitais e aos formatos de arquivos.

Em relação às características mencionadas, assinale a alternativa correta.

A

Os formatos de arquivo, como o TIFF, comprimem os dados, o que pode resultar na perda de informações relevantes para a análise quantitativa.

B

A aquisição de imagens digitais não depende da calibração do sistema, pois qualquer erro pode ser corrigido posteriormente no tratamento da imagem.

C

Câmeras CCD e CMOS constituem os tipos mais comuns em microscopia, oferecendo uma boa sensibilidade e velocidade de captura de imagens.

D

O formato de arquivo JPEG mostra-se ideal para o arquivamento de dados, pois sua compressão é eficiente e não gera perda de dados.

E

A qualidade da imagem digital é determinada apenas pela qualidade e magnificação da lente do microscópio, sendo independente da câmera utilizada.

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Q3635150

Ano: 2025 Banca: VUNESP Órgão: UNESP Prova: VUNESP - 2025 - UNESP - Assistente de Suporte Acadêmico III - Área de Atuação: Microscopia, Análise de Imagens e Caracterização de Materiais - Edital nº 177 |

Q3635150 Ciência e Tecnologia

De modo semelhante à microscopia de luz transmitida, a microscopia eletrônica de transmissão (MET), baseia- -se nas interações entre um feixe incidente e a amostra para formar imagem. Na MET, variações na intensidade do feixe transmitido ocorrem devido a fenômenos como absorção, espalhamento e difração. A partir dessas interações e utilizando diferentes modos de operação, é possível gerar tipos distintos de imagem, que fornecem informações complementares às micrografias de campo claro, usualmente empregadas.

Sobre os diferentes modos de formação de imagens em MET, assinale a alternativa correta.

A

As imagens obtidas no modo de campo escuro apresentam melhor resolução que as imagens obtidas em campo claro sem a necessidade do uso de um sistema de deflexão.

B

No modo de contraste de fase, diferenças na orientação cristalina tornam-se visíveis, pois os elétrons que atravessam colunas atômicas sofrem um atraso de fase em relação aos que passam entre elas.

C

Na microscopia eletrônica de transmissão, imagens de contraste de fase são obtidas por meio do processamento de imagens de alta resolução adquiridas em modo de campo claro.

D

O modo de campo claro destaca principalmente as regiões que espalham fortemente os elétrons, aparecendo mais brilhante que as regiões que espalham menos os elétrons.

E

No modo de campo escuro, a imagem é formada apenas pelos elétrons não espalhados que atravessam a amostra, criando um contraste por absorção diferencial.

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Q3635151

Ano: 2025 Banca: VUNESP Órgão: UNESP Prova: VUNESP - 2025 - UNESP - Assistente de Suporte Acadêmico III - Área de Atuação: Microscopia, Análise de Imagens e Caracterização de Materiais - Edital nº 177 |

Q3635151 Ciência e Tecnologia

Na Microscopia de Força Atômica (AFM), diferentes modos de operação são utilizados conforme o tipo de amostra e o tipo de informação que se deseja obter.

Sobre os modos de análise que são classificados em contato, dinâmico e fase, é correto afirmar que

A

no modo de contato, a ponta oscila próximo à frequência de ressonância para minimizar interação com a amostra.

B

o modo dinâmico é mais adequado para amostras rígidas e irregulares, pois exerce maior força sobre a superfície.

C

o modo de fase fornece informações sobre as propriedades da amostra, operando sem contato direto da ponta com a superfície.

D

o modo de contato obtém imagens de altíssima resolução e é o mais rápido entre os modos topográficos.

E

o modo de contato é o mais indicado para amostras macias e facilmente deformáveis.

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Questões de Concurso Público UNESP 2025 para Assistente de Suporte Acadêmico III - Área de Atuação: Microscopia, Análise de Imagens e Caracterização de Materiais - Edital nº 177

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