Na Microscopia de Força Atômica (AFM), diferentes modos de ...

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Ano: 2025 Banca: VUNESP Órgão: UNESP Prova: VUNESP - 2025 - UNESP - Assistente de Suporte Acadêmico III - Área de Atuação: Microscopia, Análise de Imagens e Caracterização de Materiais - Edital nº 177 |

Q3635151 Ciência e Tecnologia

Na Microscopia de Força Atômica (AFM), diferentes modos de operação são utilizados conforme o tipo de amostra e o tipo de informação que se deseja obter.

Sobre os modos de análise que são classificados em contato, dinâmico e fase, é correto afirmar que

no modo de contato, a ponta oscila próximo à frequência de ressonância para minimizar interação com a amostra.

o modo dinâmico é mais adequado para amostras rígidas e irregulares, pois exerce maior força sobre a superfície.

o modo de fase fornece informações sobre as propriedades da amostra, operando sem contato direto da ponta com a superfície.

o modo de contato obtém imagens de altíssima resolução e é o mais rápido entre os modos topográficos.

o modo de contato é o mais indicado para amostras macias e facilmente deformáveis.

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