É sabido que a técnica de caracterização por microscopia eletrônica de varredura (MEV) trata-se de uma técnica de análise da superfície da amostra, também conhecida como análise topográfica. A imagem ilustrada a seguir representa uma fotomicrografia que foi obtida como resultado de uma análise de MEV realizada em uma amostra de α-Al₂O₃, na forma de pó, com dimensão média de tamanho de partícula abaixo de 100 nm. Neste contexto, assinale a alternativa que apresenta a técnica recomendada, de acordo com a literatura, para a preparação de uma amostra desta natureza.