O PFTBA é utilizado para calibrar os tempos de retenção dos compostos no GC, garantindo sua separação adequada no modo Multiple Reaction Monitoring (MRM).

O autotune com PFTBA permite otimizar automaticamente os três quadrupolos (Q1, q2 e Q3), incluindo os parâmetros de colisão no quadrupolo central.

O PFTBA fornece fragmentos característicos que servem para calibrar e ajustar parâmetros do analisador de massas, principalmente nos quadrupolos Q1 e Q3, responsáveis pela seleção dos íons.

A fragmentação do PFTBA simula as reações de colisão em q2, sendo essencial para calibrar os parâmetros de energia de colisão para cada transição iônica específica.

A eficiência do autotune com PFTBA depende do tipo de coluna cromatográfica utilizada, sendo recomendada para colunas polares devido à maior afinidade com compostos fluorados.

Copo de Faraday não é um analisador de massas. 

Setor magnético não é um analisador de massa. 

Multiplicador de elétrons não é um detector de íons. 

Ionização por plasma indutivamente acoplado não é uma fonte de íons. 

Placa fotográfica não é um detector de íons. 

óptica de alta resolução de (HRLM) que permite observar a microestrutura da liga em alta ampliação, revelando a presença e distribuição dos precipitados, e não é possível obter a composição em ordens abaixo de 100 nm.

óptica de alta resolução de (HRLM) que permite observar a microestrutura da liga em alta ampliação, revelando a presença e distribuição dos precipitados, e a composição é obtida por meio de técnicas de Ressonância Magnética Nuclear (RMN) ao MET.

eletrônica de transmissão (MET) que permite observar a microestrutura da liga em alta ampliação, revelando a presença e distribuição dos precipitados, e a composição é obtida por meio de técnicas Ressonância Magnética Nuclear (RMN) associadas ao MET.

eletrônica de transmissão (MET) que permite observar a microestrutura da liga em alta ampliação, revelando a presença e distribuição dos precipitados, e a composição é obtida por meio de técnicas de difração de raios X associados ao MET – EDS.

óptica de alta resolução (HRLM) que permite observar a microestrutura da liga em alta ampliação, revelando a presença e distribuição dos precipitados, e a composição é obtida por meio de técnicas de difração de raios X associados ao MET-EDS.

na interferência construtiva e destrutiva de um feixe de luz polarizada, o qual é dividido em dois por um divisor de feixe. Cada feixe viaja por caminhos perpendiculares diferentes, refletidos por espelhos, e depois são recombinados, criando um padrão de interferência no detector.

na interferência construtiva e destrutiva de um feixe de luz monocromática, o qual é dividido em dois por um divisor de feixe. Cada feixe viaja por caminhos perpendiculares diferentes, refletidos por espelhos, e depois são recombinados, criando um padrão de interferência no detector.

na difração de um feixe de luz monocromática, o qual é dividido em dois por um divisor de feixe. Cada feixe viaja por caminhos perpendiculares diferentes, refletidos por espelhos, e depois são recombinados, criando um padrão de interferência no detector.

na difração de um feixe de luz monocromática, o qual é dividido em dois por um divisor de feixe. Cada feixe viaja por caminhos paralelos diferentes, refletidos por espelhos, e depois são recombinados, criando um padrão de interferência no detector.

na interferência construtiva e destrutiva de um feixe de luz monocromática, o qual é dividido em dois por um divisor de feixe. Cada feixe viaja por caminhos paralelos diferentes, refletidos por espelhos, e depois são recombinados, criando um padrão de interferência no detector.

Deformação axial simétrica (1); deformação axial assimétrica (4); deformação angular simétrica (2); deformação simétrica fora do plano (3).

Deformação axial simétrica (1); deformação axial assimétrica (4), deformação angular simétrica (2) e deformação assimétrica fora do plano (3).

Deformação axial simétrica (4); deformação axial assimétrica (1), deformação angular simétrica (2) e deformação assimétrica fora do plano (3).

Deformação angular simétrica (1); deformação angular assimétrica (2); deformação axial fora do plano (6). 

Deformação axial simétrica (1); deformação axial assimétrica (2); deformação angular fora do plano (3); deformação simétrica dentro do plano (4).

