Questões de Concurso para Ciência e Tecnologia

Ano: 2025 Banca: FGV Órgão: CNU Prova: FGV - 2025 - CNU - Bloco Temático 3: Ciência e Tecnologia |

Q3642155 Ciência e Tecnologia

O Sistema Nacional de Ciência, Tecnologia e Inovação (SNCTI) é uma rede articulada de instituições, políticas e instrumentos voltados ao desenvolvimento científico e tecnológico do Brasil. É formado por uma diversidade de atores, com diferentes graus de abrangência em sua atuação, alguns com papel mais estratégico, outros com funções mais específicas.
Sobre o papel desempenhado por cada um desses atores, é correto afirmar que:

A

o Ministério da Ciência, Tecnologia e Inovação (MCTI) exerce a função de coordenador do SNCTI;

B

ao Poder Executivo compete estabelecer normas que regulem e facilitem o pleno desenvolvimento das atividades de CT&I;

C

aos operadores de Ciência, Tecnologia e Inovação (CT&I) compete o domínio dos instrumentos que viabilizarão as decisões tomadas pelos atores políticos;

D

as agências de fomento têm papel crucial ao emanar normas que definem obrigações legais de investimento privado em Pesquisa, Desenvolvimento e Inovação (PD&I), chamadas cláusulas de PD&I;

E

o Ministério do Desenvolvimento, Indústria, Comércio e Serviços (MDIC) exerce a governança do Fundo para o Desenvolvimento Tecnológico das Telecomunicações, um dos principais apoiadores do SNCTI.

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Q3636535

Ano: 2025 Banca: VUNESP Órgão: UNESP Prova: VUNESP - 2025 - UNESP - Assistente de Suporte Acadêmico IV - Área de Atuação: Ciência dos Materiais - Edital nº 196 |

Q3636535 Ciência e Tecnologia

A preparação de amostras para microscopia eletrônica de transmissão (MET) é um processo crítico que envolve várias etapas para garantir a visualização de estruturas internas com alta resolução. Os procedimentos adequados para preparação de uma certa amostra devem ser desenvolvidos especificamente para aquelas amostras, apesar de apresentarem características muitas vezes comuns.

Considerando um material cerâmico, quais são essas etapas comuns para a preparação das amostras?

A

Corte, seccionamento fino, lixamento, polimento e afinamento e afinamento final por ataque químico.

B

Fratura, seccionamento grosso, lixamento, polimento e afinamento e afinamento final por ataque térmico.

C

Corte, seccionamento grosso, lixamento, polimento e afinamento e afinamento final por ataque sônico.

D

Corte, seccionamento fino, lixamento, polimento, afinamento e afinamento final por Ion Milling.

E

Fratura, seccionamento fino, lixamento, polimento e afinamento e afinamento final por ataque químico.

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Q3635151

Ano: 2025 Banca: VUNESP Órgão: UNESP Prova: VUNESP - 2025 - UNESP - Assistente de Suporte Acadêmico III - Área de Atuação: Microscopia, Análise de Imagens e Caracterização de Materiais - Edital nº 177 |

Q3635151 Ciência e Tecnologia

Na Microscopia de Força Atômica (AFM), diferentes modos de operação são utilizados conforme o tipo de amostra e o tipo de informação que se deseja obter.

Sobre os modos de análise que são classificados em contato, dinâmico e fase, é correto afirmar que

A

no modo de contato, a ponta oscila próximo à frequência de ressonância para minimizar interação com a amostra.

B

o modo dinâmico é mais adequado para amostras rígidas e irregulares, pois exerce maior força sobre a superfície.

C

o modo de fase fornece informações sobre as propriedades da amostra, operando sem contato direto da ponta com a superfície.

D

o modo de contato obtém imagens de altíssima resolução e é o mais rápido entre os modos topográficos.

E

o modo de contato é o mais indicado para amostras macias e facilmente deformáveis.

