Questões de Concurso Público CPRM 2025 para Analista em Geociências - Engenharia Eletrônica

Foram encontradas 70 questões

Q3760956 Engenharia Eletrônica
Entre os componentes mais importantes de um sistema de espectrometria de massa está o computador composto de software, hardware e firmware, que realiza três operações básicas: controle; aquisição e processamento; e interpretação dos dados.
São tarefas executadas durante a etapa de interpretação:
Alternativas
Q3760957 Engenharia Eletrônica
O motor BLDC (Brushless DC Motor), muito utilizado em bombas termomoleculares 
Alternativas
Q3760958 Engenharia Eletrônica
Um sistema de HV (High Vacuum) é composto de uma bomba de íons e sua unidade de controle.
A unidade de controle é a responsável por fornecer a tensão e corrente necessárias para o funcionamento da bomba de íons, bem como realizar o monitoramento da pressão e temperatura da câmara de vácuo. Possui dois modos de operação: INICIALIZAÇÃO e NORMAL.
O gráfico abaixo apresenta a curva de potência em função da tensão e corrente na saída da unidade de controle durante o início de operação (INICIALIZAÇÃO) de obtenção de vácuo.
q_43 ee.png (507×264)

Analise as afirmativas a seguir, relativas ao modo INICIALIZAÇÃO da bomba de íons:
I. a pressão diminui à medida que a tensão diminui.
II. a pressão diminui à medida que a corrente diminui.
III. O valor mínimo de pressão é obtido quando a potência é aproximadamente 200 Watts.

É correto o que se afirma em:
Alternativas
Q3760959 Engenharia Eletrônica

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As principais áreas de um sistema de ICP-MS que necessitam de inspeção e manutenção periódica são: sistema de introdução de amostra; tocha de plasma; região de interface; ótica iônica; bombas primárias ou de pré-vácuo; e filtros de água e ar.

Analise as afirmativas a seguir relativas à manutenção do nebulizador, componente do sistema de introdução de amostra.

I. Realizar periodicamente nebulização de óleo para checar eventuais obstruções que alteram o padrão do spray.
II. As obstruções podem ser removidas utilizando-se contrapressão com argônio.
III. As obstruções podem ser removidas inserindo-se um fio na ponta do nebulizador, evitando assim a contaminação.

É correto o que se afirma em:
Alternativas
Q3760960 Instrumentação Industrial

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As principais áreas de um sistema de ICP-MS que necessitam de inspeção e manutenção periódica são: sistema de introdução de amostra; tocha de plasma; região de interface; ótica iônica; bombas primárias ou de pré-vácuo; e filtros de água e ar.

Um sistema de ICP-MS apresentou perda de sensibilidade.
Relacione as possíveis causas de perda de sensibilidade ao respectivo componente onde a falha pode ocorrer.
1. tensões de operação das lentes mais elevadas que o normal.
2. depósito de amostra no skimmer.
3. vazamento no dreno da câmara de spray.
( ) sistema de introdução de amostra
( ) ótica iônica.
( ) região de interface

Assinale a opção que indica a relação correta na ordem apresentada:
Alternativas
Q3760961 Engenharia Eletrônica
Existem dois tipos de cabos elétricos utilizados em um sistema de espectrometria de massa: bakeable e non-bakeable. Os cabos do tipo non-bakeable são normalmente utilizados para alimentar
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Q3760962 Física
No contexto do controle de temperatura em um MEV com canhão Schottky FEG (Field Emission Gun), a faixa típica de temperatura da ponta emissora durante a operação estável é
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Q3760963 Engenharia Eletrônica

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Em um multiplicador de dínodos discretos (Secondary Electron Multiplier), o íon se choca em um dínodo de conversão e libera elétrons secundários que são amplificados em vários estágios de dínodos até gerar um pulso detectável na saída do detector.


Este tipo de detector é utilizado em ICP-MS com analisador de massas por quadrupolo e realizam medidas chamadas de contagem de pulsos.


Durante a realização destas medidas, após o detector registrar um pulso durante a detecção de um evento, ocorre um curto intervalo de recuperação conhecido por tempo morto (dead time, r_ee.png (16×25) ), sendo o reflexo do limite de velocidade do circuito de detecção. Durante este intervalo de tempo, o sistema fica temporariamente indisponível e qualquer evento não será contado ou irá distorcer a medida.


Considere o modelo não-paralisável para descrever a taxa de eventos observados R (contagens por segundo - cps) em função da taxa real de eventos r (cps) e o dead time r_ee.png (16×25) (s): 


r_ee 1.png (96×51)

Além das medições de pressão, outros parâmetros também são monitorados nas linhas de vácuo para evitar: água e ar na linha; prevenir contaminação de filmes, óleo e solventes; proteger bombas e válvulas e acelerar o pump-down. Com isso, garante-se que o ICP-MS opere dentro dos valores de pressões alvo e as medidas possuam background baixo e estável.

Os parâmetros controlados são:
Alternativas
Q3760964 Engenharia Eletrônica

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Em um multiplicador de dínodos discretos (Secondary Electron Multiplier), o íon se choca em um dínodo de conversão e libera elétrons secundários que são amplificados em vários estágios de dínodos até gerar um pulso detectável na saída do detector.


Este tipo de detector é utilizado em ICP-MS com analisador de massas por quadrupolo e realizam medidas chamadas de contagem de pulsos.


