Questões de Concurso Público INPE 2024 para Tecnologista Júnior I - Desenvolvimento de Sistemas Eletrônicos Digitais
Foram encontradas 12 questões
Ano: 2024
Banca:
FGV
Órgão:
INPE
Prova:
FGV - 2024 - INPE - Tecnologista Júnior I - Desenvolvimento de Sistemas Eletrônicos Digitais |
Q2516013
Eletrônica
Os semicondutores são a matéria prima dos dispositivos eletrônicos,
como diodos, TBJ, MOSFET, dentre outros.
Com relação aos materiais semicondutores, assinale a afirmativa correta.
Com relação aos materiais semicondutores, assinale a afirmativa correta.
Ano: 2024
Banca:
FGV
Órgão:
INPE
Prova:
FGV - 2024 - INPE - Tecnologista Júnior I - Desenvolvimento de Sistemas Eletrônicos Digitais |
Q2516017
Eletrônica
Ao se deparar com um componente desconhecido, um engenheiro
fez as seguintes observações:
• o componente possui 3 três terminais externos, que foram denominados A, B e C;
• com o terminal C desconectado, aplicar uma diferença de potencial (positiva ou negativa) entre os terminais A e B não faz circular corrente pelo componente;
• com o terminal B desconectado, aplicar uma diferença de potencial (positiva ou negativa) entre os terminais A e C não faz circular corrente pelo componente;
• com o terminal A desconectado, aplicar uma diferença de potencial (positiva ou negativa) entre os terminais B e C não faz circular corrente pelo dispositivo;
• enquanto aplicada uma determinada tensão negativa no terminal A, uma pequena diferença de potencial aplicada entre os terminais B e C faz surgir uma corrente entre esses dois terminais.
Com base nessas observações, o componente analisado pelo engenheiro é o
• o componente possui 3 três terminais externos, que foram denominados A, B e C;
• com o terminal C desconectado, aplicar uma diferença de potencial (positiva ou negativa) entre os terminais A e B não faz circular corrente pelo componente;
• com o terminal B desconectado, aplicar uma diferença de potencial (positiva ou negativa) entre os terminais A e C não faz circular corrente pelo componente;
• com o terminal A desconectado, aplicar uma diferença de potencial (positiva ou negativa) entre os terminais B e C não faz circular corrente pelo dispositivo;
• enquanto aplicada uma determinada tensão negativa no terminal A, uma pequena diferença de potencial aplicada entre os terminais B e C faz surgir uma corrente entre esses dois terminais.
Com base nessas observações, o componente analisado pelo engenheiro é o
Ano: 2024
Banca:
FGV
Órgão:
INPE
Prova:
FGV - 2024 - INPE - Tecnologista Júnior I - Desenvolvimento de Sistemas Eletrônicos Digitais |
Q2516022
Eletrônica
O projeto de fontes de alimentação de corrente contínua pode ser
dividido em etapas, tais como a retificação e a regulação.
É comum inserir um estágio adicional de filtragem composto por um
resistor e um capacitor, após o capacitor de filtragem original.
Tal inserção tem como objetivo principal
Tal inserção tem como objetivo principal
Ano: 2024
Banca:
FGV
Órgão:
INPE
Prova:
FGV - 2024 - INPE - Tecnologista Júnior I - Desenvolvimento de Sistemas Eletrônicos Digitais |
Q2516023
Eletrônica
Um diagrama de Nyquist mostra, no plano complexo, as informações
de ganho e fase de uma função de transferência em função da
frequência. Nesse contexto, e sabendo ainda que determinado
circuito com um amplificador operacional realimentado
positivamente comporta-se como um oscilador, o critério de
Barkhausen para a oscilação será satisfeito se o módulo do ganho de
malha direta for
Ano: 2024
Banca:
FGV
Órgão:
INPE
Prova:
FGV - 2024 - INPE - Tecnologista Júnior I - Desenvolvimento de Sistemas Eletrônicos Digitais |
Q2516024
Eletrônica
A aplicação de metodologias, como a análise de confiabilidade de
circuitos eletrônicos, desempenha um papel fundamental ao ajudar
os engenheiros a detectarem e a reduzir possíveis pontos de falha
em equipamentos e dispositivos.
Em relação ao tema, analise as afirmativas a seguir.
I. Um circuito é classificado como tendo baixa confiabilidade quando existe uma alta probabilidade de falhas ocorrerem dentro de um intervalo de tempo específico.