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Q3635150

Ano: 2025 Banca: VUNESP Órgão: UNESP Prova: VUNESP - 2025 - UNESP - Assistente de Suporte Acadêmico III - Área de Atuação: Microscopia, Análise de Imagens e Caracterização de Materiais - Edital nº 177 |

Q3635150 Ciência e Tecnologia

De modo semelhante à microscopia de luz transmitida, a microscopia eletrônica de transmissão (MET), baseia- -se nas interações entre um feixe incidente e a amostra para formar imagem. Na MET, variações na intensidade do feixe transmitido ocorrem devido a fenômenos como absorção, espalhamento e difração. A partir dessas interações e utilizando diferentes modos de operação, é possível gerar tipos distintos de imagem, que fornecem informações complementares às micrografias de campo claro, usualmente empregadas.

Sobre os diferentes modos de formação de imagens em MET, assinale a alternativa correta.

A

As imagens obtidas no modo de campo escuro apresentam melhor resolução que as imagens obtidas em campo claro sem a necessidade do uso de um sistema de deflexão.

B

No modo de contraste de fase, diferenças na orientação cristalina tornam-se visíveis, pois os elétrons que atravessam colunas atômicas sofrem um atraso de fase em relação aos que passam entre elas.

C

Na microscopia eletrônica de transmissão, imagens de contraste de fase são obtidas por meio do processamento de imagens de alta resolução adquiridas em modo de campo claro.

D

O modo de campo claro destaca principalmente as regiões que espalham fortemente os elétrons, aparecendo mais brilhante que as regiões que espalham menos os elétrons.

E

No modo de campo escuro, a imagem é formada apenas pelos elétrons não espalhados que atravessam a amostra, criando um contraste por absorção diferencial.

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Q3635149

Ano: 2025 Banca: VUNESP Órgão: UNESP Prova: VUNESP - 2025 - UNESP - Assistente de Suporte Acadêmico III - Área de Atuação: Microscopia, Análise de Imagens e Caracterização de Materiais - Edital nº 177 |

Q3635149 Ciência e Tecnologia

No contexto do processamento e da análise de imagens digitais em microscopia, devem ser considerados aspectos relacionados à aquisição de imagens, aos tipos de câmera digitais e aos formatos de arquivos.

Em relação às características mencionadas, assinale a alternativa correta.

A

Os formatos de arquivo, como o TIFF, comprimem os dados, o que pode resultar na perda de informações relevantes para a análise quantitativa.

B

A aquisição de imagens digitais não depende da calibração do sistema, pois qualquer erro pode ser corrigido posteriormente no tratamento da imagem.

C

Câmeras CCD e CMOS constituem os tipos mais comuns em microscopia, oferecendo uma boa sensibilidade e velocidade de captura de imagens.

D

O formato de arquivo JPEG mostra-se ideal para o arquivamento de dados, pois sua compressão é eficiente e não gera perda de dados.

E

A qualidade da imagem digital é determinada apenas pela qualidade e magnificação da lente do microscópio, sendo independente da câmera utilizada.

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Q3635148

Ano: 2025 Banca: VUNESP Órgão: UNESP Prova: VUNESP - 2025 - UNESP - Assistente de Suporte Acadêmico III - Área de Atuação: Microscopia, Análise de Imagens e Caracterização de Materiais - Edital nº 177 |

Q3635148 Ciência e Tecnologia

A espectroscopia de raios X por dispersão de energia (EDS) é uma técnica analítica para a análise elementar ou caracterização química de uma amostra.

Sobre o EDS, assinale a alternativa correta.

A

A composição é determinada pela análise das emissões de raios X, com correção do fundo contínuo e aplicação de fatores como o ZAF (número atômico, absorção e fluorescência).

B

A técnica EDS fornece proporções relativas dos elementos presentes na amostra, permitindo uma análise qualitativa precisa da composição.

C

Distingue diretamente os elementos da amostra, através dos seus detectores, obtendo valores relativos à composição total real.

D

Permite quantificar com precisão concentrações inferiores a 200 ppm, inclusive de elementos de baixo número atômico.

