Questões de Concurso Público CTI 2024 para Pesquisador Associado I - Especialidade: Tecnologias Habilitadoras - Área de Atuação: Micro e Nanotecnologia
Foram encontradas 7 questões
Ano: 2024
Banca:
CESPE / CEBRASPE
Órgão:
CTI
Prova:
CESPE / CEBRASPE - 2024 - CTI - Pesquisador Associado I - Especialidade: Tecnologias Habilitadoras - Área de Atuação: Micro e Nanotecnologia |
Q2364388
Engenharia Elétrica
Com relação à operação dos MOSFET, julgue o item a seguir.
O efeito de segunda ordem denominado efeito de corpo
ocorre quando se aplica, ao terminal da fonte do transistor
NMOS, uma tensão maior que a tensão de substrato, o que
leva a um aumento do número de íons negativos da camada
de depleção, sendo necessária uma maior tensão de limiar
para formar o canal.
Ano: 2024
Banca:
CESPE / CEBRASPE
Órgão:
CTI
Prova:
CESPE / CEBRASPE - 2024 - CTI - Pesquisador Associado I - Especialidade: Tecnologias Habilitadoras - Área de Atuação: Micro e Nanotecnologia |
Q2364443
Engenharia Elétrica
Certo dispositivo eletrônico fabricado com estanho (Sn) puro possui espessura igual a 10 mm. A resistividade do estanho a 20 °C é igual a 10−6 Ω∙m, a mobilidade dos elétrons desse dispositivo é igual a 0,0005 m2 /(V∙s) e o coeficiente de temperatura da resistividade do silício é igual a 0,001 °C−1.
Com base nas informações precedentes, julgue o próximo item.
A condutividade elétrica do material de construção do dispositivo em questão é maior que 2×105 (Ω∙m)−1.
Com base nas informações precedentes, julgue o próximo item.
A condutividade elétrica do material de construção do dispositivo em questão é maior que 2×105 (Ω∙m)−1.
Ano: 2024
Banca:
CESPE / CEBRASPE
Órgão:
CTI
Prova:
CESPE / CEBRASPE - 2024 - CTI - Pesquisador Associado I - Especialidade: Tecnologias Habilitadoras - Área de Atuação: Micro e Nanotecnologia |
Q2364444
Engenharia Elétrica
Considerando os diferentes tipos de ensaio para a determinação
da qualidade de produtos e dispositivos eletrônicos, julgue o item subsequente.
Ensaios de microscopia ótica são adequados para a determinação de possíveis defeitos existentes na estrutura de uma placa de circuito impresso.
Ensaios de microscopia ótica são adequados para a determinação de possíveis defeitos existentes na estrutura de uma placa de circuito impresso.
Ano: 2024
Banca:
CESPE / CEBRASPE
Órgão:
CTI
Prova:
CESPE / CEBRASPE - 2024 - CTI - Pesquisador Associado I - Especialidade: Tecnologias Habilitadoras - Área de Atuação: Micro e Nanotecnologia |
Q2364445
Engenharia Elétrica
Considerando os diferentes tipos de ensaio para a determinação da qualidade de produtos e dispositivos eletrônicos, julgue o item subsequente.
Um dispositivo eletrônico submetido a um ensaio para determinação da sua proteção quanto a riscos de incêndios é considerado seguro quando ele não apresenta chama ao ser submetido a uma tensão de circuito aberto de 230 V (com 5% de tolerância) e corrente de curto-circuito igual a 5,75 A (com 5% de tolerância).
Um dispositivo eletrônico submetido a um ensaio para determinação da sua proteção quanto a riscos de incêndios é considerado seguro quando ele não apresenta chama ao ser submetido a uma tensão de circuito aberto de 230 V (com 5% de tolerância) e corrente de curto-circuito igual a 5,75 A (com 5% de tolerância).
Ano: 2024
Banca:
CESPE / CEBRASPE
Órgão:
CTI
Prova:
CESPE / CEBRASPE - 2024 - CTI - Pesquisador Associado I - Especialidade: Tecnologias Habilitadoras - Área de Atuação: Micro e Nanotecnologia |
Q2364447
Engenharia Elétrica
Considerando os diferentes tipos de ensaio para a determinação da qualidade de produtos e dispositivos eletrônicos, julgue o item subsequente.
Em um ensaio de vida acelerado, um produto eletrônico é submetido a condições de operação acima das condições nominais e abaixo dos limites destrutivos do produto, por um tempo de duração preestabelecido.
Em um ensaio de vida acelerado, um produto eletrônico é submetido a condições de operação acima das condições nominais e abaixo dos limites destrutivos do produto, por um tempo de duração preestabelecido.
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