Questões de Concurso
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Na figura acima são apresentadas as curvas de tensão (σ) versus deformação (ε) verdadeira e de engenharia, obtidas pelo ensaio de tração, que descrevem graficamente o comportamento de um material sob carregamento de tração uniaxial.
Com base nessas informações, assinale a opção correta.
Julgue o item subsequente, a respeito de filmes finos inorgânicos.
Ao contrário do material em bulk, filmes finos de
semicondutores não podem sofrer um processo de dopagem
para modificar suas propriedades elétricas, porque esse tipo
de processo tende a romper a estrutura cristalina.
Julgue o próximo item, acerca da caracterização de nanomateriais.
Diferentemente da microscopia óptica, que utiliza fonte de
luz visível e lentes eletromagnéticas para produzir imagens
ampliadas na escala micrométrica, a microscopia eletrônica
utiliza feixes de elétrons acelerados e lentes eletrostáticas
para gerar imagens de alta resolução, alcançando a escala
atômica.