Questões de Concurso
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Com base nessa situação, qual é a causa mais provável do problema e a ação imediata mais apropriada?
Nesse contexto, assinale a alternativa que explica corretamente a causa do problema e apresenta a melhor solução.
Com base nessa situação, assinale a alternativa que melhor explica o problema e sua respectiva solução.
Assinale a alternativa que descreve corretamente as etapas do protocolo dessa técnica.
Com base nas características e aplicações das resinas utilizadas em microscopia eletrônica de transmissão, assinale a alternativa que apresenta a escolha mais adequada para cada amostra.
Dentre as opções a seguir, em qual área de aplicação essa resina é recomendada?
Com base no texto, assinale a alternativa que apresenta a ordem correta de aplicação da metodologia desenvolvida para a melhoria da qualidade das imagens obtidas por microscopia eletrônica de transmissão.
A que metodologia o texto se refere?
Legenda: Imagens de mesma região da amostra de cerâmica adquiridas a partir de elétrons secundários com efeitos negativos (imagem da esquerda) e com melhoria da qualidade (imagem da direita) da imagem.
Disponível em: https://www.jeol.com/words/semterms/20121024.054158.php#gsc.tab=0. Acesso em: 16 jun. 2025.
Dentre as opções a seguir, qual deve ser utilizada para minimizar esses efeitos negativos e, assim, melhorar a qualidade da imagem?
Analise o texto a seguir.
As lentes ___________ ajustam o foco variando a corrente elétrica que passa por elas, o que altera ___________. Uma corrente mais forte causa ________ refração do feixe de elétrons, resultando em um(a) ___________.
Assinale a alterativa que completa correta e respectivamente esse texto.
Com base nessa descrição, assinale a alternativa correta.
Em situações como esta, qual conduta permite o incremento do contraste durante a análise da amostra?
I. A topografia da amostra e o ângulo no qual o feixe de elétrons a atinge interferem no contraste de imagens geradas por elétrons secundários.
II. A fonte de elétrons termiônica gera feixe de elétrons mais coerente e com maior brilho do que o canhão de elétrons de emissão de campo (FEG – “Field Emission Gun”).
III. Diferenças no número atômico da amostra interferem na detecção de elétrons retroespalhados.
IV. As lentes eletromagnéticas do MEV controlam o diâmetro do feixe de elétrons.
Está(ão) correta(s) a(s) afirmativa(s)