Home Concursos Públicos Questões Q3760976 Um SEM (Scanning electron microscopy) necessita de diferente... Próximas questões Com base no mesmo assunto Q3760976 Física Magnetismo , Ano: 2025 Banca: FGV Órgão: CPRM Prova: FGV - 2025 - CPRM - Analista em Geociências - Engenharia Eletrônica | Q3760976 Física Um SEM (Scanning electron microscopy) necessita de diferentes tipos de alimentação. Um dos componentes que são alimentados por fontes de alta corrente é o Alternativas A WDS - Wavelength Dispersive X-ray Spectrometry. B Estágio de aceleração do feixe de elétrons. C Bomba de íons (UHV – ultra high vacuum). D Lente objetiva eletromagnética. E FEG – Field emission gun. Responder Incorreta. Gabarito oficial da banca: Esse erro também aparece no seu Resumão. Veja o que melhorar teste Parabéns! Você acertou! Esse acerto está no seu Resumão. Ver Resumão da semana teste Ficou com dúvidas? Gabarito Comentado Aulas Comentários Estatísticas Cadernos Criar anotações Notificar Erro Salvar novo filtro Nome do novo filtro