A indexação de dados cristalográficos é um processo
importante para determinar os parâmetros de rede de uma
estrutura cristalina a partir de padrões de difração de pó. A
indexação de dados cristalográficos é
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Considere uma amostra monocristalina submetida a um experimento de difração de raios X usando o método de oscilação. O eixo de rotação é φ. Para coletar dados sob amais alta resolução, devemos
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