Questões de Concurso Público UFAL 2016 para Físico
Foram encontradas 25 questões
Q812324
Física
Em um experimento de interferometria entre dois feixes de luz
laser, uma lâmina de vidro de índice de refração 1,7 e de
espessura t = 9,8 mm é colocada em um dos braços do
interferômetro para ajustar a diferença de caminho óptico entre
eles. Acidentalmente a lâmina foi fixada com uma inclinação de
20° em relação à posição correta. Qual o desvio D sofrido pelo
feixe em relação à direção correta de propagação?
(Considere nAR = 1; sen 20° = 0,34; sen 11,5º = 0,20; cos 11,5° = 0,98;
sen 8,5° = 0,15)
Q812325
Física
O critério para a seleção de uma tecnologia específica para
deposição de filmes finos pode ser baseado numa variedade de
considerações técnicas. A diversidade de tipos de filmes finos de
diferentes materiais pode ser depositada para uma variedade de
aplicações dependendo de sua aplicação. Como se sabe, as
características de um filme fino são diferentes de suas
propriedades como “bulk”. Qual característica do filme depositado
é considerada como decisiva na escolha da tecnologia de
deposição?
Q812326
Física
Um experimento para fabricar micro ou nanoestruturas em um
substrato fotossensível pode ser feito expondo-se o material a um
padrão de intensidade luminoso não uniforme produzido pela
interferência de dois feixes coerentes. Considere dois feixes
coerentes de laser em 532 nm, oriundos da mesma fonte, e que
interferem entre si formando um ângulo de 60º. O padrão de
intensidade produzido pela interferência dos dois feixes incide em
um filme fotossensível e produz uma grade de difração de período
espacial Δ. Nesse contexto, o valor de Δ é
(Dado: sen 30° = 0,5)
Q812327
Física
A microscopia eletrônica de varredura (MEV) é uma técnica
capaz de produzir imagens de alta ampliação (até 300.000 vezes)
e resolução. O princípio de funcionamento do MEV consiste na
emissão de feixes de elétrons por um filamento capilar de
tungstênio (eletrodo negativo), mediante a aplicação de uma
diferença de potencial que pode variar de 0,5 a 30 kV. Essa
variação de voltagem permite a variação da aceleração dos
elétrons, e também provoca o aquecimento do filamento. A parte
positiva em relação ao filamento do microscópio (eletrodo positivo)
atrai fortemente os elétrons gerados, resultando numa aceleração
em direção ao eletrodo positivo. A correção do percurso dos feixes
é realizada pelas lentes condensadoras que alinham os feixes em
direção à abertura da objetiva. A objetiva ajusta o foco dos feixes
de elétrons antes dos elétrons atingirem a amostra analisada.
Disponível em: <www.degeo.ufop.br/laboratorios/microlab/mev.htm . Acesso em: 20 jul. 2016.
Qual é o processo de formação de imagem do MEV e qual a outra
técnica analítica que pode ser associada ao equipamento?
Q812328
Física
Feixes de luz laser geralmente são produzidos com intensidades
luminosas relativamente altas; entretanto, alguns experimentos de
investigação da matéria condensada em laboratórios de pesquisa
exigem intensidades ainda maiores que podem ser obtidas através
do uso de lentes colimadoras de feixes. Um feixe de laser de perfil
circular uniforme com 1,6 mm de diâmetro e 2 W de potência teve
seu diâmetro reduzido 8 vezes ao atravessar uma lente
convergente. Qual a Intensidade do feixe de laser no foco da
lente? (Use π = 3,14)