O padrão interno é um composto estruturalmente diferente do analito, adicionado às amostras brutas e utilizado para avaliar a recuperação absoluta do método. 

O surrogate standard é um composto idêntico ao analito, preferencialmente marcado isotopicamente, utilizado para a construção de curva de calibração externa.

O padrão interno deve ser adicionado a todas as amostras e padrões analíticos em concentração constante, sendo usado para corrigir variações de injeção, extração e ionização.

O uso de surrogate standard em LC-MS/MS dispensa a construção de curva de calibração, pois a resposta relativa entre o analito e surrogate é suficiente para quantificação direta. 

O padrão interno é utilizado em métodos qualitativos e deve ser removido antes da injeção no sistema para evitar interferência no espectro de massas.

A seletividade de um método em um cromatógrafo a gás acoplado a um espectrômetro de massas (GC-MS) é considerada adequada quando o tempo de retenção do analito for igual ao do padrão em branco, mesmo que haja coeluição de compostos na matriz.

A linearidade deve ser avaliada visualmente, e, se o coeficiente de correlação (r2) for superior a 0,95, o método é considerado linear, sem necessidade de se realizar a análise de resíduos.

O limite de quantificação (LQ) pode ser definido como a menor concentração com sinal três vezes superior ao ruído, desde que a precisão não ultrapasse 20% de desvio padrão relativo (RSD).

A exatidão deve ser realizada por recuperação do analito adicionado à matriz, e os valores aceitáveis ficam entre 70% e 120%, conforme as concentrações analisadas.

A precisão intermediária deve ser avaliada em triplicata no mesmo dia e pelo mesmo analista, variando o instrumento cromatográfico.

O acoplamento GC-MS é possível porque o espectrômetro de massas opera em condições de alta pressão, compatíveis com a pressão de saída da coluna capilar.

O GC separa compostos líquidos a temperatura ambiente e os injeta diretamente no analisador de massas, que registra suas massas moleculares sem necessidade de ionização.

A interface entre GC e o MS deve manter o vácuo necessário para o funcionamento do espectrômetro, permitindo a transferência eficiente dos analitos na fase gasosa.

A utilização de gases reagentes na cromatografia a gás permite aumentar a sensibilidade da detecção no espectrômetro de massas.

O espectrômetro de massas realiza a separação dos analitos com base em sua volatilidade, complementando a separação realizada pelo GC com base na massa molecular.

O PFTBA é utilizado para calibrar os tempos de retenção dos compostos no GC, garantindo sua separação adequada no modo Multiple Reaction Monitoring (MRM).

O autotune com PFTBA permite otimizar automaticamente os três quadrupolos (Q1, q2 e Q3), incluindo os parâmetros de colisão no quadrupolo central.

O PFTBA fornece fragmentos característicos que servem para calibrar e ajustar parâmetros do analisador de massas, principalmente nos quadrupolos Q1 e Q3, responsáveis pela seleção dos íons.

A fragmentação do PFTBA simula as reações de colisão em q2, sendo essencial para calibrar os parâmetros de energia de colisão para cada transição iônica específica.

A eficiência do autotune com PFTBA depende do tipo de coluna cromatográfica utilizada, sendo recomendada para colunas polares devido à maior afinidade com compostos fluorados.

Copo de Faraday não é um analisador de massas. 

Setor magnético não é um analisador de massa. 

Multiplicador de elétrons não é um detector de íons. 

Ionização por plasma indutivamente acoplado não é uma fonte de íons. 

Placa fotográfica não é um detector de íons. 

óptica de alta resolução de (HRLM) que permite observar a microestrutura da liga em alta ampliação, revelando a presença e distribuição dos precipitados, e não é possível obter a composição em ordens abaixo de 100 nm.