II. Uma medida de confiabilidade da produção de circuitos eletrônicos consiste na análise de um lote específico, submetendo uma amostra a testes de uso ao longo de um período determinado, e calculando a taxa de falhas por unidade de tempo.
III. MTBF (Média de Tempo Entre Falhas) é uma métrica de confiabilidade que mede o tempo exato que leva para um sistema falhar, fornecendo uma previsão precisa de quando as falhas ocorrerão durante sua vida útil operacional.
Está correto o que se afirma em
Em relação ao tema, analise as afirmativas a seguir.
I. Um circuito é classificado como tendo baixa confiabilidade quando existe uma alta probabilidade de falhas ocorrerem dentro de um intervalo de tempo específico.
II. Uma medida de confiabilidade da produção de circuitos eletrônicos consiste na análise de um lote específico, submetendo uma amostra a testes de uso ao longo de um período determinado, e calculando a taxa de falhas por unidade de tempo.
III. MTBF (Média de Tempo Entre Falhas) é uma métrica de confiabilidade que mede o tempo exato que leva para um sistema falhar, fornecendo uma previsão precisa de quando as falhas ocorrerão durante sua vida útil operacional.
Está correto o que se afirma em
Ano: 2024
Banca:
FGV
Órgão:
INPE
Prova:
FGV - 2024 - INPE - Tecnologista Júnior I - Desenvolvimento de Sistemas Eletrônicos Digitais |
Q2516025
Eletrônica
Para atender às normas de um projeto eletrônico, estão disponíveis
os seguintes resistores para compor o circuito:
a. Resistor 100Ω, tolerância 1%, 200ppm / ºC, encapsulamento 0603, potência: 200 mW, P/N: ERJ-P03F1000V;
b. Resistor 100Ω, tolerância 5%, 250ppm / ºC, encapsulamento 0201, potência: 50mW, P/N: CR0201-JW-101GLF.
Considerando as normas que orientam as boas práticas em confiabilidade de circuitos eletrônicos, analise as afirmativas a seguir.
I. Para garantir o correto funcionamento do circuito, a variação de resistência em condições usuais de temperatura (25ºC) não pode ultrapassar o valor de 10Ω em relação ao valor nominal; portanto, ambos os componentes são adequados para o projeto.
II. Ambos os componentes são adequados para operar com correntes de até 20mA.
III. Após o ajuste do circuito, o resistor não pode apresentar um aumento superior a 2Ω, para uma temperatura de 75ºC; portanto, ambos os componentes são adequados para o projeto.
Está correto o que se afirma em
a. Resistor 100Ω, tolerância 1%, 200ppm / ºC, encapsulamento 0603, potência: 200 mW, P/N: ERJ-P03F1000V;
b. Resistor 100Ω, tolerância 5%, 250ppm / ºC, encapsulamento 0201, potência: 50mW, P/N: CR0201-JW-101GLF.
Considerando as normas que orientam as boas práticas em confiabilidade de circuitos eletrônicos, analise as afirmativas a seguir.
I. Para garantir o correto funcionamento do circuito, a variação de resistência em condições usuais de temperatura (25ºC) não pode ultrapassar o valor de 10Ω em relação ao valor nominal; portanto, ambos os componentes são adequados para o projeto.
II. Ambos os componentes são adequados para operar com correntes de até 20mA.
III. Após o ajuste do circuito, o resistor não pode apresentar um aumento superior a 2Ω, para uma temperatura de 75ºC; portanto, ambos os componentes são adequados para o projeto.
Está correto o que se afirma em
Ano: 2024
Banca:
FGV
Órgão:
INPE
Prova:
FGV - 2024 - INPE - Tecnologista Júnior I - Desenvolvimento de Sistemas Eletrônicos Digitais |
Q2516026
Eletrônica
Quatro módulos de uma mesma placa eletrônica foram testados e
os resultados estão listados a seguir.
a. Modulo 01; quantidade de falhas: 3; horas de teste: 2500.
b. Modulo 02; quantidade de falhas: 7; horas de teste: 2500.
c. Modulo 03; quantidade de falhas: 5; horas de teste: 2000.
d. Modulo 04; quantidade de falhas: 4; horas de teste: 1000.
Considere que cada placa é composta por um módulo de cada tipo, que as falhas de cada módulo são estatisticamente independentes e que os módulos da placa eletrônica podem ser representados como um sistema em série.