E

As medidas são extremamente lentas, uma vez que escaneia um comprimento de onda por vez.

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Q3635145

Ano: 2025 Banca: VUNESP Órgão: UNESP Prova: VUNESP - 2025 - UNESP - Assistente de Suporte Acadêmico III - Área de Atuação: Microscopia, Análise de Imagens e Caracterização de Materiais - Edital nº 177 |

Q3635145 Ciência e Tecnologia

Sobre a parte óptica de um microscópio eletrônico de transmissão (MET), é correto afirmar que

A

um estigmatizador é utilizado para corrigir aberrações cromáticas das lentes e não alterar a resolução da imagem.

B

as lentes do MET contribuem igualmente para a magnificação e são responsáveis por garantir melhor resolução da imagem.

C

no MET, a ampliação da imagem é diretamente proporcional à energia do elétron acelerado.

D

é necessário, no mínimo, um conjunto de duas lentes que, juntas, produzem uma imagem ampliada e um estigmatizador.

E

o efeito Schottky aumenta a altura da barreira de potencial que mantém os elétrons dentro do cátodo, regulando a densidade de corrente de emissão.

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Q3635144

Ano: 2025 Banca: VUNESP Órgão: UNESP Prova: VUNESP - 2025 - UNESP - Assistente de Suporte Acadêmico III - Área de Atuação: Microscopia, Análise de Imagens e Caracterização de Materiais - Edital nº 177 |

Q3635144 Ciência e Tecnologia

Durante a caracterização de uma amostra de compósito polimérico com inclusões nanométricas, verificou-se que o microscópio eletrônico de varredura (MEV) não fornecia as informações desejadas. Diante dessa limitação, foi considerada a utilização do microscópio eletrônico de transmissão (MET).

Com base nas capacidades e limitações de cada técnica, qual é a principal limitação do MEV que justifica a escolha pelo MET?

A

Capacidade de obter uma estrutura 3D.

B

Capacidade de revelar estruturas internas.

C

Capacidade de analisar topografia.

D

Capacidade de identificar elementos químicos.

E

Capacidade de análise em condições ambientais.

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Q3635143

Ano: 2025 Banca: VUNESP Órgão: UNESP Prova: VUNESP - 2025 - UNESP - Assistente de Suporte Acadêmico III - Área de Atuação: Microscopia, Análise de Imagens e Caracterização de Materiais - Edital nº 177 |

Q3635143 Ciência e Tecnologia

Durante a preparação de uma amostra sólida para ser analisada por microscopia eletrônica de varredura, certas etapas são necessárias para garantir a qualidade da imagem e evitar artefatos e ainda possíveis danos às amostras.

Nesse contexto, assinale a alternativa correta.

A

Em caso de uma amostra condutora, deve-se fixá-la ao porta-amostra com uma fita isolante.

B

Em caso de uma amostra biológica, nenhum tratamento precisa ser realizado previamente à análise.

C

Em caso de amostra não condutora, deve-se revestir a amostra com uma fina camada metálica condutora.

D

Em caso de amostra em pó e não condutora, deve-se aderir o material com o uso de solvente.

E

Em caso de materiais geológicos, como rochas, a limpeza com o uso de solvente é necessária.

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Q3635142

Ano: 2025 Banca: VUNESP Órgão: UNESP Prova: VUNESP - 2025 - UNESP - Assistente de Suporte Acadêmico III - Área de Atuação: Microscopia, Análise de Imagens e Caracterização de Materiais - Edital nº 177 |

Q3635142 Ciência e Tecnologia

Simulações computacionais, como o método de Monte Carlo, são amplamente utilizadas em diversas áreas da ciência, incluindo a microscopia, por sua capacidade de prever a trajetória e o comportamento dos elétrons ao interagirem com a amostra.

Com base na aplicação desse método, assinale a alternativa correta.

A

A simulação é útil apenas para determinar a trajetória de elétrons que possuem espalhamento elástico.

