Dois conjuntos de valores de medições, C₁ e C₂, realizadas sobre um mesmo objeto foram obtidos por meio de dois procedimentos distintos, respectivamente P₁ e P₂, em condições completamente especificadas. Em seguida, calculou-se o desvio-padrão a partir dos valores de medições obtidas a partir de cada um dos dois procedimentos, obtendo-se os desvios-padrão de valores s₁ e s₂, respectivamente, para os conjuntos de valores C₁ e C₂, e constatou-se que s₁ < s₂.
Com base na situação hipotética precedente e em noções de metrologia, julgue o item a seguir.
Pelos dados da situação em apreço, conclui-se que o procedimento P₁ permite obter valores de medição mais exatos que o procedimento P₂.