É indicativo da presença de CO₂ atmosférico ou em inclusões fluidas, esses picos podem ser confundidos com contaminação.

É indicativo unicamente de que a amostra foi contaminada. 

É indicativo de que o equipamento perdeu a calibração. 

É indicativo de que o KBr utilizado na preparação da amostra perdeu a validade. 

Raramente aparecem picos de CO₂ em amostras que não contenham o CO₂ em sua composição.

a energia cinética dos elétrons aumente, o detector EDS mede a energia e cria um espectro. A análise do espectro permite identificar os elementos presentes e determinar suas quantidades.

a energia cinética dos elétrons aumente, o detector EDS mede a energia e cria um espectro. A análise do espectro permite identificar os elementos presentes, porém não permite determinar suas quantidades.

eles emitam raios X, o detector EDS mede a energia dos raios X emitidos e cria um espectro. A análise do espectro permite identificar os elementos presentes, porém não permite determinar suas quantidades.

eles emitam raios X, o detector EDS mede a energia dos raios X emitidos e cria um espectro. A análise do espectro permite identificar os elementos presentes e determinar suas quantidades.

eles emitam raios gama, o detector de EDS mede a energia dos raios gama emitidos e cria um espectro. A análise do espectro permite identificar os elementos presentes e determinar suas quantidades.

Método computacional usado para analisar dados de difração de raios X de materiais não cristalinos, para obter informações detalhadas sobre a morfologia e outras propriedades do material. O método compara um perfil de difração teórico com o perfil experimental, refinando os parâmetros estruturais do modelo até que haja uma boa concordância entre os dois perfis.

Método computacional usado para analisar dados de difração de raios X de materiais cristalinos, para obter informações detalhadas sobre a estrutura cristalina e outras propriedades do material. O método compara um perfil de difração experimental de referência com o perfil experimental estudado, refinando os parâmetros estruturais do modelo até que haja uma boa concordância entre os dois perfis.

Método computacional usado para analisar dados de difração de raios X de materiais cristalinos, para obter informações detalhadas sobre a estrutura cristalina e outras propriedades do material. O método compara um perfil de difração teórico com o perfil experimental, refinando os parâmetros estruturais do modelo até que haja uma boa concordância entre os dois perfis.

Método computacional usado para analisar dados de difração de raios gama de materiais cristalinos, para obter informações detalhadas sobre a estrutura cristalina e outras propriedades do material. O método compara um perfil de difração teórico com o perfil experimental, refinando os parâmetros estruturais do modelo até que haja uma boa concordância entre os dois perfis.

Método computacional usado para analisar dados de difração de raios gama de materiais cristalinos, para obter informações detalhadas sobre a estrutura cristalina e outras propriedades do material. O método compara um perfil de difração experimental de referência com o perfil experimental estudado, refinando os parâmetros estruturais do modelo até que haja uma boa concordância entre os dois perfis.

Técnica que combina a microscopia eletrônica de varredura e de transmissão para obter informações em diferentes escalas de comprimento; (I) SEM e (II) TEM.

Técnica que combina a microscopia eletrônica de varredura e de transmissão para obter informações em diferentes escalas de comprimento; (I) TEM e (II) SEM.

Técnica que combina a microscopia óptica, geralmente na região do infravermelho, com a microscopia eletrônica para obter informações em diferentes escalas de comprimento; (I) SEM e (II) TEM.

Técnica que combina a microscopia óptica, geralmente com fluorescência, com a microscopia eletrônica para obter informações em diferentes escalas de comprimento; (I) SEM e (II) TEM.

Técnica que combina a microscopia óptica, geralmente de fluorescência, com a microscopia eletrônica para obter informações em diferentes escalas de comprimento; (I) TEM e (II) SEM.

Obter um difratograma de raios X da amostra utilizando um difratômetro de raios X, analisar os picos obtidos (posição 2θ e intensidade do pico), identificar as fases usando o ICDD (International Centre for Diffraction Data). As fases obtidas indicam a composição qualitativa da amostra e somente a análise de Rietveld pode dar informações qualitativas.

Obter um difratograma de raios X da amostra utilizando um difratômetro de raios X, analisar os picos obtidos (posição 2θ e intensidade do pico), identificar as fases usando o ICDD (International Centre for Diffraction Data). As fases obtidas indicam a composição qualitativa da amostra e somente a análise de Rietveld pode dar informações quantitativas.

Obter um difratograma de raios X da amostra utilizando um difratômetro de raios X, analisar os picos obtidos (posição 2θ e intensidade do pico), identificar as fases usando o ICDD (International Centre for Diffraction Data). As fases obtidas indicam a composição qualitativa da amostra, e a largura dos picos a meia altura é usada em sua análise quantitativa.

Obter um difratograma de raios X da amostra utilizando um difratômetro de raios X, analisar os picos obtidos (posição 2θ e intensidade do pico), identificar as fases usando o ICDD (International Centre for Diffraction Data). A altura ou intensidade relativa dos picos é usada para determinar as fases presentes, e a largura dos picos a meia altura é usada na análise quantitativa da amostra.

Obter um difratograma de raios X da amostra utilizando um difratômetro de raios X, analisar os picos obtidos (posição 2θ e intensidade do pico), identificar as fases usando o ICDD (International Centre for Diffraction Data). As fases obtidas indicam a composição qualitativa da amostra, e a intensidade relativa dos picos é usada em sua análise quantitativa.

30,0 µm.

3,0 µm.

1,3 µm.

13,0 nm.

13,0 µm.

Deformação axial simétrica (1); deformação axial assimétrica (4); deformação angular simétrica (2); deformação simétrica fora do plano (3).

Deformação axial simétrica (1); deformação axial assimétrica (4), deformação angular simétrica (2) e deformação assimétrica fora do plano (3).

Deformação axial simétrica (4); deformação axial assimétrica (1), deformação angular simétrica (2) e deformação assimétrica fora do plano (3).

Deformação angular simétrica (1); deformação angular assimétrica (2); deformação axial fora do plano (6). 

Deformação axial simétrica (1); deformação axial assimétrica (2); deformação angular fora do plano (3); deformação simétrica dentro do plano (4).

óptica de alta resolução de (HRLM) que permite observar a microestrutura da liga em alta ampliação, revelando a presença e distribuição dos precipitados, e não é possível obter a composição em ordens abaixo de 100 nm.

óptica de alta resolução de (HRLM) que permite observar a microestrutura da liga em alta ampliação, revelando a presença e distribuição dos precipitados, e a composição é obtida por meio de técnicas de Ressonância Magnética Nuclear (RMN) ao MET.

eletrônica de transmissão (MET) que permite observar a microestrutura da liga em alta ampliação, revelando a presença e distribuição dos precipitados, e a composição é obtida por meio de técnicas Ressonância Magnética Nuclear (RMN) associadas ao MET.

eletrônica de transmissão (MET) que permite observar a microestrutura da liga em alta ampliação, revelando a presença e distribuição dos precipitados, e a composição é obtida por meio de técnicas de difração de raios X associados ao MET – EDS.

óptica de alta resolução (HRLM) que permite observar a microestrutura da liga em alta ampliação, revelando a presença e distribuição dos precipitados, e a composição é obtida por meio de técnicas de difração de raios X associados ao MET-EDS.