B

A simulação tem como objetivo estimar a profundidade de penetração e o volume de interação do elétron com o material.

C

A simulação é útil para determinar apenas a trajetória de elétrons que possuem espalhamento inelástico.

D

A simulação quando realizada durante a medida diminui o tempo necessário para obter uma imagem da amostra.

E

A simulação não pode ser utilizada para simular a trajetória do elétron quando se trata de um material de múltipla interface.

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Q3635140

Ano: 2025 Banca: VUNESP Órgão: UNESP Prova: VUNESP - 2025 - UNESP - Assistente de Suporte Acadêmico III - Área de Atuação: Microscopia, Análise de Imagens e Caracterização de Materiais - Edital nº 177 |

Q3635140 Ciência e Tecnologia

A preparação e as medidas de amostras por microscopia de força atômica (AFM) requerem uma atenção especial, porque

A

o ambiente de operação é altamente corrosivo, exigindo metalização prévia.

B

a amostra deve ser metálica para possibilitar a aquisição da imagem por AFM.

C

o modo de contraste exige superfícies com alta condutividade térmica.

D

irregularidades topográficas elevadas podem causar danos a ponta do cantiléver.

E

a medida AFM é conduzida em atmosfera inerte para prevenir reações superficiais na amostra.

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Q3635139

Ano: 2025 Banca: VUNESP Órgão: UNESP Prova: VUNESP - 2025 - UNESP - Assistente de Suporte Acadêmico III - Área de Atuação: Microscopia, Análise de Imagens e Caracterização de Materiais - Edital nº 177 |

Q3635139 Ciência e Tecnologia

A resolução de um microscópio eletrônico de varredura é usualmente entre 1 e 10 nm. Essa resolução só é possível de ser alcançada através de um conjunto de componentes.

Assinale a alternativa que apresenta todos os componentes que, em conjunto, tem como objetivo melhorar a resolução da imagem obtida.

A

Bomba mecânica, canhão de elétrons de tungstênio, lentes magnéticas.

B

Bomba turbo molecular, monocromador, pinhole, lentes magnéticas.

C

Bomba mecânica, canhão de elétrons de hexaboreto de lantânio, condensador.

D

Bomba difusora, canhão de elétrons de hexaboreto de lantânio, filtro de fase.

E

Bomba turbo molecular, canhão de elétrons de tungstênio, lentes magnéticas.

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Q3635138

Ano: 2025 Banca: VUNESP Órgão: UNESP Prova: VUNESP - 2025 - UNESP - Assistente de Suporte Acadêmico III - Área de Atuação: Microscopia, Análise de Imagens e Caracterização de Materiais - Edital nº 177 |

Q3635138 Ciência e Tecnologia

A formação da imagem durante uma microscopia eletrônica de varredura (MEV) decorre da interação entre o feixe de elétrons acelerados e a amostra, promovendo processos de espalhamento elástico ou inelástico. Nesse contexto, cada tipo de elétrons gerado contribui com finalidades distintas para a construção da imagem.

Assinale a alternativa correta que apresenta os dois tipos usuais de elétrons que são utilizados na obtenção da imagem e suas respectivas definições.

A

Elétrons secundários e retroespalhados. Os do primeiro tipo são responsáveis por revelar a topografia da amostra, enquanto os do segundo tipo estão associados à variação da composição química da amostra.

B

Elétrons secundários e retroespalhados. Os do primeiro tipo estão associados à variação da composição química da amostra, enquanto os do segundo tipo são responsáveis por revelar a topografia da amostra.

C

Elétrons primários e secundários. O primeiro refere- -se às alterações na composição elementar fornecendo contraste, e o segundo é responsável pelo contraste relacionado à topografia da amostra.

D

Elétrons primários e secundários. O primeiro é responsável pelo contraste relacionado à topografia da amostra, e o segundo refere-se às alterações na composição elementar, fornecendo contraste.

E

Elétrons primários e secundários. O primeiro e o segundo referem-se às alterações na composição elementar do material, porém a questão do contraste topográfico é obtida com subtração da carga de cada tipo de elétron.

