O estudo topográfico de varredura utiliza, para a geração de imagens, elétrons
secundários produzidos por ionização da amostra e da camada metálica que a reveste. De acordo
com Silveira (2011), em Técnicas de Microscopia Eletrônica Aplicadas às Ciências Biológicas, os
parâmetros mais importantes para a formação de imagens no Microscópio Eletrônico de Varredura
(MEV) são: