Sobre a preparação de amostras para análises por difração de...
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Ano: 2024
Banca:
Instituto Access
Órgão:
CETEM
Prova:
Instituto Access - 2024 - CETEM - Assistente de Pesquisa - Perfil 2 |
Q3486259
Química
Sobre a preparação de amostras para análises por difração de raios
X, analise as afirmativas a seguir:
I. Para minimizar o efeito do deslocamento da amostra, cuidados devem ser tomados na preparação e na fixação (montagem) do material no porta amostras.
II. Uma das falhas mais comuns é o uso de amostras que não foram pulverizadas adequadamente, muitos autores recomendam incorretamente o passante na peneira de malha 325 (44 µm).
III. A moagem excessiva da amostra pode resultar no alargamento dos picos de difração.
IV. A superfície da amostra no porta amostras deve ser plana, sem rugosidades ou curvaturas, e não deve estar inclinada em nenhuma direção.
Assinale
I. Para minimizar o efeito do deslocamento da amostra, cuidados devem ser tomados na preparação e na fixação (montagem) do material no porta amostras.
II. Uma das falhas mais comuns é o uso de amostras que não foram pulverizadas adequadamente, muitos autores recomendam incorretamente o passante na peneira de malha 325 (44 µm).
III. A moagem excessiva da amostra pode resultar no alargamento dos picos de difração.
IV. A superfície da amostra no porta amostras deve ser plana, sem rugosidades ou curvaturas, e não deve estar inclinada em nenhuma direção.
Assinale