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Q3635137

Ano: 2025 Banca: VUNESP Órgão: UNESP Prova: VUNESP - 2025 - UNESP - Assistente de Suporte Acadêmico III - Área de Atuação: Microscopia, Análise de Imagens e Caracterização de Materiais - Edital nº 177 |

Q3635137 Ciência e Tecnologia

Algumas amostras que necessitam ser analisadas por microscopia eletrônica de varredura são sensíveis às condições usuais em que o equipamento opera.

Quais são as condições experimentais que são necessárias para esse tipo de medida?

A

Alta temperatura e detector Everhart-Thornley

B

Baixa temperatura e revestimento com camada condutora espessa.

C

Temperatura ambiente e objetiva com abertura ampla.

D

Baixa temperatura e detector anular in-lens (TTL).

E

Alta temperatura e detector de elétrons retrodifundidos.

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Q3635136

Ano: 2025 Banca: VUNESP Órgão: UNESP Prova: VUNESP - 2025 - UNESP - Assistente de Suporte Acadêmico III - Área de Atuação: Microscopia, Análise de Imagens e Caracterização de Materiais - Edital nº 177 |

Q3635136 Ciência e Tecnologia

Medidas realizadas em um microscópio eletrônico de varreduras são usualmente feitas em alto vácuo.

Considerando o processo de formação de imagens, selecione a razão pela qual as medidas são realizadas nessa condição.

A

Permitir que os elétrons atinjam a amostra sem serem dispersos.

B

Para que seja possível usar uma fonte de elétrons de menor potência.

C

Para aumentar a condutividade da amostra e melhorar a resolução da imagem.

D

Para aumentar a detecção de elétrons espalhados apenas inelasticamente.

E

Em equipamentos mais modernos, não é mais necessário o alto vácuo na parte óptica.

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Q3635135

Ano: 2025 Banca: VUNESP Órgão: UNESP Prova: VUNESP - 2025 - UNESP - Assistente de Suporte Acadêmico III - Área de Atuação: Microscopia, Análise de Imagens e Caracterização de Materiais - Edital nº 177 |

Q3635135 Ciência e Tecnologia

A microscopia confocal apresenta diversas vantagens frente a um microscópio convencional. Ela usualmente é utilizada em microscópios de Raman e infravermelho, com o objetivo de obter informação espaciais em alta resolução, principalmente no eixo z, considerando que os eixos x e y formam o plano.

Dentro desse contexto, qual é o principal componente de um microscópio confocal que permite obter imagem no eixo z?

A

Objetivas de imersão.

B

Pinhole.

C

Lentes eletrônicas.

D

Detector.

E

Iluminação por transmissão.

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Q3635134

Ano: 2025 Banca: VUNESP Órgão: UNESP Prova: VUNESP - 2025 - UNESP - Assistente de Suporte Acadêmico III - Área de Atuação: Microscopia, Análise de Imagens e Caracterização de Materiais - Edital nº 177 |

Q3635134 Ciência e Tecnologia

Há diversas vantagens em utilizar lentes eletrostáticas em comparação às lentes magnéticas.

Assinale a alternativa que apresenta exclusivamente as vantagens inerentes às lentes eletrostáticas em comparação às lentes eletromagnéticas.

A

Melhoram a resolução das imagens; melhoram foco em altas vantagens; permitem rotação da imagem; aplicáveis a equipamentos espaciais.

B

Operam com tensões que mudam lentamente; aplicável em equipamentos espaciais; geram menos aberrações nas imagens; menor desvio do foco.

C

Geram menos aberrações nas imagens; não requerem isolamento de alta tensão; podem ser usadas como lente de imersão; sem rotação da imagem.

D

Sem rotação da imagem; são lentes leves; não requerem tensão altamente estável; permitem focalização mais fácil dos elétrons.

E

Não requerem isolamento de alta tensão; podem ser usadas como lentes de imersão; permitem o desenvolvimento de lentes mais finas.