Para os compostos C/N, o número de onda aumenta do C-N para o C≡N e não é afetado com o aumento da eletronegatividade do ânion.

Para os compostos C/N, o número de onda aumenta do C-N para o C≡N e diminui com o aumento da eletronegatividade do ânion.

Para os compostos C/N, o número de onda aumenta do C-N para o C≡N e também amenta com o aumento da eletronegatividade do ânion.

Para os compostos C/N, o número de onda diminui do C-N para o C≡N e também diminui com o aumento da eletronegatividade do ânion.

Para os compostos C/N, o número de onda não é afetado pela ordem de ligação, mas o aumento da eletronegatividade faz o número de onda aumentar.

30,0 µm.

3,0 µm.

1,3 µm.

13,0 nm.

13,0 µm.

Obter um difratograma de raios X da amostra utilizando um difratômetro de raios X, analisar os picos obtidos (posição 2θ e intensidade do pico), identificar as fases usando o ICDD (International Centre for Diffraction Data). As fases obtidas indicam a composição qualitativa da amostra e somente a análise de Rietveld pode dar informações qualitativas.

Obter um difratograma de raios X da amostra utilizando um difratômetro de raios X, analisar os picos obtidos (posição 2θ e intensidade do pico), identificar as fases usando o ICDD (International Centre for Diffraction Data). As fases obtidas indicam a composição qualitativa da amostra e somente a análise de Rietveld pode dar informações quantitativas.

Obter um difratograma de raios X da amostra utilizando um difratômetro de raios X, analisar os picos obtidos (posição 2θ e intensidade do pico), identificar as fases usando o ICDD (International Centre for Diffraction Data). As fases obtidas indicam a composição qualitativa da amostra, e a largura dos picos a meia altura é usada em sua análise quantitativa.

Obter um difratograma de raios X da amostra utilizando um difratômetro de raios X, analisar os picos obtidos (posição 2θ e intensidade do pico), identificar as fases usando o ICDD (International Centre for Diffraction Data). A altura ou intensidade relativa dos picos é usada para determinar as fases presentes, e a largura dos picos a meia altura é usada na análise quantitativa da amostra.

Obter um difratograma de raios X da amostra utilizando um difratômetro de raios X, analisar os picos obtidos (posição 2θ e intensidade do pico), identificar as fases usando o ICDD (International Centre for Diffraction Data). As fases obtidas indicam a composição qualitativa da amostra, e a intensidade relativa dos picos é usada em sua análise quantitativa.

Técnica que combina a microscopia eletrônica de varredura e de transmissão para obter informações em diferentes escalas de comprimento; (I) SEM e (II) TEM.

Técnica que combina a microscopia eletrônica de varredura e de transmissão para obter informações em diferentes escalas de comprimento; (I) TEM e (II) SEM.

Técnica que combina a microscopia óptica, geralmente na região do infravermelho, com a microscopia eletrônica para obter informações em diferentes escalas de comprimento; (I) SEM e (II) TEM.

Técnica que combina a microscopia óptica, geralmente com fluorescência, com a microscopia eletrônica para obter informações em diferentes escalas de comprimento; (I) SEM e (II) TEM.

Técnica que combina a microscopia óptica, geralmente de fluorescência, com a microscopia eletrônica para obter informações em diferentes escalas de comprimento; (I) TEM e (II) SEM.

quanto menor a tensão, menor o comprimento de onda e, portanto, maior a definição e ampliação obtidas. 

quanto maior a tensão, menor o comprimento de onda e, portanto, menor a definição e ampliação obtidas. 

quanto maior a tensão, menor o comprimento de onda e, portanto, maior a definição e ampliação obtidas. 

quanto maior a tensão, maior o comprimento de onda e, portanto, maior a definição e ampliação obtidas. 

quanto menor a tensão, maior o comprimento de onda e, portanto, maior a definição e ampliação obtidas. 

Os fenômenos de interferência são interferência construtiva e destrutiva; na interferência construtiva, a amplitude dobra de valor e o comprimento de onda se mantém constante e, na interferência destrutiva, a amplitude e o comprimento de onda se anulam.

Os fenômenos de interferência são interferência construtiva e destrutiva; somente ocorrem alterações na interferência destrutiva, tanto a amplitude quanto o comprimento de onda são divididos pela quantidade (n) de raios X difratando.

