Questões de Concurso Público UFAL 2016 para Físico
Foram encontradas 5 questões
Q812317
Física
Para estudar a estrutura cristalina de um substrato semicondutor
utilizado no desenvolvimento de dispositivos microestruturados,
um técnico dos Laboratórios de Microtecnologia Aplicada utiliza a
técnica de difração de raios X. Segundo indicação do fabricante
do difratômetro de raios X, que utiliza a técnica de medição na
configuração θ-2θ, conforme indicado na figura, o comprimento de
onda da radiação é 0,229 nm.
Se o técnico observou o primeiro pico de difração em 114,7°, qual é a distância interplanar da estrutura cristalina?
Se o técnico observou o primeiro pico de difração em 114,7°, qual é a distância interplanar da estrutura cristalina?
Q812323
Física
Em um experimento de interferência entre dois feixes laser foi
verificado, em um determinado ponto, que a diferença de caminho
entre eles media L. Qual é a expressão que relaciona a diferença
de fase φ com a diferença de caminho L, considerando que o
comprimento de onda do laser é λ?
Q812332
Física
Certos cristais semicondutores são sintetizados e apresentam
uma propriedade chamada atividade óptica, que é responsável por
girar a polarização de um feixe de luz polarizada ao atravessá-los
em uma determinada direção. Considere um cristal semicondutor
opticamente ativo em forma de cubo com 8 mm de aresta,
conforme mostrado na figura. Um feixe de laser incide
perpendicularmente ao plano xy do cristal com polarização – i e
emerge do outro lado com polarização + i. Qual a atividade óptica
do cristal?
Q812335
Física
O que limita a resolução espacial de um microscópio é a natureza
ondulatória da luz causando efeito de difração. Isso limita a região
espectral na microscopia tradicional para uma resolução de
200-300 nm, no melhor dos casos, com a exceção de sistemas de
fotolitografia utilizando luz ultravioleta no vácuo a que chega a
100 nm de resolução. Atualmente, para o limite da nanotecnologia,
desenvolveu-se a técnica de microscopia óptica de campo
próximo que quebra o limite de resolução de campo distante
explorando as propriedades de ondas evanescentes. Em ordem
de grandeza comparada com o comprimento de onda da luz
incidente, pode-se definir os limites para a difração de campo
próximo (difração de Fresnel) e a de campo distante (difração de
Fraunhofer) para diversas aplicações. Considerando uma fonte de
radiação no infinito, qual é a menor distância entre uma fenda
única com abertura de 0,50 mm e o anteparo de formação de
imagens para uma radiação de comprimento de onda de 500 nm
poder ser tratada como campo distante (difração de Fraunhofer)?
Q812336
Física
O processo básico para gravação de um holograma em um meio
material requer a interação de ondas esféricas espalhadas pelo
objeto com ondas planas oriundas de uma fonte coerente.
Uma vez registrado o holograma, sua visualização exige um
procedimento chamado de processo de reconstrução que envolve
essencialmente o fenômeno de