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Q3635133

Ano: 2025 Banca: VUNESP Órgão: UNESP Prova: VUNESP - 2025 - UNESP - Assistente de Suporte Acadêmico III - Área de Atuação: Microscopia, Análise de Imagens e Caracterização de Materiais - Edital nº 177 |

Q3635133 Ciência e Tecnologia

Quando uma imagem permanece embaçada mesmo estando na distância focal ideal, indica que há um tipo de aberração gerado pelas lentes que compõem o sistema óptico.

Assinale a alternativa que apresenta dois tipos de aberrações axiais existentes e como minimizá-las.

A

Astigmatismo e coma. Uso de estigmatizadores dipolares na coluna de deixe de elétrons e obedecer a condição de Abbé Sine.

B

Esférica e cromática. Aumento da distância focal, f, e do semiângulo de convergência, α.

C

Astigmatismo e esférica. Uso de estigmatizadores dipolares na coluna de feixe de elétrons e aumento da distância focal, f.

D

Astigmatismo e cromática. Uso de estigmatizadores quadrupolares na coluna de feixe de elétrons e aumento do semiângulo de convergência, α.

E

Esférica e cromática. Diminuição da distância focal, f, e restrição do semiângulo de convergência, α.

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Q3635132

Ano: 2025 Banca: VUNESP Órgão: UNESP Prova: VUNESP - 2025 - UNESP - Assistente de Suporte Acadêmico III - Área de Atuação: Microscopia, Análise de Imagens e Caracterização de Materiais - Edital nº 177 |

Q3635132 Ciência e Tecnologia

Sobre a manutenção preventiva em microscópios eletrônicos de varredura, assinale a alternativa correta.

A

O filamento deve ser substituído mensalmente, independentemente de seu estado.

B

A câmara dos componentes ópticos deve ser aberta com frequência para inspeções visuais.

C

A bomba de vácuo turbo molecular deve ser mantida ligada continuamente.

D

A limpeza dos detectores de elétrons deve ser feita com álcool isopropílico.

E

A troca do óleo da bomba rotativa deve ser feita apenas quando houver perda de vácuo.

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Q3633962

Ano: 2025 Banca: FURB Órgão: Prefeitura de Camboriú - SC Prova: FURB - 2025 - Prefeitura de Camboriú - SC - Auxiliar de Cadastro |

Q3633962 Ciência e Tecnologia

Associe a segunda coluna de acordo com a primeira, que relaciona os tipos de levantamento com suas respectivas descrições:

Primeira coluna: tipo de levantamento
1.Levantamentos topográficos
2.Levantamentos geodésicos
3.Levantamentos aerofotogramétricos
4.Levantamentos por posicionamento por satélites

Segunda coluna: descrição
(__)São destinados a levantamentos de maiores extensões, onde a curvatura da Terra deve ser considerada. A determinação da localização planimétrica dos pontos pode ser feita por triangulação, poligonação ou trilateração e a altitude.
(__)São baseados na medição de distâncias e ângulos e a aplicação de relações trigonométricas, através de equipamentos analógicos e/ou por estações totais.
(__)Utilizam-se de fotografias aéreas para determinação da posição dos objetos. Estes não prescindem dos dados levantados pelos métodos anteriores, pois é necessário ter pontos de controle com coordenadas conhecidas para a transformação dos pontos das fotos em valores das coordenadas
(__)Fundamentam-se na utilização de rastreadores que recebem ondas eletromagnéticas emitidas de posições conhecidas, permitindo a determinação da posição do objeto na superfície terrestre. São exemplos desse levantamento aqueles realizados com o auxílio de sistema de posicionamento por satélites artificiais, como o GPS e o GLONASS.

Assinale a alternativa que apresenta a correta associação entre as colunas:

A

1 − 3 − 2 − 4.

B

4 − 2 − 3 − 1.

C

2 − 1 − 3 − 4.

D

3 − 1 − 4 − 2.

E

1 − 2 − 3 − 4.

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