Com base nessas informações, estima-se que o MTTF (Tempo Médio até a Falha) e o MTBF (Média de Tempo Entre Falhas) da placa eletrônica sejam, respectivamente,
a. Modulo 01; quantidade de falhas: 3; horas de teste: 2500.
b. Modulo 02; quantidade de falhas: 7; horas de teste: 2500.
c. Modulo 03; quantidade de falhas: 5; horas de teste: 2000.
d. Modulo 04; quantidade de falhas: 4; horas de teste: 1000.
Considere que cada placa é composta por um módulo de cada tipo, que as falhas de cada módulo são estatisticamente independentes e que os módulos da placa eletrônica podem ser representados como um sistema em série.
Com base nessas informações, estima-se que o MTTF (Tempo Médio até a Falha) e o MTBF (Média de Tempo Entre Falhas) da placa eletrônica sejam, respectivamente,
Ano: 2024
Banca:
FGV
Órgão:
INPE
Prova:
FGV - 2024 - INPE - Tecnologista Júnior I - Desenvolvimento de Sistemas Eletrônicos Digitais |
Q2516031
Eletrônica
As lógicas das saídas A<B e A=B do comparador unsigned do circuito acima são, respectivamente,
Ano: 2024
Banca:
FGV
Órgão:
INPE
Prova:
FGV - 2024 - INPE - Tecnologista Júnior I - Desenvolvimento de Sistemas Eletrônicos Digitais |
Q2516038
Eletrônica
A lógica da saída Y do multiplexador do circuito acima é
Ano: 2024
Banca:
FGV
Órgão:
INPE
Prova:
FGV - 2024 - INPE - Tecnologista Júnior I - Desenvolvimento de Sistemas Eletrônicos Digitais |
Q2516049
Eletrônica
Uma determinada indústria resolveu adicionar a sua planta um
processo que realiza o tratamento térmico de peças metálicas, para
que estas obtenham propriedades mecânicas desejadas. Esse
processo consiste na inserção de uma peça dentro de um forno
elétrico, cuja temperatura é controlada por um controlador do tipo
PI, de função de transferência dada por
Após instalação do sistema, foi executado a função “autoajuste” presente no controlador PI, que estabeleceu um par de valores iniciais para as constantes Kp e Ti do respectivo controlador.
Em seguida, o sistema passou por um teste de validação, que consistiu na execução de um degrau na referência, com intuito de verificar como o sistema seguia a temperatura pré-determinada.
Ao analisar a resposta do sistema, verificou-se que a temperatura do forno possuía tempo de subida adequado, mas com tempo excessivo para eliminação de erro de estado estacionário.
Neste caso, para melhorar a resposta transitória desse sistema, se faz necessário
Após instalação do sistema, foi executado a função “autoajuste” presente no controlador PI, que estabeleceu um par de valores iniciais para as constantes Kp e Ti do respectivo controlador.
Em seguida, o sistema passou por um teste de validação, que consistiu na execução de um degrau na referência, com intuito de verificar como o sistema seguia a temperatura pré-determinada.
Ao analisar a resposta do sistema, verificou-se que a temperatura do forno possuía tempo de subida adequado, mas com tempo excessivo para eliminação de erro de estado estacionário.
Neste caso, para melhorar a resposta transitória desse sistema, se faz necessário
Ano: 2024
Banca:
FGV
Órgão:
INPE
Prova:
FGV - 2024 - INPE - Tecnologista Júnior I - Desenvolvimento de Sistemas Eletrônicos Digitais |
Q2516050
Eletrônica
O diagrama em blocos de uma placa FPGA está mostrado na figura a
seguir.
Fonte: kit SP601 - Xilinx
Como pode nele ser observado, o recurso que não está garantidamente presente na placa é que ela
Fonte: kit SP601 - Xilinx
Como pode nele ser observado, o recurso que não está garantidamente presente na placa é que ela
Ano: 2024
Banca:
FGV
Órgão:
INPE
Prova:
FGV - 2024 - INPE - Tecnologista Júnior I - Desenvolvimento de Sistemas Eletrônicos Digitais |
Q2516053
Eletrônica
Parte do código em VHDL a seguir deve ser completada para
descrever um flip-flop JK a partir de um componente de um flip-flop
D.
Assinale a opção que completa corretamente a linha assinalada.
Assinale a opção que completa corretamente a linha assinalada.
Conheça nossos planos