óptica de alta resolução de (HRLM) que permite observar a microestrutura da liga em alta ampliação, revelando a presença e distribuição dos precipitados, e a composição é obtida por meio de técnicas de Ressonância Magnética Nuclear (RMN) ao MET.

eletrônica de transmissão (MET) que permite observar a microestrutura da liga em alta ampliação, revelando a presença e distribuição dos precipitados, e a composição é obtida por meio de técnicas Ressonância Magnética Nuclear (RMN) associadas ao MET.

eletrônica de transmissão (MET) que permite observar a microestrutura da liga em alta ampliação, revelando a presença e distribuição dos precipitados, e a composição é obtida por meio de técnicas de difração de raios X associados ao MET – EDS.

óptica de alta resolução (HRLM) que permite observar a microestrutura da liga em alta ampliação, revelando a presença e distribuição dos precipitados, e a composição é obtida por meio de técnicas de difração de raios X associados ao MET-EDS.

na interferência construtiva e destrutiva de um feixe de luz polarizada, o qual é dividido em dois por um divisor de feixe. Cada feixe viaja por caminhos perpendiculares diferentes, refletidos por espelhos, e depois são recombinados, criando um padrão de interferência no detector.

na interferência construtiva e destrutiva de um feixe de luz monocromática, o qual é dividido em dois por um divisor de feixe. Cada feixe viaja por caminhos perpendiculares diferentes, refletidos por espelhos, e depois são recombinados, criando um padrão de interferência no detector.

na difração de um feixe de luz monocromática, o qual é dividido em dois por um divisor de feixe. Cada feixe viaja por caminhos perpendiculares diferentes, refletidos por espelhos, e depois são recombinados, criando um padrão de interferência no detector.

na difração de um feixe de luz monocromática, o qual é dividido em dois por um divisor de feixe. Cada feixe viaja por caminhos paralelos diferentes, refletidos por espelhos, e depois são recombinados, criando um padrão de interferência no detector.

na interferência construtiva e destrutiva de um feixe de luz monocromática, o qual é dividido em dois por um divisor de feixe. Cada feixe viaja por caminhos paralelos diferentes, refletidos por espelhos, e depois são recombinados, criando um padrão de interferência no detector.

Deformação axial simétrica (1); deformação axial assimétrica (4); deformação angular simétrica (2); deformação simétrica fora do plano (3).

Deformação axial simétrica (1); deformação axial assimétrica (4), deformação angular simétrica (2) e deformação assimétrica fora do plano (3).

Deformação axial simétrica (4); deformação axial assimétrica (1), deformação angular simétrica (2) e deformação assimétrica fora do plano (3).

Deformação angular simétrica (1); deformação angular assimétrica (2); deformação axial fora do plano (6). 

Deformação axial simétrica (1); deformação axial assimétrica (2); deformação angular fora do plano (3); deformação simétrica dentro do plano (4).

Para os compostos C/N, o número de onda aumenta do C-N para o C≡N e não é afetado com o aumento da eletronegatividade do ânion.

Para os compostos C/N, o número de onda aumenta do C-N para o C≡N e diminui com o aumento da eletronegatividade do ânion.

Para os compostos C/N, o número de onda aumenta do C-N para o C≡N e também amenta com o aumento da eletronegatividade do ânion.

Para os compostos C/N, o número de onda diminui do C-N para o C≡N e também diminui com o aumento da eletronegatividade do ânion.

Para os compostos C/N, o número de onda não é afetado pela ordem de ligação, mas o aumento da eletronegatividade faz o número de onda aumentar.

30,0 µm.

3,0 µm.

1,3 µm.

13,0 nm.

13,0 µm.

Obter um difratograma de raios X da amostra utilizando um difratômetro de raios X, analisar os picos obtidos (posição 2θ e intensidade do pico), identificar as fases usando o ICDD (International Centre for Diffraction Data). As fases obtidas indicam a composição qualitativa da amostra e somente a análise de Rietveld pode dar informações qualitativas.

