A difratometria de raios X corresponde a uma das principais...

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Ano: 2024 Banca: FIOCRUZ Órgão: FIOCRUZ Prova: FIOCRUZ - 2024 - FIOCRUZ - Tecnologista em Saúde Pública - Controle de Qualidade de insumos e medicamentos |

Q3339198 Farmácia

A difratometria de raios X corresponde a uma das principais técnicas de caracterização microestrutural de materiais cristalinos, encontrando aplicações em diversos campos do conhecimento. Sobre a difratometria de raios X, é correto afirmar que:

a intensidade de difração de raios X independe do número de elétrons dos átomos em um dado plano cristalino.

a difração de raios X está relacionada ao espalhamento elástico dos raios X incidentes sobre uma amostra.

as condições para que ocorra a difração de raios X vão depender apenas do comprimento de onda da radiação incidente.

a determinação de tamanho de cristalitos refere-se a uma medida direta, sem a necessidade de comparação com padrão ou calibração instrumental.

os planos de difração e suas respectivas distâncias interplanares, bem como as densidades de átomos, são características comuns a várias substâncias cristalinas.

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