Foi solicitada a caracterização estrutural completa de duas amostras, inicialmente apontadas como sendo constituídas por alumina de alta pureza. Ao término da execução das caracterizações, os resultados obtidos não se mostraram condizentes com as informações inicialmente fornecidas. Os perfis gráficos obtidos como resultado das caracterizações em questão estão exibidos a seguir.

É incorreto afirmar, como conclusão, da interpretação destes resultados que:

A fim de atender a uma aplicação industrial especíica, um determinado trabalho de pesquisaprecisa caracterizar uma amostra de Pedra Cariri para ideniicar e quaniicar a(s) fase(s)responsável(s) pela consituição da coniguração estrutural deste material rochoso, bem comoideniicar o sistema cristalino ao qual a(s) fase(s) pertence(em). Neste caso, deve-se recomendarqual técnica de caracterização aos responsáveis por este trabalho de pesquisa?

A figura exibida a seguir é a representação gráfica do resultado de um ensaio de difração de raios X realizado em uma amostra de um material desconhecido. Com base na análise deste perfil gráfico representativo de padrão de difração, é possível afirmar que o material em questão pode ser classificado como:

Para planos paralelos em um mesmo retículo cristalino, as condições necessárias para que ocorra a difração de raios X vão depender da diferença de caminho percorrida pelos raios X e do comprimento de onda da radiação incidente. Tal condição é relacionada, matematicamente, na(o):

Foi realizado um ensaio de caracterização por difração de raios X em uma amostra constituída por óxido de cério puro, na execução da qual foi empregada radiação monocromática com comprimento de onda igual a 0,1542 nanômetros. Como parte dos resultados obtidos neste ensaio, foram identificados os picos de difração que constam no padrão (difratograma) apresentado a seguir. Dentre as alternativas a seguir, sinalize a que apresenta, corretamente, os valores das distâncias interplanares relacionadas, respectivamente, aos planos cujos índices de Miller estão marcados na figura.

São consideradas limitações da técnica de caracterização por microscopia eletrônica de varredura:

Se um pesquisador precisa caracterizar suas amostras de estudo, constituídas de material metálico com retículo cristalino CFC, tipo aço inoxidável austenítico, a fim de investigar a possibilidade da presença de defeitos de empilhamento; qual deve ser a recomendação do técnico do laboratório de caracterização de materiais acerca da técnica que satisfará, de forma assertiva, a necessidade deste pesquisador?

A luz visível (energia eletromagnética) emitida por uma fonte como o Sol ou uma lâmpada vibra em todas as direções, conforme ilustrado na figura abaixo. Quando a luz é tratada como uma onda oscilante de energia eletromagnética, a direção de propagação descreve a direção na qual a frente de onda está se movendo no espaço. A direção da vibração descreve como a onda está oscilando (aqui, para cima e para baixo no plano do papel). Quando a luz não é polarizada, a direção de propagação é constante, mas apenas um plano de vibração é detectado. Neste contexto, dentre as sentenças apresentadas a seguir, assinale a única alternativa correta.

É correto afirmar que os principais componentes dos espectrômetros de raios x, são:

Os processos de preparação das amostras para a técnica de caracterização por Fluorescência de Raios X (FRX) são, normalmente, considerados como sendo relativamente fáceis porque a amostra pode ser submetida à análise em estado físico sólido como partícula única, na forma de pó ou na forma líquida. No entanto, é necessário realizar a preparação da amostra com muito cuidado, pois existem diferentes fatores ou condições que podem exercer influência sobre o resultado da análise. Dentro deste contexto de preparação de amostras para a técnica de caracterização de materiais por FRX, assinale a alternativa correta.