Obter um difratograma de raios X da amostra utilizando um difratômetro de raios X, analisar os picos obtidos (posição 2θ e intensidade do pico), identificar as fases usando o ICDD (International Centre for Diffraction Data). As fases obtidas indicam a composição qualitativa da amostra e somente a análise de Rietveld pode dar informações quantitativas.

Obter um difratograma de raios X da amostra utilizando um difratômetro de raios X, analisar os picos obtidos (posição 2θ e intensidade do pico), identificar as fases usando o ICDD (International Centre for Diffraction Data). As fases obtidas indicam a composição qualitativa da amostra, e a largura dos picos a meia altura é usada em sua análise quantitativa.

Obter um difratograma de raios X da amostra utilizando um difratômetro de raios X, analisar os picos obtidos (posição 2θ e intensidade do pico), identificar as fases usando o ICDD (International Centre for Diffraction Data). A altura ou intensidade relativa dos picos é usada para determinar as fases presentes, e a largura dos picos a meia altura é usada na análise quantitativa da amostra.

Obter um difratograma de raios X da amostra utilizando um difratômetro de raios X, analisar os picos obtidos (posição 2θ e intensidade do pico), identificar as fases usando o ICDD (International Centre for Diffraction Data). As fases obtidas indicam a composição qualitativa da amostra, e a intensidade relativa dos picos é usada em sua análise quantitativa.

Técnica que combina a microscopia eletrônica de varredura e de transmissão para obter informações em diferentes escalas de comprimento; (I) SEM e (II) TEM.

Técnica que combina a microscopia eletrônica de varredura e de transmissão para obter informações em diferentes escalas de comprimento; (I) TEM e (II) SEM.

Técnica que combina a microscopia óptica, geralmente na região do infravermelho, com a microscopia eletrônica para obter informações em diferentes escalas de comprimento; (I) SEM e (II) TEM.

Técnica que combina a microscopia óptica, geralmente com fluorescência, com a microscopia eletrônica para obter informações em diferentes escalas de comprimento; (I) SEM e (II) TEM.

Técnica que combina a microscopia óptica, geralmente de fluorescência, com a microscopia eletrônica para obter informações em diferentes escalas de comprimento; (I) TEM e (II) SEM.

quanto menor a tensão, menor o comprimento de onda e, portanto, maior a definição e ampliação obtidas. 

quanto maior a tensão, menor o comprimento de onda e, portanto, menor a definição e ampliação obtidas. 

quanto maior a tensão, menor o comprimento de onda e, portanto, maior a definição e ampliação obtidas. 

quanto maior a tensão, maior o comprimento de onda e, portanto, maior a definição e ampliação obtidas. 

quanto menor a tensão, maior o comprimento de onda e, portanto, maior a definição e ampliação obtidas. 

Os fenômenos de interferência são interferência construtiva e destrutiva; na interferência construtiva, a amplitude dobra de valor e o comprimento de onda se mantém constante e, na interferência destrutiva, a amplitude e o comprimento de onda se anulam.

Os fenômenos de interferência são interferência construtiva e destrutiva; somente ocorrem alterações na interferência destrutiva, tanto a amplitude quanto o comprimento de onda são divididos pela quantidade (n) de raios X difratando.

Os fenômenos de interferência são interferência construtiva e destrutiva; somente ocorrem alterações na interferência construtiva, tanto a amplitude e quanto o comprimento de onda são multiplicados pela quantidade (n) de raios X difratando.

Os fenômenos de interferência são interferência construtiva e destrutiva; na interferência destrutiva, a amplitude dobra de valor e o comprimento de onda se mantém constante e, na interferência construtiva, a amplitude e o comprimento de onda se anulam.

Os fenômenos de interferência são interferência multiplicativa e redutiva; na interferência multiplicativa, a amplitude e o comprimento de onda dobram de valor e, na interferência destrutiva, a amplitude redutiva, a amplitude e o comprimento de onda se reduzem em função do parâmetro (n) que indica a quantidade ou intensidade do feixe de raios X.