Os fenômenos de interferência são interferência construtiva e destrutiva; somente ocorrem alterações na interferência construtiva, tanto a amplitude e quanto o comprimento de onda são multiplicados pela quantidade (n) de raios X difratando.

Os fenômenos de interferência são interferência construtiva e destrutiva; na interferência destrutiva, a amplitude dobra de valor e o comprimento de onda se mantém constante e, na interferência construtiva, a amplitude e o comprimento de onda se anulam.

Os fenômenos de interferência são interferência multiplicativa e redutiva; na interferência multiplicativa, a amplitude e o comprimento de onda dobram de valor e, na interferência destrutiva, a amplitude redutiva, a amplitude e o comprimento de onda se reduzem em função do parâmetro (n) que indica a quantidade ou intensidade do feixe de raios X.

Método computacional usado para analisar dados de difração de raios X de materiais não cristalinos, para obter informações detalhadas sobre a morfologia e outras propriedades do material. O método compara um perfil de difração teórico com o perfil experimental, refinando os parâmetros estruturais do modelo até que haja uma boa concordância entre os dois perfis.

Método computacional usado para analisar dados de difração de raios X de materiais cristalinos, para obter informações detalhadas sobre a estrutura cristalina e outras propriedades do material. O método compara um perfil de difração experimental de referência com o perfil experimental estudado, refinando os parâmetros estruturais do modelo até que haja uma boa concordância entre os dois perfis.

Método computacional usado para analisar dados de difração de raios X de materiais cristalinos, para obter informações detalhadas sobre a estrutura cristalina e outras propriedades do material. O método compara um perfil de difração teórico com o perfil experimental, refinando os parâmetros estruturais do modelo até que haja uma boa concordância entre os dois perfis.

Método computacional usado para analisar dados de difração de raios gama de materiais cristalinos, para obter informações detalhadas sobre a estrutura cristalina e outras propriedades do material. O método compara um perfil de difração teórico com o perfil experimental, refinando os parâmetros estruturais do modelo até que haja uma boa concordância entre os dois perfis.

Método computacional usado para analisar dados de difração de raios gama de materiais cristalinos, para obter informações detalhadas sobre a estrutura cristalina e outras propriedades do material. O método compara um perfil de difração experimental de referência com o perfil experimental estudado, refinando os parâmetros estruturais do modelo até que haja uma boa concordância entre os dois perfis.

Espaçamento interplanar = 0,1606 nm e ângulo de difração θ = sen^–1 (0,5899) = 36,15º

Espaçamento interplanar = 0,3615 nm e ângulo de difração θ = sen^–1 (0,2766) = 16,06º

Espaçamento interplanar = 0,02951 nm e ângulo de difração θ = sen^–1 (0,3388) = 19,81º

Espaçamento interplanar = 0,1981 nm e ângulo de difração θ = sen^–1 (0,2951) = 17,16º

Espaçamento interplanar = 0, 1981 nm e ângulo de difração θ = sen^–1 (0,3388) = 19,81º

a energia cinética dos elétrons aumente, o detector EDS mede a energia e cria um espectro. A análise do espectro permite identificar os elementos presentes e determinar suas quantidades.

a energia cinética dos elétrons aumente, o detector EDS mede a energia e cria um espectro. A análise do espectro permite identificar os elementos presentes, porém não permite determinar suas quantidades.

eles emitam raios X, o detector EDS mede a energia dos raios X emitidos e cria um espectro. A análise do espectro permite identificar os elementos presentes, porém não permite determinar suas quantidades.

eles emitam raios X, o detector EDS mede a energia dos raios X emitidos e cria um espectro. A análise do espectro permite identificar os elementos presentes e determinar suas quantidades.

eles emitam raios gama, o detector de EDS mede a energia dos raios gama emitidos e cria um espectro. A análise do espectro permite identificar os elementos presentes e determinar suas quantidades.

É indicativo da presença de CO₂ atmosférico ou em inclusões fluidas, esses picos podem ser confundidos com contaminação.

É indicativo unicamente de que a amostra foi contaminada. 

É indicativo de que o equipamento perdeu a calibração. 

É indicativo de que o KBr utilizado na preparação da amostra perdeu a validade. 

Raramente aparecem picos de CO₂ em amostras que não contenham o CO₂ em sua composição.