Durante a realização destas medidas, após o detector registrar um pulso durante a detecção de um evento, ocorre um curto intervalo de recuperação conhecido por tempo morto (dead time, r_ee.png (16×25) ), sendo o reflexo do limite de velocidade do circuito de detecção. Durante este intervalo de tempo, o sistema fica temporariamente indisponível e qualquer evento não será contado ou irá distorcer a medida.


Considere o modelo não-paralisável para descrever a taxa de eventos observados R (contagens por segundo - cps) em função da taxa real de eventos r (cps) e o dead time r_ee.png (16×25) (s): 


r_ee 1.png (96×51)

O dead time também pode ser expresso em porcentagem da taxa real de eventos:
Com o objetivo de melhorar a relação sinal ruído (S/N) e preservar a linearidade nas medidas deve-se
Alternativas
Q3760965 Engenharia Eletrônica

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Em um multiplicador de dínodos discretos (Secondary Electron Multiplier), o íon se choca em um dínodo de conversão e libera elétrons secundários que são amplificados em vários estágios de dínodos até gerar um pulso detectável na saída do detector.


Este tipo de detector é utilizado em ICP-MS com analisador de massas por quadrupolo e realizam medidas chamadas de contagem de pulsos.


Durante a realização destas medidas, após o detector registrar um pulso durante a detecção de um evento, ocorre um curto intervalo de recuperação conhecido por tempo morto (dead time, r_ee.png (16×25) ), sendo o reflexo do limite de velocidade do circuito de detecção. Durante este intervalo de tempo, o sistema fica temporariamente indisponível e qualquer evento não será contado ou irá distorcer a medida.


Considere o modelo não-paralisável para descrever a taxa de eventos observados R (contagens por segundo - cps) em função da taxa real de eventos r (cps) e o dead time r_ee.png (16×25) (s): 


r_ee 1.png (96×51)

O dead time r_ee.png (16×25) de um detector pode ser calculado utilizando-se o método de dois pontos a partir do fator de atenuação onde q_50.png (60×30):

•  q_50 1.png (54×24) são taxas reais de eventos e q_50 2.png (74×26)
•  q_50.png (60×30) são as taxas de eventos observados em relação a q_50 1.png (54×24), respectivamente.

Sabendo-se que para um determinado detector hipotético, os valores medidos foram: q_50 3.png (305×26), o valor de r_ee.png (16×25) , em q_50 4.png (23×23) , considerando o modelo não-paralisável, é aproximadamente
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Q3760966 Engenharia Eletrônica
A curva característica de um detector não-paralisável, quando  é q_51 1.png (31×24)q_51 2.png (43×34)
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Q3760967 Física
Em um microscópio eletrônico, o feixe de elétrons percorre diversos componentes antes de se chocar com a amostra.
Esta sequência corresponde a
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Q3760968 Engenharia Eletrônica
Deseja-se realizar a análise de microtexturas em grãos de feldspato para interpretar história de transporte e diagênese. Para isso, deseja-se obter uma imagem com o microscópio eletrônico.
O detector mais indicado para esta aplicação é 
Alternativas
Q3760969 Engenharia Eletrônica
Quando o feixe de elétrons em um microscópio eletrônico não possui uma seção reta elíptica ao atingir a amostra, observa-se que a nitidez muda ao girar a amostra/imagem.
Para corrigir esta distorção da imagem deve-se 
Alternativas
Q3760970 Engenharia Eletrônica
A qualidade da imagem obtida por um microscópio eletrônico está diretamente relacionada à relação sinal ruído (S/N). Quanto maior a S/N, melhor a nitidez da imagem.
Alguns procedimentos aumentam a relação S/N, entre eles 
Alternativas
Q3760971 Engenharia Eletrônica
Um espectrômetro de massas utiliza diversos tipos de sensores de pressão, que monitoram linhas de vácuo, válvulas e pressão, com faixas de uso e aplicações típicas.
O sensor de pressão mais indicado para a região de interface, pois opera entre 10-6 e 103 mbar e não depende do tipo de gás, é o
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Q3760972 Engenharia Eletrônica
Um laboratório precisa minimizar o MTTR dos seus ICP-MS (quadrupolo) e LC-MS/MS. Deseja-se manter em estoque apenas itens de pronta reposição (line-replaceable, troca menor do que 2 horas).
Assinale a opção que apresenta a escolha adequada de componentes, nesse contexto.
Alternativas
Q3760973 Engenharia Eletrônica
Um laboratório precisa minimizar o MTTR do seu SEM (microscópio eletrônico de varredura). Deseja-se manter em estoque apenas itens de pronta reposição (line-replaceable, troca menor do que 2 horas).
Assinale a opção que apresenta a escolha adequada de componentes, nesse contexto.
Alternativas
Q3760974 Engenharia Eletrônica
No contexto de comunicação entre o computador e equipamentos como ICP-MS e SEM, a interface que oferece a maior taxa de dados bruta nominal é
Alternativas
Q3760975 Engenharia Eletrônica

Um ICP-MS necessita de diferentes tipos de alimentação.


Um dos componentes alimentados por fontes de alta tensão é

Alternativas
Respostas
41: E
42: A
43: B
44: B
45: E
46: E
47: C
48: B
49: A
50: E
51: C
52: D
53: A
54: B
55: C
56: A
57: E
58: A
59: C
60: A